In Die casting process, the problem of die degradation is often issued. In oder to increase of die life the material degradation of die steel was investigated using test core pins. Three test core pins were positioned in front of the gate entry and observed washout and soldering resistance during Mg die casting process. The test parameters are set as different commercial die materials, coatings condition and hardness of die surface. Usign 220t magnesium die casting machine was employed to cast AZ91 magnesium alloys. After 150 shots, macroscopic observation of die surface was carried out. Additional 50 cycles later, test pins were chemically cleaned with 5% HCl aqueous solution to find out the existence of washout and soldering layers. Microstructural characterization of die surface and the die roughness measurement were performed together. Computational simulation using AnyCasting program was also beneficial to correlate the extent of die damage with the position of test pin inside die cavity. As results, the optimal combination of die steel with productive coating as well as its hardness was drawn out. it will be helpful to decide the material and condition considering increasing of tool life.
2G HTS coated conductor wire consists of textured substrate, buffer layer, superconduct layer, Ag cap layer, stabilizer. For practical application filed, coated conductor have mechanical and electrical stability and environment protection properties. This property Cu and stainless steel strip is laminated to Ag cap layer as stabilizer materials. Lamination process join stabilizer material strip and Ag cap layer with soldering method. we have laminated HTS with continuous dipping soldering process different stabilizer Cu and stainless steel strip and changed lamination process condition. The effect of lamination stabilizer and process condition has been investigated mechanical and electrical properties.
The growth of intermetallic compounds is an important factor in the reliability of solar cells. Especially, the temperature change in the soldering process greatly affects the thickness of the intermetallic compound layer. In this study, we investigated the intermetallic compound growth by Sn-diffusion in solder joints of solar cells. The thickness of the intermetallic compound layer was analyzed by IR lamp power and hot plate temperature control, and the correlation between the intermetallic compound layer and the adhesive strength was confirmed by a $90^{\circ}$ peel test. In order to investigate the growth of the intermetallic compound layer during isothermal aging, the growth of the intermetallic compound layer was analyzed at $85^{\circ}C$ and 85% for 500 h. In addition, the activation energy of Sn was calculated. The diffusion coefficient of the intermetallic compound layer was simulated and compared with experimental results to predict the long-term reliability.
A lamination system using reflow soldering was developed to enhance the mechanical properties of high temperature superconductor (HTS) tape. The laminated coated conductor tape was fabricated using the continuous lamination process. The mean, maximum, and minimum tensile loads in a T-peel test of the laminated coated conductor were 9.9 N, 12.5 N, and 7.6 N, respectively. The critical current ($I_c$) distributions of the non-laminated and laminated coated conductor were compared using anon-contact Hall probe method. The transport $I_c$ nearly matched the non-contact $I_c$; however, some degraded Ic regions were found on the length of 800 cm of laminated coated conductor. We confirmed that the cause of the partially degraded $I_c$ was due to an increase in line tension by (1) solidification induced by a change of composition that usually occurs in molten brass (Cu, Zn) in solder, or (2) non-homogeneity of the thickness of the coated conductor or metal tapes. We suggest that reflow soldering is a promising method for reinforced HTS tape if the controlling solder thickness and lamination guide are modified.
전기 소자 중의 하나인 퓨즈는 전기 부품에 비정상적으로 흐르게 되는 과전류로 인한 전로나 기기 보호를 위하여 사용 및 개발되고 있다. 대표적인 형태로는 유리관퓨즈가 많이 사용 되고 있는데, 최근 납이 함유된 솔더의 사용에 대한 국내 및 국제 규제가 강화 되면서 무연 솔더로의 변경으로 인한 문제가 대두 되고 있다. 본 연구에서는 유리관퓨즈의 솔더링 공정에서 솔더를 기존의 납이 함유된 솔더에서 무연 솔더로 변경 한 후, 퓨즈캡을 가용체와 솔더링할 때 용융된 솔더가 퓨즈 바깥으로 넘쳐흐르는 현상을 수치해석으로 모사하였고, 해석 결과를 바탕으로 솔더의 넘침 현상을 막을 수 있는 방안을 찾아 그 효과를 검증하였다. 검증 결과, 솔더링 실시 전에 유리관 내부의 온도를 충분히 증가시키는 것이 솔더의 넘침을 예방하는데 도움이 되며, 중력이 솔더가 흘러나가는 반대방향으로 작용하도록 솔더링을 하게 되면 넘침을 막는 데 효과가 있음을 확인하였다.
