This study was aimed to study the effect of Zn content on the hyperfine parameters and the structural variation of $Ni_{1-x}Zn_xFe_2O_4$ for x = 0, 0.2, 0.4, 0.6, and 0.8. To achieve this, a sol-gel route was used for the preparation of samples and the obtained ferrites were investigated by X-ray diffraction, scanning electron microscopy, and $M{\ddot{o}}ssbauer$ spectroscopy. The formation of spinel phase without any impurity peak was identified by X-ray diffraction of all the samples. Moreover, the estimated crystallite size by X-ray line broadening indicates a decrease with increasing Zn content. This result was in agreement with the scanning electron microscopy result, indicating the reduction in grain growth with further zinc substitution. The room-temperature $M{\ddot{o}}ssbauer$ spectra show that the hyperfine fields at both the A and B sites decreased with increasing Zn content; however, the rate of reduction is not the same for different sites. Moreover, the best fit parameter showed that the quadrupole splitting values of B site increased from the pure nickel ferrite to the sample with x = 0.8.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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v.32A
no.8
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pp.78-85
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1995
We fabricated the Pb$_{1-0.28{\alpha}}La_{0.28}TiO_{3}$ (PLT(28)) thin film successfully by using the sol-gel method and characterized it to evaluate its potential for being utilized as the capacitor dielectrics of ULSI DRAMs. In our sol-gel process, the acetates were used as the starting materials. Through the TGA-DTA analysis, we established the excellent fabrication conditions of the sol-gel method for the PLT(28) thin film. We obtained the dense and crack-free PLT(28) thin film of 100% perovskite phase by drying at 350$^{\circ}C$ after each coating and final annealing at 650$^{\circ}C$. Its electrical properties were measured from the planar capacitors fabricated on the Pt/Ti/SiO$_{2}$/Si substrate. By the P-E hysteresis measurement, its paraelectric phase was identified and its dielectric constant and leakage current density were measured as 936 and 1.1${\mu}A/cm^{2}$, respectively. Those electrical values indicate that the PLT(28) thin film is the most successful candidate for the capacitor dielectrics of ULSI DRAMs at the present.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.11
no.2
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pp.138-145
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1998
The $(Pb_{0.9}Ca_{0.1})TiO_3$[PCT] thin films have been deposited by sol-gel processing on Si-wafer and ITO glass substrates. The creak-free films have been obtained by rapid thermal annealing at $700^{\circ}C$ for 10 minute and characterized by XRD, SEM and electrical measurements. Their tetragonality c/a was 1.041 and grain size was $0.15{\sim}0.2{\mu}m$. When the electrode system of sample was Au/PCT/ITO(MFM) and film thickness was $0.8{\mu}m$, dielectric constant, dielectric loss and Curie temperature were about 149, 0.085 and $449^{\circ}C$ at 10kHz, respectively. Spontaneous polarization $P_s$, remnant polarization $P_r$ and coercive field $E_c$ were about $5.29{\mu}C/cm^2$, $4.15{\mu}C/cm^2$ and 82kV/cm calculated by hysteresis loop.
In this report, the structural and optical properties of sol-gel derived $Mg_xZn_{1-x}O$ thin films upon changes in the composition and annealing temperature were investigated. The $Mg^{2+}$ content and the annealing temperature were varied in the range of $0{\leq}x{\leq}0.35$ and $400^{\circ}C{\leq}T{\leq}600^{\circ}C$, respectively. The films exhibited a hexagonal wurtzite structure of a polycrystalline nature. The optical transmittance exceeded 85% and the optical band gap of the film was tuned as high as 3.84 eV at a value of x = 0.35 (annealed at $400^{\circ}C$), which was evidently the maximum $Mg^{2+}$ content for the single-phase polycrystalline $Mg_xZn_{1-x}O$ thin films prepared in this experiment. The optical band gap and photoluminescence emission were tailored to the higher energy side while maintaining crystallinity without a significant change of the lattice constant.
In this study, Pb(Z $r_{0.52}$$Ti_{0.48}$) $O_{3}$ ceramic thin films were fabricated from an alkoxide-based by Sol-Gel method. Pb(Z $r_{0.52}$$Ti_{0.48}$) $O_{3}$ stock solution was made and spin-coated on the Pt/ $SiO_{2}$/Si substrate at 4000[rpm] for 30[sec.]. Coated specimens were chied at 400[.deg. C] for 10[min]. The coating process was repeated 6 times and then heat-treated at 500-800[.deg. C] and 1 hour. The final thickness of the thin films were about 4800[.angs.]. The ferroelectric perovskite phases precipitated under the sintering of 700[.deg. C] for 1 hour. Pb(Z $r_{0.52}$$Ti_{0.48}$) $O_{3}$ thin films sintered at 700[.deg. C] for 1 hour showed good dielectric and ferroelectric properties.
