• 제목/요약/키워드: Sn-Pb

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조선왕실 주조 청동활자의 복원과 과학적 분석 (Restoration and Scientific Analysis of Casting Bronze Type in Joseon Dynasty)

  • 윤용현;조남철;이승철
    • 보존과학회지
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    • 제25권2호
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    • pp.207-217
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    • 2009
  • 임진왜란 이전의 청동활자인 계미자, 경자자, 을해자 등 10종을 복원하기 위하여 계축자인 동국여지승람의 복원 활자를 통하여 주조할 당시의 합금비율, 주조방법과 각 주조 단계 별 미세조직 변화를 관찰하였다. 청동활자의 평균 조성은 국립중앙박물관에서 소장하고 있는 을해자의 평균 성분조성(Cu: 86.7%, Sn: 9.7%, Pb: 2.3% 등)을 기준으로 하여 구리와 주석, 납의 합금 비율을 구리 87%, 주석 15%, 납 8%로 정하였다. 주요 금속활자를 복원하기 전에 모합금을 제작한 후 다시 모합금을 용융하여 활자를 복원하였다. 1차로 복원한 계축자의 성분조성은 Cu 85.81~87.63%, Sn 9.27~10.51%, Pb 3.05~3.19%의 범위를 보였다. 2차로 복원한 계축자는 1차 주조 후 남은 가지쇠를 용융하여 주조한 것으로서 성분조성은 Cu 87.21~88.09%, Sn 9.06~9.36%, Pb 2.80~3.05%의 범위를 보여주고 있다. 이 결과는 1차로 복원한 활자에 비하여 주석과 납의 함량이 소량 감소하였으나 국립중앙박물관 소장 을해자의 평균조성과는 큰 차이가 없는 것으로 확인되었다. 복원한 계축자의 미세조직을 관찰한 결과 청동의 전형적인 주조조직인 수지상(dendrite)조직이 잘 발달해 있으며, 납편석물들이 조직 내에 산재해 있음을 관찰할 수 있었다. 1차 주조 후 관찰한 미세조직과 남은 가지쇠를 용융하여 2차로 활자를 제작한 후 미세조직을 비교한 결과 1차로 주조한 것에 비하여 2차로 주조한 것이 일부 공석상 영역이 감소한 것으로 보이나 조직별 차이점은 발견하지 못하였다. 조선왕실 금속활자의 체계적이고 과학적인 복원 실험을 통해 활자 주조방법의 기준 및 합금조성의 비율 등을 제시할 수 있었으며 앞으로 활자 복원 연구에도 큰 도움이 될 것으로 본다.

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Sn-37%Pb solder를 도금한 Cu 박판의 점 용접성에 관한 연구 (A Study on the Spot Weldability of Sn-37%Pb Coated Cu-sheet)

  • 박창배;김미진;정재필
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제6권3호
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    • pp.45-50
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    • 1999
  • 동(CU)은 전기전자부품에 널리 사용되어 왔는데, 특히 점 저항용접된 동은 콘덴서나 저항의 리드부분에 사용되고 있다. 그러나 일반적으로 동은 전기 저항이 낮아 저항용접이 어렵다. 본 연구에서는 동의 점 용접성을 개선하기 위하여, 상대적으로 전기 저항이 높은 Sn-37%Pb 솔더를 동 표면에 도금하였다. 실험변수로, 가 압력은 100kgf에서 200kgf, 용접시간은 20ms에서 50ms, 용접전류는 100A에서 2500A까지 변화시켰다. 실험결과, 솔더 도금된 동박판은 용접전류 400~2200A, 가압력 100~200kgf, 용접시간 20~50ms범위에서 저항용접이 가능하였다. 점 용접부의 인장전단 강도는 임계 전류값까지는 용접전류가 증가함에 따라 증가하고, 임계 전류값 이후부터는 용접전류에 따라 인장전단 강도가 감소하였다.

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SnO-(1-x)$P_2O_5-xR_2O_3$ 계 유리에서 $R_2O_3$ 치환 및 용융분위기의 영향 (Effect of the Melting atmospheres for the $SnO_2-(1-x)P_2O_5-xR_2O_3$ Glass System)

  • 이영훈;지미정;이홍림
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2005년도 추계학술대회 논문집 Vol.18
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    • pp.206-207
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    • 2005
  • Display 소재로서 유전체나 격벽재 실링재로 사용되고 있는 frit는 PbO를 주성분으로 갖는 유리가 사용되고 있다. PbO 성분이 함유된(50$\sim$85%) 구성소재는 최근 RoHS 나 WEEE 등의 환경규제 실행에 직면해 있으며, 대체재료의 개발을 위한 많은 연구가 진행되고 있다 PbO 성분을 대체할 성분으로는 $Bi_2O_3$ 계, BaO-ZnO 계, $P_2O_5$ 계 등의 성분이 주요성분으로 이루어져 있으며, PbO 성분을 함유한 유리의 저융점, 저유전율, 고 투과율, 내산성, 내전압, 팽창계수 matching 등의 특성들에 부합되는 재료를 개발하기 위해 많은 노력을 기울이고 있다. 본 연구에서는 SnO-$P_2O_5$ 계 유리 조성을 선택하여 $R_2O_3$의 치환 및 용융분위기의 조절에 따른 저융점 유리로서의 특성과 효과에 대하여 고찰하였다.

