1 |
S. Chakrabarti, S. Kar, A. Dev and S. Chaudhuri, Phys. Stat. Sol. (a), 202, 441 (2005)
DOI
ScienceOn
|
2 |
T. Minemoto, T. Negami, S. Nishiwaki, H. Takakura and Y. Hamakawa, Thin Solid Films, 372, 173 (2000)
DOI
ScienceOn
|
3 |
D. Zhao, Y. Liu, D. Shen, Y. Lu, J. Zhang and X. Fan, J. Appl. Phys., 90, 5561 (2001)
DOI
ScienceOn
|
4 |
E. Y. Jung, S. G. Lee, S. H. Sohn, D. K. Lee, and H. K. Kim, Appl. Phys. Lett., 86, 153503 (2005)
DOI
ScienceOn
|
5 |
J. Zhu, A. Y. Kuznetsov, M. S. Han, Y. S. Park, H. K. Ahn, J. W. Ju and I. H. Lee, Appl. Phys. Lett., 90, 211909 (2007)
DOI
ScienceOn
|
6 |
D. M. Bagnall, Y. F. Chen, Z. Zhu, T. Yao, S. Koyama, M. Y. Shen and T. Goto, Appl. Phys. Lett., 70, 2230 (1997)
DOI
ScienceOn
|
7 |
A. Ohtomo, M. Kawasaki, T. Koida, K. Masubuchi, H. Koinuma, Y. Sakurai, Y. Yoshida, T. Yasuda and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett., 72, 2466 (1998)
DOI
ScienceOn
|
8 |
R. Krump, S. O. Ferreira, W. Fashinger, G. Brunthaler and H. Sitter, Mater. Sci. Forum, 182, 349 (1995)
DOI
|
9 |
S. A. Studenikin, Michael Cocivera, W. Kellner and H. Pascher, J. Lumin., 91, 223 (2000)
DOI
ScienceOn
|
10 |
E. Tomzig and R. Helbig, J. Lumin., 14, 403 (1976)
DOI
ScienceOn
|
11 |
S. Chakrabarti, D. Ganguli and S. Chaudhuri, J. Phys. D., 36, 146 (2003)
DOI
ScienceOn
|
12 |
V. Srikant, and D. R. Clarke, J. Appl. Phys., 83, 5447 (1998)
DOI
ScienceOn
|
13 |
R. D. Shannon, Acta Crystallogr. Sect. A, 32, 145 (1976)
DOI
|
14 |
E. R. Segnit and A. E. Holland, J. Am. Ceram. Soc., 48, 412 (1965)
DOI
|
15 |
R. Gosh and D. Basak, J. Appl. Phys., 101, 023507 (2007)
DOI
ScienceOn
|
16 |
S. Heitsch, G. Benndorf, G. Zimmermann, C. Schulz, D. Spemann, H. Hochmuth, H. Schmidt, T. Nobis, M. Lorenz and M. Grundmann, Appl. Phys. A, 88, 99 (2007)
DOI
|
17 |
T. Gruber, C. Kirchner, R. Kling, F. Reuss and A. Waag, Appl. Phys. Lett., 84, 5359 (2004)
DOI
ScienceOn
|
18 |
W. I. Park, G. C. Yi and H. M. Jang, Appl. Phys. Lett., 79, 2022 (2001)
DOI
ScienceOn
|
19 |
A. K. Sharma, J. Narayan, J. F. Muth, C. W. Teng, C. Jin, A. Kvit, R. M. Kolbas and O. W. Holland, Appl. Phys. Lett., 75, 3327 (1999)
DOI
|
20 |
Y. Ogawa, and S. Fujihara, J. Electrochem. Soc., 154, 9, J283 (2007)
DOI
ScienceOn
|
21 |
Z. K. Tang, Q. K. L. Wong and P. Yu, Appl. Phys. Lett., 72, 3270 (1998)
DOI
ScienceOn
|
22 |
T. Matsumoto, H. Kato, K. Miyamoto, M. Sano and E. A. Zhukov Appl. Phys. Lett., 81, 1231 (2002)
DOI
ScienceOn
|
23 |
B. Lin, Z. Fu and Y. Jia, Appl. Phys. Lett., 79, 943 (2001)
DOI
ScienceOn
|
24 |
H. S. Kang, J. S. Kang, J. W. Kim and S. Y. Lee, J. Appl. Phys., 95, 1246 (2004)
DOI
ScienceOn
|
25 |
A. V. Dijken, E. A. Meulenkamp, D. Vanmaekelbergh and A. Meijerink, J. Lumin., 90, 123 (2000)
DOI
ScienceOn
|
26 |
E. C. Lee, Y. S. Kim, Y. G. Jin and K. J. Chang, Physica B, 308, 912 (2001)
DOI
ScienceOn
|