Pb가 10% 과잉되고 Zr : Ti = 52 : 48 조성을 갖는 PZT sol이 Pt(3500Å)/Ti(400Å)/SiO₂(3000Å)Si(525㎛)기판 위에 스핀 코팅법으로 반복 코팅된 후, 450℃에서 10분, 650℃에서 2분간 반복 열처리되었다. 이와 같이 다양한 두께로 적층된 박막은 각 시편에 대해 최종적으로 650℃ 30분 동안 어닐링 처리되었다. 제조된 PZT 박막의 두께는 4100Å에서 1.75㎛사이의 4종이었다. 이어서 스퍼터링법으로 Pt전극이 PZT 막 위에 증착되었다. 제조된 PZT 박막의 결정 구조 조사를 위해 XRD, 그리고 미세 구조 및 전기적 특성을 알아보기 위해 FESEM과 P-E 이력 곡선이 각각 관찰되었다. 4100Å에서 1.75㎛까지 두께 증가에 따른 장비상의 포화 이력 한계로 잔류 분극(Pr)값이 25μC/㎠에서 다소 감소되었다. 측정된 X선 회절 결과에서 최초 4회 코팅시 perovskite 결정 구조로 성장한 결정립은 (111)배향이 우세하었으나, 두께가 증가됨에 따라 (111)/(110)값이 감소되었으며, 이를 통해 두께 증가에 따른 (111)배향성이 다소 감소됨을 알 수 있었다. 이상의 결과로부터 제조된 PZT 박막은 큰 힘과 높은 내전압 특성을 갖는 마이크로 압전 액츄에이터에 적용될 수 있을 것으로 생각되었다.
In this study, PZT thin films were fabricated using sol-gel Processing onto $Si/SiO_2/Ti/Pt$ substrates. PZT sol with different Zr/Ti ratio(20/80, 30/70, 40/60, 52/48) were prepared, respectively. The films were fabricated by using the spin-coating method on substrates. The films were heat treated at $450^{\circ}C$, $650^{\circ}C$ by rapid thermal annealing(RTA). The preferred orientation of the PZT thin films were observed by X-ray diffraction(XRD), and Scanning electron microscopy(SEM). All of the resulting PZT thin films were crystallized with perovskite phase. The fine crystallinity of the films were fabricated. Also, we found that the ferroelectric properties from the dielectric constant of the PZT thin films were over 600 degrees, P-E hysteresis constant. And the leakage current densities of films were lower than $10^{-8}\;A/cm^2$. It is concluded that the PZT thin films by sol-gel process to be convinced of application for ferroelectric memory device.
In this study, PZT thin films were fabricated using sol-gel processing onto Si/$SiO_2$/Ti/Pt substrates. PZT sol with different Zr/Ti ratio(20/80, 30/70, 40/60, 52/48) were prepared, respectively. The films were fabricated by using the spin-coating method on substrates. The films were heat treated at $450^{\circ}C,\;650^{\circ}C$ by rapid thermal annealing(RTA). The preferred orientation of the PZT thin films were observed by X-ray diffraction(XRD), and Scanning electron microscopy(SEM). All of the resulting PZT thin films were crystallized with perovskite phase. The fine crystallinity of the films were fabricated. Also, we found that the ferroelectric properties from the dielectric constant of the PZT thin films were over 600 degrees, P-E hysteresis constant. And the leakage current densities of films were lower than $10^{-8}A/cm^2$. It is concluded that the PZT thin films by sol-gel process to be convinced of application for ferroelectric memory device.
Lee, Hee Chul;Oh, Nu Ri;Yoo, Ae Ri;Kim, Yunsung;Sakamoto, Jeff
Journal of the Korean Physical Society
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v.73
no.10
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pp.1535-1540
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2018
In this study, we prepared and characterized Nb-doped $Li_7La_3Zr_{2-x}O_{12}$ (LLZNO) powder and pellets with a cubic garnet structure by using a modified sol-gel synthesis and hot pressing. LLZNO powder with a very small grain size and cubic structure without secondary phases could be obtained by using a synthesis method in which Li and La sources in a propanol solvent were mixed together with Zr and Nb sources in 2-methoxy ethanol. A pure cubic phase LLZNO pellet could be fabricated from the prepared LLZNO and an additional 6-wt% of $Li_2CO_3$ powder by hot pressing at $1050^{\circ}C$ and 15.8 MPa. The hot-pressed LLZNO pellet with a relative density of 99% exhibited a very dense surface morphology. The total Li ionic conductivity of the hot-pressed LLZNO was $7.4{\times}10^{-4}S/cm$ at room temperature, which is very high level compared to other reported values. The activation energy for ionic conduction was estimated to be 0.40 eV.
Ozdener, Fatih;Kunapuli, Satya P.;Daniel, James L.
BMB Reports
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v.35
no.5
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pp.508-512
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2002
Phospholipase C-gamma-2 ($PLC{\gamma}2$) activation is a key signaling event for many cell functions. In order to delineate the pathways that lead to $PLC{\gamma}2$ activation, we devised a quick method for obtaining sufficient $PLC{\gamma}2$. We obtained the full-length cDNA for human $PLC{\gamma}2$ and expressed it in E. coli using the expression vector pT5T. To enhance the protein expression, tandem AGG-AGG arginine codons at the amino acid positions 1204-1205 were replaced by CGG-CGG arginine codons. The protein expression was detected in a Western blot analysis by both anti-$PLC{\gamma}2$ antibodies and the antibodies that are raised against the tripeptide epitope (Glu-Glu-Phe) tag that are genetically-engineered to its carboxyl terminal. Crude lysates that were prepared from bacteria that express $PLC{\gamma}2$ were found to catalyze the hydrolysis of phosphatidylinositol 4,5 bisphosphate. Similar to previous reports on $PLC{\gamma}2$ that is isolated from mammalian tissue, the recombinant enzyme was $Ca^{2+}$ dependent with optimal activity at 1-10 uM $Ca^{2+}$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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