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Electronic Packaging에 쓰이는 공정 조성의 Pb-Sn Solders에서 Grain Boundary Sliding과 관련된 계면파괴현상 (INTERGRANULAR FAILURE ASSOCIATED WITH BOUNDARY SLIDING IN Pb-SN EUTECTIC SOLDERS USED FOR MICROELECTRONICS APPLICATIONS)

  • 이성민
    • 한국재료학회지
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    • 제4권3호
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    • pp.334-338
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    • 1994
  • Pb-Sn eutectic bulk specimens을 thermal cycling동안 electronic package의 땜납이 격게되는 변형 조건 즉 $10^{-3}-10^{-5}$/s정도의 낮은 frequency와 0.2-1%정도의 적당한 strain range에서 피로파괴 실험을 했을때, grain boundary sliding과 관련하여 임계면을 따라 일어나는 균열이 5단계에 의해 묘사될 수 있다는 것을 보였음.

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15$0^{\circ}C$에서 시효처리한 80Sn-20Pb 합금 도금층의 파괴특성에 전착조건이 미치는 영향 (Effects of Electrodeposition condition on the fracture characteristics of 80Sn-20Pb electrodeposits aged at 15$0^{\circ}C$)

  • 김정한;서민석;권혁상
    • 한국표면공학회지
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    • 제27권5호
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    • pp.292-302
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    • 1994
  • Alloy deposits of 80Sn-20Pb, electroplated on Cu-based leadframe alloy from an organic sulfonate bath were aged at $150^{\circ}C$ to form intermetallic phases between substrate and deposit, and effects of the deposit morphology, influenced by deposition conditions, on the fracture resistance of the 80Sn-20Pb deposit aged at $150^{\circ}C$ were examined. The growth rate of intermetallic compound layer on aging depended on the microstructure of deposit ; it was fastest in deposit formed using pulse current in bath without grain refining additive, but slowest in deposit formed using dc current in bath containing grain refining additive in spite of similar structure with equivalent grain size. The grain refining additive incorporated in electrodeposit appears to inhibit diffusion of atoms on aging, resulting in slow growth of intermetallic layer in the thickness direction but substantial growth in the lateral one. Density of surface cracks that were occurring when samples were subjected to the $90^{\circ}$-bending test increased with increasing the thickness of intermatallic layer on aging. For the same aged samples, the surface crack density of the sample electrodeposited from a bath containing the grain refining additive was the least due to the inhibiting effect of the additive incorporated into the deposit during electrolysis on atomic diffusion.

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Electronic Structure and Half-Metallicity in the Zr2RuZ (Z = Ga, In, Tl, Ge, Sn, and Pb) Heusler Alloys

  • Eftekhari, A.;Ahmadian, F.
    • Journal of the Korean Physical Society
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    • 제73권9호
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    • pp.1370-1376
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    • 2018
  • The electronic structures, magnetic properties and half-metallicity in $Zr_2RuZ$ (Z = Ga, In, Tl, Ge, Sn, and Pb) alloys with $AlCu_2Mn-$ and $CuHg_2Ti$-type structures were investigated using first-principles density functional theory (DFT) calculations. The calculations showed that $Zr_2RuIn$, $Zr_2RuTl$, $Zr_2RuSn$, and $Zr_2RuPb$ compounds with $CuHg_2Ti$-type structures were half-metallic ferromagnets with half-metallic band gaps of 0.18, 0.24, 0.22, and 0.27 eV, respectively. The half-metallicity originated from d-d and covalent hybridizations between the transition metals Zr and Ru. The total magnetic moments of the $Zr_2RuZ$ (Z = In, Tl, Sn, and Pb) compounds with $CuHg_2Ti$-type structures were integer values of $1{\mu}B$ and $2{\mu}B$, which is in agreement with Slater-Pauling rule ($M_{tot}=Z_{tot}-18$). Among these compounds, $Zr_2RuIn$ and $Zr_2RuTl$ were half-metals over relatively wide regions of the lattice constants, indicating that these two new Heusler alloys are ideal candidates for use in spintronic devices.

