Experiment was conducted to study the effect of sources of dietary fiber on the intestinal morphology of geese. Sixty white Roman geese of two-week-old were divided randomly into six groups and were fed with isoenergetic and isonitrogenous diets which contain alfalfa meal, barley hull, rice hull, purified cellulose, lignin, or pectin as the major dietary source of fiber. Different sources of dietary fiber significantly influenced the villi height and the crypt depth in the duodenum, and the villi height and the muscle layer thickness in the ileum (p < 0.05). The duodenal villus in the geese that fed diets with alfalfa meal, rice hull or pectin supplemented were significantly longest ($968.5{\mu}m$), whereas the lignin group was significantly shortest villus and deepest crypt depth (p < 0.05). The thicknesses of the ileal and caecal muscle layer were significantly thicker in the geese fed with cellulose supplemented diets than in those fed with the other treatment diets. The caecum of the barley bran fed geese possessed significantly longest villi and the most thick muscle layers (p < 0.05). From scanning electronic microscopic observation, the leafy and plate-like in the duodenal villi morphology of geese represented a more effective nutrient absorption in the small intestine. The morphology of ileal villi in geese was similar from herbivorous rabbit and from the African Green monkey.
본 연구는 해석도화기대신 주사기를 이용해서 항공사진 양화필름을 주사하여 영상처리 기법으로 정밀한 수치지형모델을 구현하고자 하였다. 평상형 주사기와 원통형 주사기를 이용해서 상이한 해상력으로 항공사진양화필름을 주사하여 자동상관기법을 이용해서 영상처리 기법으로 표고를 구하여 1:5,000지형도에서 $50^m{\times}50^m$ 격자를 사용해서 구한 표고값과 비교하였다. 그 결과 주사기로 얻은 고해상도의 항공사진 수치영상을 이용한 경우의 표고는 1:5,000 지형도에 의한 수치지형모델로 구한 표고값에 근접함을 알 수 있었다.
Up to date, the dual scanning method has been adopted to decrease address-ing period in AC PDP. In this case, addressing period can be reduced, but the driving circuit cost should be increased. In this study, to increase addressing speed we have studied the relationship between addressing speed and cell structure. That is to say, we varied the thickness of dielectric layer on the front glass, the thickness of white back and the height of barrier rib on the rear glass. So, we found that the addressing time was decreased 4% with decreasing 5um thickness of dielectric layer on the front glass and 2um thickness of white back on the rear glass. Also in case of decreasing the height of barrier rib, addressing time was decreased about 4% per 10um.
To investigate the characteristics of the single dendrimer molecule, we attempt to measure morphology and electrical properties of the self-assembled dendrimer on Au (111)substrate with SPM(scanning probe microscopy). The same self-assembly procedure was used for two different concentrations, $10{\mu}mol/ml$ and $100{\mu}mol/ml$. The case of lower concentration, we can measure the diameter and the height of the single molecule with the tapping mode AFM image. The imaged single molecules were dome shaped and the average diameter and height were 15.6 nm, 1.2 nm respectively. From these sizes, we can calculate the volume of the single molecule. The volume of the single molecule was estimated about $116nm^3$. However, that of higher concentration, it is difficult to obtain obvious image of the single molecule. To add to, I-V characteristics were investigated using STM, on which the phenomenon of negative differential resistance (NDR)was observed between 0.14 V and 0.24 V reproductively.
We evaluated the optimal conditions for fluidization of nickel oxide (NiO) and its reduction into high-purity Ni during hydrogen reduction in a laboratory-scale fluidized bed reactor. A comparative study was performed through structural shape analysis using scanning electron microscopy (SEM); variance in pressure drop, minimum fluidization velocity, terminal velocity, reduction rate, and mass loss were assessed at temperatures ranging from 400 to $600^{\circ}C$ and at 20, 40, and 60 min in reaction time. We estimated the sample weight with most active fluidization to be 200 g based on the bed diameter of the fluidized bed reactor and height of the stocked material. The optimal conditions for NiO hydrogen reduction were found to be height of sample H to the internal fluidized bed reactor diameter D was H/D=1, reaction temperature of $550^{\circ}C$, reaction time of 60 min, superficial gas velocity of 0.011 m/s, and pressure drop of 77 Pa during fluidization. We determined the best operating conditions for the NiO hydrogen reduction process based on these findings.
The Directed Energy Deposition (DED) is a representative metal additive manufacturing method. Owing to its strong point of repairment, its application is gradually spreading in aerospace applications, power generation, military components, and mold making. 5-axis cladding is needed to repair damage, such as wear and scratches on cylindrical surfaces to circular-shaped parts, including sleeves and liners. Furthermore, the condition of cladding on inclined parts must also be considered to prevent interference between the nozzle and the part. In this study, the effects of changes in scanning speed due to the 5-axis control system and differences from the height of laser beam irradiation due to inclination are evaluated among the items that should be additionally considered in 5-axis cladding compared to 3-axis cladding. Moreover, the trends of the width and height of the clad are identified by different tilting angles via single line cladding. Lastly, cladding methods on cylindrical surfaces at various angles are proposed to enhance the clad quality and post-processing efficacy. These results can be applied with 5-axis cladding on inclined surfaces, including cylindrical surfaces.