전자 패키징에 사용되는 솔더합금에 납을 함유됨으로써 인하여 야기되는 환경적 문제와 인체 유해성 때문에 Pb-Sn 합금계를 대체할 수 있는 새로운 무연 솔더 재료의 필요성이 대두되고 있다. 새로운 솔더합금의 개발에 있어서 솔더 조인트의 신뢰성이 가장 중요한 문제라고 할 수 있는데, 솔더 조인트의 신뢰성은 솔더와 기판 사이의 계면 반응 형태와 그 정도에 의해서 크게 영향을 받기 때문에 솔더와 기판 사이의 계면 현상에 관한 더 깊은 이해가 필요하게 된다 솔더링 동안 기판/솔더 계면에서 가장 먼저 생성되는 금속간 화합물의 상을 예측하기 위한 열역학적인 방법이 제안되었다. 계면 에너지와 석출 구동력의 함수로 표현되는 각각의 금속간 화합물에 대한 핵생성 활성화 에너지를 비교함으로써 활성화 에너지가 가장 낮은 금속간 화합물이 가장 먼저 생성된다고 예측하였다. 거기에 더해 에너지를 기반으로 한 계산을 통하여 솔더 조인트에서 금속간 화합물의 입자 형상을 설명하였다. 울퉁불퉁한 계면을 가진 금속간 화합물의 Jackson의 parameter 값은 2보다 작은 반면 평평한 입자의 경우 2보다 크게 된다.
한국마이크로전자및패키징학회 2001년도 Proceedings of 6th International Joint Symposium on Microeletronics and Packaging
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pp.45-47
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2001
Due to pressure from threatened legislation in Europe, consumer and governmental pressure in Japan, and glob머 market considerations in the US, there is a rapidly growing interest in lead-free solderinger, Although the move to lead free soldering seems inevitable, many problems will arise in production assembly. It is generally acknowledged that the lead-free solders available offer a much s smaller process window than lead/tin, related mainly to the higher soldering temperatures which naturally result from increases of liquidus temperatures of at least 300 C. However, raising reflow temperatures from the current 220-2300 C to 250 2600 C will lead to problems with the boards and components as well as i increasing oxidation effects. There is a need to keep reflow temperatures low without reducing solderablity. Some results on benefits of inert atmospheres are discussed in this paper. For example, testing in a nitrogen atmosphere, with 300 ppm oxygen, by the N National Physical Laboratory (NPU has revealed clear benefits for ine$\pi$mg lead-free alloys, by restoring the solderability to lead/tin levels, by enabling lower soldering temperatures. However, there has been little testing over a range of oxygen levels in nitrogen and this is an important issue in determining n nitrogen supply and oven costs. Some results are reported here from work by NPL conducted for BOC in w which solderability was evaluated for tin기ead and tin/silver/copper eutectic a alloys in a wetting balance over a range of oxygen levels form 10 ppm to 21% ( (air). The studies confirm that acceptable wetting times occur in inert atmospheres a at soldering temperatures 20 to 300 C lower than are possible in air.
Reflow process conditions were investigated for 0402 electric parts with Sn-3.0Ag-0.5Cu solders. Circle hole shape metal mask with 100 m thickness showed excellent printability. Self alignment abilities were 71% for 1005 chips, 52% for 0603 chips, and 3% for 0402 chips. Average joining strengos were 1990 gf for 1005 chips, 867 gf for 0603 chips, and 525 gf for 0402 chips. As mis-mounting angle increased, joining strength decreased. Considering self-alignment ability, mounting angle had to be under $5^{\circ}$ and contact area of the chips had to be over 40% for Pb-free soldering process for 0402 chips.
UBM-coated Si-wafer was fluxlessly soldered with glass substrate in $N_2$ atmosphere using plasma cleaning method. The bulk Sn-37wt.%Pb solder was rolled to the sheet of $100\mu\textrm{m}$ thickness in order to bond a solder disk by fluxless 1st reflow process. The oxide layer on the solder surface was analysed by AES(Auger Electron Spectroscopy). Through rolling, the oxide layer on the solder surface became thin, and it was possible to bond a solder disk on the Si-wafer with fluxless process in $N_2$ gas. The Si-wafer with a solder disk was plasma-cleaned in order to remove oxide layer formed during 1st reflow and soldered to glass by 2nd reflow process without flux in $N_2$ atmosphere. The thickness of oxide layer decreased with increasing plasma power and cleaning time. The optimum plasma cleaning condition for soldering was 500W 12min. The joint was sound and the thicknesses of intermetallic compounds were less than $1\mu\textrm{m}$.
Copper sheets has been used widely in electric and electron industry fields because they have good electric and heat conduction property of the material. And, in order to bond copper material, a kind of soldering process is generally used. But, because it is difficult to bond by soldering between overlapped thin copper sheets, so, another kind of brazing bonding process can be used in that case. But, because the brazing process needs wide bonding area, it needs heat treatment process in electric furnace. Generally, for spot welding of sheets, a conventional electric Resistance Spot Welding process(RSW) has been used, it has welding characteristics using contact resistance heating induced by electric current flow between sheets. But, because copper sheets has the low electric resistance, it is difficult to weld by electric resistance spot welding. So, in this study, an electric Resistance heated Surface Friction Spot Welding process(RSFSW) is suggested and is testified for the spot welding ability of thin copper sheets. It is known from the experimental results and simulation that the suggested spot welding process will be able to improve the spot welding ability of copper sheets by the combined three kinds of heating generated by surface friction by rotating pin, and conducted from heated steel electrode, and generated by contact resistance of electricity.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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