Transparent conductive oxides (TCO) are necessary as front electrode for most thin film solar cell. In our paper, transparent conducting aluminum-doped Zinc oxide films (ZnO:Al) were prepared by rf magnetron sputtering on glass (Corning 1737) substrate as a variation of the deposition condition. After deposition, the smooth ZnO:Al films were etched in diluted HCI (0.5%) to examine the electrical and surface morphology properties as a variation of the time. The most important deposition condition of surface-textured ZnO films by chemical etching is the processing pressure and the substrate temperature. In low pressures (0.9mTorr) and high substrate temperatures $({\leq}300^{\circ}C)$, the surface morphology of films exhibits a more dense and compact film structure with effective light-trapping to apply the silicon thin film solar cells.
Park, Kang-Il;Kim, Byung-Sub;Kim, Hyun-Su;Lim, Dong-Gun;Park, Gi-Yub;Lee, Se-Jong;Kwak, Dong-Joo
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.07a
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pp.143-146
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2003
Al doped Zinc Oxide(ZnO:Al) films, which is widely used as a transparent conductor in optoelectronic devices such as solar cell, liquid crystal display, plasma display panel, thermal heater, and other sensors, were prepared by using the capacitively coupled DC magnetron sputtering method. The influence of the substrate temperature, working gas pressure and discharge power on the electrical, optical and morphological properties were investigated experimentally. The consideration on the effect of doping amounts of Al on the electrical and optical properties of ZnO thin film were also carried out. ZnO:Al films with the optimum growth conditions showed resistivity of $9.42{\times}10^{-4}\;{\Omeg}-cm$ and transmittance of 90.88% for 840nm in film thickness in the wavelength range of the visible spectrum.
Park, Sewoong;Park, Taejun;Lee, Sangyeob;Chung, Choong-Heui
Korean Journal of Materials Research
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v.30
no.3
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pp.131-135
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2020
Silver nanowire (AgNW) networks have been adopted as a front electrode in Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) thin film solar cells due to their low cost and compatibility with the solution process. When an AgNW network is applied to a CIGS thin film solar cell, reflection loss can increase because the CdS layer, with a relatively high refractive index (n ~ 2.5 at 550 nm), is exposed to air. To resolve the issue, we apply solution-processed ZnO nanorods to the AgNW network as an anti-reflective coating. To obtain high performance of the optical and electrical properties of the ZnO nanorod and AgNW network composite, we optimize the process parameters - the spin coating of AgNWs and the concentration of zinc nitrate and hexamethylene tetramine (HMT - to fabricate ZnO nanorods. We verify that 10 mM of zinc nitrate and HMT show the lowest reflectance and 10% cell efficiency increase when applied to CIGS thin film solar cells.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2013.10a
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pp.390-392
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2013
The research was observed the characteristic of ZnO based oxide semiconductors for the transparent conducting display. The optical-physical properties of ZnO based oxide semiconductors) grown on p-Si wafer were presented. ZnO based oxide semiconductors was prepared by the RF magnetron sputtering system. The characteristic of ZnO based oxide semiconductorswas strongly influenced by the amount of localized electron state by the defects. The PL spectra moved to long wave number with increasing the defects in the film. The mobility of a-IGZO film was increased with increasing the oxygen gas flow rate. The resistivity of ZnO based oxide semiconductors was also related to the mobility of ZnO based oxide semiconductors, and the mobility increased at the sample with low resistivity. The electric characteristic of a-IGZO TFTs showed that it is an n-type semiconductor.
Kim, Tae-Won;Kim, Sung-Dae;Heo, Gi-Seok;Lee, Jong-Ho
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2008.06a
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pp.28-28
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2008
We have demonstrated the combinatorial synthesis of a variety of transparent conducting oxides using a combinatorial sputter system. The effects of a wide range of Nb or Zn doping rate on the optical and electrical properties of Indium-tin oxides (ITO) films were investigated. The Nb or Zn doped ITO films were fabricated on glass substrates, using combinatorial sputtering system which yields a linear composition spread of Nb or Zn concentration in ITO films in a controlled manner by co-sputtering two targets of ITO and $Nb_2O_5$ or ITO and ZnO. We have examined the work-function, resistivity, and optical properties of the Nb or Zn-doped ITO films. Furthermore, the effects of Hz plasma treatment on the physical properties of Ga or Zn doped ITO films synthesized by combinatorial sputter system were investigated.