국내 간척지에서 생장한 양마(kenaf)의 생장기관과 높이에 따른 해부학적 특성을 광학현미경과 주사전자현미경(SEM)을 사용하여 관찰하였다. 2006년 5월에 파종한 케나프를 동년 7, 8, 9,10월 총 4회에 걸쳐 채취하고, 각 생장기간 별로 3, 35, 70, 105 cm의 높이에서 시료를 채취하여 실험을 실시하였다. 사부에는 인피섬유, 방사조직, 사관이 존재하였고 목부에는 도관, 목섬유, 방사조직과 수가 존재하였다. 목질부의 도관은 산재상으로 고립관공과 방사복합관공이 혼재하였고 도관상호간벽공은 교호상 벽공의 형태가 관찰되었다. 또한 목부의 방사조직은 단열, 복열 및 다열방사조직이 혼재하였고 방사유세포의 형태는 직립, 평복, 방형세포가 모두 존재하였다. 생장기간이 길어질수록 사부와 목부가 증가하였고 수심부가 감소하였으며, 인피섬유의 층수와 사부방사조직이 증가하였다. 그리고 사부에 있어서 형성층부위에 가까운 인피섬유의 층이 외층부의 인피섬유의 층보다 더 크고 세포수가 많았다. 또한 생장기간이 길어질수록 접선단면에서 다열방사조직이 많이 관찰되었다. 생장 높이가 높아질수록 사부가 증가하였고 목부가 감소하였으며, 인피섬유의 층수와 사부방사조직이 감소하였다. 그리고 생장높이가 높아질수록 접선단면에서 단열방사조직이 많이 관찰되었다.
The three-dimensional measurement method of confocal systems is a spot scanning method which has a high resolution and good illumination efficiency. However, conventional confocal systems had a weak point in that it has to perform XY axis scanning to achieve FOV (Field of View) vision through spot scanning. There are some methods to improve this problem involving the use of a galvano mirror [1], pin-hole array, etc. Therefore, in this paper we propose a method to improve a parallel mode confocal system using a micro-lens and pin-hole array in a dual microscope configuration. We made an area scan possible by using a combination MLA (Micro Lens Array) and pin-hole array, and used an objective lens to improve the light transmittance and signal-to-noise ratio. Additionally, we made it possible to change the objective lens so that it is possible to select a lens considering the reflection characteristic of the measuring object and proper magnification. We did an experiment using 5X, 2.3X objective lens, and did a calibration of height using a VLSI calibration target.
Silicon carbide (SiC) is an attractive material for high-power, high-temperature, and high-frequency applications. So far, atomic force microscopy (AFM) has been extensively used to study the surface charges, dielectric constants and electrical potential distribution as well as topography in silicon-based device structures, whereas it has rarely been applied to SiC-based structures. In this work, the surface potential and topography distributions SiC with different doping levels were measured at a nanometer-scale resolution using a scanning kelvin probe force microscopy (SKPM) with a non-contact mode AFM. The measured results were calibrated using a Pt-coated tip and a metal defined electrical contacts of Au onto SiC. It is assumed that the atomically resolved surface potential difference does not originate from the intrinsic work function of the materials but reflects the local electron density on the surface. It was found that the work function of the Au deposited on SiC surface was higher than that of original SiC surface. The dependence of the surface potential on the doping levels in SiC, as well as the variation of surface potential with respect to the schottky barrier height has been investigated. The results confirm the concept of the work function and the barrier heights of metal/SiC structures.
Jo, Taeyong;Kim, KwangRak;Kim, SeongRyong;Pahk, HeuiJae
Journal of the Optical Society of Korea
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제18권3호
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pp.236-243
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2014
Surface profiling and film thickness measurement play an important role for inspection. White light interferometry is widely used for engineering surfaces profiling, but its applications are limited primarily to opaque surfaces with relatively simple optical reflection behavior. The conventional bucket algorithm had given inaccurate surface profiles because of the phase error that occurs when a thin-film exists on the top of the surface. Recently, reflectometry and white light scanning interferometry were combined to measure the film thickness and surface profile. These techniques, however, have found that many local minima exist, so it is necessary to make proper initial guesses to reach the global minimum quickly. In this paper we propose combing reflectometry and white light scanning interferometry to measure the thin-film thickness and surface profile. The key idea is to divide the measurement into two states; reflectometry mode and interferometry mode to obtain the thickness and profile separately. Interferogram modeling, which considers transparent thin-film, was proposed to determine parameters such as height and thickness. With the proposed method, the ambiguity in determining the thickness and the surface has been eliminated. Standard thickness specimens were measured using the proposed method. Multi-layered film measurement results were compared with AFM measurement results. The comparison showed that surface profile and thin-film thickness can be measured successfully through the proposed method.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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