Proceedings of the Safety Management and Science Conference
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2011.11a
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pp.551-556
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2011
This research presents an implementation strategy of Process Capability Index (PCI) according to the types of process characteristics. The types of process feature are classified as four perspectives of variation range, time period, error position, and process stage. The paper examines short-term or long-term PCI, within or between variation, position of precision or accuracy, and inclusion of measurement or calibration stage. Moreover, the study proposes normality test of unilateral PCI.
A moving average model, LMA(q) and an autoregressive-moving average model, NLARMA(p, q), with Laplacian marginal distribution are constructed and their properties are discussed; Their autocorrelation structures are completely analogus to those of Gaussian process and they are partially time reversible in the third order moments. Finally, we study the mixing property of NLARMA process.
Communications for Statistical Applications and Methods
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v.21
no.4
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pp.327-334
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2014
Various modified GARCH(1, 1) models have been found adequate in many applications. We are interested in their continuous time versions and limiting properties. We first define a stochastic integral that includes useful continuous time versions of modified GARCH(1, 1) processes and give sufficient conditions under which the process is exponentially ergodic and ${\beta}$-mixing. The central limit theorem for the process is also obtained.
This paper considers a recent environment in the manufacturing process in which data in large amounts can be obtained on-line in real-time. Under this environment an on-line real-time Statistical Process Control (SPC) scheme equipped with detection of a process change, change-point estimation, and recognition of the change pattern is proposed. The proposed SPC scheme is composed of a Cusum chart, filtering methods and Akaike Information Criterion (AIC). We examine the performance of this scheme by Monte Carlo simulation and show its usefulness.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1997.11a
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pp.185-188
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1997
The influence of slow cooling and annealing time in $O_2$ during melting and growth step in MPMG process on J$_{c}$ was investigated. Through the measurement of J$_{c}$ SEM and XRD, it can be observed that the critical characteristics were related with the slow cooling time and annealing time in 02 for melting and growth step of MPMG process. The distribution of critical current density with slow cooling time was the porabolic form and the value of J. was the highest at the 40 hour slow cooling time. And also, the value of J$_{c}$, along the annealing time in $O_2$ in the case of the slow cooling time 40 hour was inclined to increase with annealing time. Consequently, it can be suggested that proper slow cooling titre and annealing time along slow cooling in MPMG process be important to improve the critical characteristics.stics.
Recently, many companies and organizations are interested in predictive process monitoring for the efficient operation of business process models. Traditional process monitoring focused on the elapsed execution state of a particular process instance. On the other hand, predictive process monitoring focuses on predicting the future execution status of a particular process instance. In this paper, we implement the function of the business process remaining time prediction, which is one of the predictive process monitoring functions. In order to effectively model the remaining time, normalization by activity is proposed and applied to the predictive model by taking into account the difference in the distribution of time feature values according to the properties of each activity. In order to demonstrate the superiority of the predictive performance of the proposed model in this paper, it is compared with previous studies through event log data of actual companies provided by 4TU.Centre for Research Data.
In this paper, control problems of computer kitchen systems are studied, which are widely used to automate test dyeing processes. To reduce the process time and avoid collision, a simplified real time control scheme Is proposed using Windows 98 environments Using two robots and applying proposed control scheme, the process time was reduced more than 30% for a given recipe in comparison with one robot machine
For higher component density per chip, it is necessary to identify and control the semiconductor manufacturing process more stringently. Recently, neural networks have been identified as one of the most promising techniques for modeling and control of complicated processes such as plasma etching process. Since wafer states after each run using identical recipe may differ from each other, conventional neural network models utilizing input factors only cannot represent the actual state of process and equipment. In this paper, in addition to the input factors of the recipe, real-time tool data are utilized for modeling of 64M DRAM s-poly plasma etching process to reflect the actual state of process and equipment. For real-time tool data, we collect optical emission spectroscopy (OES) data. Through principal component analysis (PCA), we extract principal components from entire OES data. And then these principal components are included to input parameters of neural network model. Finally neural network model is trained using feed forward error back propagation (FFEBP) algorithm. As a results, simulation results exhibit good wafer state prediction capability after plasma etching process.
As the market rapidly changes, the speed of new product development is highlighted as a critical element which determines the success of firms. While firms endeavor to accelerate the development speed, frequent iterations in a development process hinders the effort of acceleration. For this reason, many previous researches tried to find the optimal structure of the development process which minimizes the number of iterations. However, such researches have a limitation in that they can be applied to only a single-project environment. In a multi-project environment, waiting time induced by lack of resources also delays the process as well as the iterations do. In this paper, we propose dynamic sequencing method focusing on both iterations and waiting time for reducing the durations of development projects in a multi-project environment. This method reduces the waiting time by changing the sequence of development tasks according to the states of resources. While the method incurs additional iterations, they are expected to be offset by the reduced waiting time. The results of simulation show that the dynamic sequencing method dramatically improves the efficiency of a development process. Especially, the improvement is more salient as projects are more crowded and the process is more unbalanced. This method gives a new insight in researches on managing multiple development projects.
Korean Journal of Computational Design and Engineering
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v.17
no.2
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pp.111-122
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2012
Capacity planning plays an important role not only for master production plan but also for facility or layout design in shipbuilding. Product work breakdown structure, attributes of production resources, and production method or process data are associated in order to make the discrete event simulation model of shipyard layout plan. The production amount of each process and the process time is assumed to be stochastic. Based on the stochastic discrete event simulation model, the production capacity of each facility in shipyard is estimated. The stochastic model of product arrival time, process time and transferring time is introduced for each process. Also, the production capacity is estimated for the assumed master production schedule.
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