Park, Yong-Seok;Jeong, Jin-A;Park, Ho-Kyun;Kim, Han-Ki
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2009.10a
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pp.1575-1577
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2009
We have investigated the characteristics of transparent indium zinc oxide(IZO)/Ag/IZO multilayer electrode grown on polyethylene terephthalate (PET) substrates using a specially designed roll-to-roll sputtering system for use in flexible device are described. By the continuous R2R sputtering of the bottom IZO, Ag, and top IZO layers at room temperature, we were able to fabricate an IZO-Ag-IZO multilayer electrode with a sheet resistance of 6.15 ${\Omega}$/square, optical transmittance of 87.4 %, and figure of merit value of 42.03 10-3 ${\Omega}$-1. In addition, the IZO-Ag-IZO multilayer electrode exhibited superior flexibility to the RTR sputter grown single ITO electrode, due to the existence a ductile Ag layer between the IZO layers. This indicates that the RTR sputtered IZO-Ag-IZO multilayer is a promising flexible electrode that can substitute for the conventional single ITO electrode grown by bath type sputtering for use in low cost flexible device, due to its low resistance, high transparency, superior flexibility and fast preparation by the R2R process.
The transparent electrode properties of ITO films deposited by RF magnetron sputtering with process pressure were investigated. The ITO thin films was deposited on a glass substrate using a target with 3in diameter sintered at a ratio of $In_2O_3$ : $SnO_2$ (9 : 1). 200-nm-thick ITO thin films were manufactured by various process pressures ($2.0{\times}10^{-2}$, $7.0{\times}10^{-3}$ and $2.0{\times}10^{-3}$ Torr). The optical transmittance and resistivity of the deposited ITO thin films showed a relatively satisfactory result under $10^{-2}$ Torr. For high process pressure, the optical transmittance was below 80%, while for low process pressure, the optical transmittance was above 85%. As a result of of mobility, resistivity and carrier concentration by Hall measurement, we obtained satisfactory properties to apply into a transparent conducting thin film.
Park Min-Woo;Park Kang-Il;Kim Byung-Sub;Lee Se-Jong;Kwak Dong-Joo
Korean Journal of Materials Research
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v.14
no.5
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pp.328-333
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2004
Transparent ZnO:Al conductor films for the optoelectronic devices were deposited by using the capacitively coupled DC magnetron sputtering method. The effect of Al doping concentration and discharge power on the electrical and optical properties of the films was studied. The film resistivity of $8.5${\times}$10^{-4}$$\Omega$-cm was obtained at the discharge power of 40 W with the ZnO target doped with 2 wt% $Al_2$$_O3$. The transmittance of the 840 nm thick film was 91.7% in the visible waves. Increasing doping concentration of 3 wt% $Al_2$$O_3$ in ZnO target results in significant decrease of film resistivity, which may be due to the formation of $Al_2$$O_3$ particles in the as-deposited ZnO:Al film and the reduced ZnO grain sizes. Increasing DC power from 40 to 60 W increases deposition rate by more than 50%, but can induce high defect density in the film, resulting in higher film resistivity.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.3
no.1
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pp.18-22
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2002
ITO thin films with thickness of 3000 $\AA$ were fabricated by rf magnetron sputtering system with a 10 mol % SnO$_2$-90 mol % In$_2$O$_3$target at various substrate temperature and annealing temperature in air. And we investigated structural, electrical and optical characteristics of them. It's resistivity, carrier concentration and Hall mobility was 2$\times$10$\^$-4/ Ωcm, 7$\times$10$\^$20/∼ 9$\times$10$\^$20/ cm$\^$-3/ and 21∼23 cm$^2$/V$.$sec respectively. And it's optical transmittance and energy band gap was above 85 % in the visible range and 3.53 eV respectively.
To overcome the theoretical efficiency of single-junction solar cells (> 30 %), tandem solar cells (or multi-junction solar cells) is considered as a strong nominee because of their excellent light utilization. Organic-inorganic halide perovskite has been regarded as a promising candidate material for next-generation tandem solar cell due to not only their excellent optoelectronic properties but also their bandgap-tune-ability and low-temperature process-possibility. As a result, they have been adopted either as a wide-bandgap top cell combined with narrow-bandgap silicon or CuInxGa(1-x)Se2 bottom cells or for all-perovskite tandem solar cells using narrow- and wide-bandgap perovskites. To successfully transition perovskite materials from for single junction to tandem, substantial efforts need to focus on fabricating the high quality wide- and narrow-bandgap perovskite materials and semi-transparent electrode/recombination layer. In this paper, we present an overview of the current research and our outlook regarding perovskite-based tandem solar technology. Several key challenges discussed are: 1) a wide-bandgap perovskite for top-cell in multi-junction tandem solar cells; 2) a narrow-bandgap perovskite for bottom-cell in all-perovskite tandem solar cells, and 3) suitable semi-transparent conducting layer for efficient electrode or recombination layer in tandem solar cells.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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