ʼn-BGA에서 Sn-Ag-Cu 솔더의 도금층에 따른 솔더링성 연구 (A Study on Solderability of Sn-Ag-Cu Solder with Plated Layers in ʼn-BGA)

  • 신규식;정석원;정재필
    • Journal of Welding and Joining
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    • 제20권6호
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    • pp.59-59
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    • 2002
  • Sn-Ag-Cu solder is known as most competitive in many kinds of Pb-free solders. In this study, effects of solderability with plated layers such as Cu, Cu/Sn, Cu/Ni and Cu/Ni/Au were investigated. Sn-3.5Ag-0.7Cu solder balls were reflowed in commercial reflow machine (peak temp. : 250℃ and conveyer speed : 0.6m/min). In wetting test, immersion speed was 5mm/sec., immersion time 5sec., immersion depth 4mm and temperature of solder bath was 250℃. Wettability of Sn-3.5Ag-0.7Cu on Cu, Cu/Sn (5㎛), Cu/Ni (5㎛), and Cu/Ni/Au (5㎛/500Å) layers was investigated. Cu/Ni/Au layer had the best wettability as zero cross time and equilibrium force, and the measured values were 0.93 sec and 7mN, respectively. Surface tension of Sn-3.5Ag-0.7Cu solder turmed out to be 0.52N/m. The thickness of IMC is reduced in the order of Cu, Cu/Sn, Cu/Mi and Cu/Ni/Au coated layer. Shear strength of Cu/Ni, Cu/Sn and Cu was around 560gf but Cu/Ni/Au was 370gf.

$\mu-BGA$에서 Sn-Ag-Cu 솔더의 도금층에 따른 솔더링성 연구 (A Study on Solderability of Sn-Ag-Cu Solder with Plated Layers in $\mu-BGA$)

  • 신규식;정석원;정재필
    • Journal of Welding and Joining
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    • 제20권6호
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    • pp.783-788
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    • 2002
  • Sn-Ag-Cu solder is known as most competitive in many kinds of Pb-free solders. In this study, effects of solderability with plated layers such as Cu, Cu/Sn, Cu/Ni and Cu/Ni/Au were investigated. Sn-3.5Ag-0.7Cu solder balls were reflowed in commercial reflow machine (peak temp.:$250^{\circ}C$and conveyer speed:0.6m/min). In wetting test, immersion speed was 5mm/sec., immersion time 5sec., immersion depth 4mm and temperature of solder bath was $250^{\circ}C$. Wettability of Sn-3.5Ag-0.7Cu on Cu, Cu/Sn ($5\mu\textrm{m}$), Cu/Ni ($5\mu\textrm{m}$), and Cu/Ni/Au ($5\mu\textrm{m}/500{\AA}$) layers was investigated. Cu/Ni/Au layer had the best wettability as zero cross time and equilibrium force, and the measured values were 0.93 sec and 7mN, respectively. Surface tension of Sn-3.5Ag-0.7Cu solder turmed out to be 0.52N/m. The thickness of IMC is reduced in the order of Cu, Cu/Sn, Cu/Mi and Cu/Ni/Au coated layer. Shear strength of Cu/Ni, Cu/Sn and Cu was around 560gf but Cu/Ni/Au was 370gf.

낮은 최고전류밀도 조건에서 파형전류전해에 의한 Pb-Sn합금 전착층의 조성 및 조작특성 (Composition and microstructure of Pb-Sn alloy electrodeposits in pulse plating with low peak current density)

  • 예길촌;백민석
    • 한국표면공학회지
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    • 제24권2호
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    • pp.88-95
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    • 1991
  • The tin-lead alloy was electrodeposited in the low range of peak current density in order to investigate the change of composition and microstructure of them. The Pb content of alloy deposits, which was decreased with increasing average current density, was relatively lower than that of D.C. plated alloy deposit. The preferred orientation of alloy deposit was changed with increasing peak current density and the surface morphology of alloy deposits was closely related to the preferred orientation of them.

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열충격하에서의 삽입실장 부품의 신뢰성에 관한 연구 (Reliability of Insert Mounted Components under Thermal Shock)

  • 이종범;노보인;정승부
    • 대한용접접합학회:학술대회논문집
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    • 대한용접접합학회 2006년 추계학술발표대회 개요집
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    • pp.202-204
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    • 2006
  • The reliability of insert mounted components has been considered as their life time was getting increased. The spread of crack and the growth of IMC(intermetallic compound) were observed by SEM(scanning electron microscope) and EDS(energy dispersive spectroscope). The cracks in Sn-37wt%Pb under thermal shock test were found earlier than other solders(Sn-3.0wt%Ag-0.5wt%Cu and Sn-0.7wt%Cu-0.01wt%P). The IMC thickness was increased with increasing number of thermal shock cycles in the following order : Sn-0.7Cu-0.01P; Sn-3.0Ag-0.5Cu; Sn-37Pb

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