• Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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• 2015.05a
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• pp.73-74
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• 2015

본 연구에서는 상호간의 고용도가 없는 Mo, Cu 재료의 합금화가 용이하도록 기계적 합금화법(Mechanical Alloying)을 이용하여 Mo-Cu 합금분말을 제조하였고, 준안정상태의 구조의 유지가 가능한 방전 플라즈마 소결법(Spark Plasma Sintering)을 이용하여 합금타겟을 제작하였다. Mo-Cu 박막을 제작하기 위해서 합금타겟을 이용하였고 스퍼터링 공정을 진행하여 박막을 제작하였다. 그 결과 Mo-10wt%Cu 단일타겟을 이용하여 제작한 박막의 경우 Ar : N 분위기에서 27.7GPa 로 가장 높은 경도값을 가지는 것을 확인하였다. 또한 Mo-5wt%Cu 단일타겟을 이용하여 Ar : N 분위기에서 제작한 박막은 건식조건에서의 마찰계수값이 0.69 로 가장 낮은 것을 확인할 수 있었으며 윤활조건(GF4)에서는 Mo-10wt%Cu 단일타겟을 이용하여 Ar : N 분위기에서 제작한 박막이 0.56 으로 가장 낮았다.

• Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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• 2015.05a
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• pp.41-42
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• 2015

폴리머 기판상 밀착력 향상과 증착되는 금속 박막의 전기적 특성 향상에 대한 연구를 수행하였다. 박막의 밀착력 향상을 위해 선형이온소스를 이용하여 폴리머 기판의 표면에너지 증대를 도모하였다. 폴리머 기판의 표면에너지 제어를 통해 증착된 박막의 밀착력 평가는 테이프 테스팅법을 적용하였고 전처리 전후 밀착력이 향상됨을 확인하였다. 또한 일반적인 마그네트론 스퍼터링의 경우 상온에서 증착되는 금속 박막의 결정성이 낮다는 한계점을 극복하기 위해, 플라즈마 보조 마그네트론 스퍼터링 방법을 적용하여 증착되는 박막의 결정성 향상을 통해 증착된 Cu 박막의 전기적 특성 향상을 얻을 수 있었다. 박막의 결정성 향상을 통해 전기적 특성은 10% 이상 향상됨을 확인하였다.

• Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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• 2015.05a
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• pp.95-95
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• 2015

IGZO (Indium Gallium Zinc Oxide) 물질은 기존에 사용되던 Amorphous Silicon에 비해 전자 이동도가 더욱 빠르기 때문에 차세대 디스플레이 재료로서 각광받고 있으며, 이러한 빠른 전자 이동도는 디스플레이 소자에 있어서 매우 중요한 요소 중 하나이다. 이를 향상시키기 위하여 본 연구에서는 ICP(inductively coupled plasma) antenna를 이용하여 rf power와 requency를 변화함으로써 박막 증착 시 발생되는 플라즈마의 특성을 조절하여, 박막의 특성을 조절하고자 했다. 이렇게 증착된 IGZO 박막은 Hall Effect Measurement를 이용하여 전기적 특성을 분석하였으며, XPS(x-ray photoelectron spectroscopy)를 이용하여 박막의 조성을 분석하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 1994.11a
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• pp.243-245
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• 1994

We synthesized the conducting diamond-like carbon films using plasma-enhanced chemical vapor deposition and analysized its characteristics. We obtained the metal-containing diamond-like carbon films using $CH_4$, Ar gas and aluminum target. We observed the changes of electrical conductivity, microhardness and surface morphology according to $Ar/CH_4$ ratio, substrate bias and target bias. As the target bias and $Ar/CH_4$ ratio increase and the substrate bias decreases, the electrical conductivity and surface roughness increase. The increase of hardness involves decrease of the electrical conductivity. Metal-containing amorphous hydrogenated carbon films show improved adhesion on metal substrates compared to pure diamond-like carbon films and better electrical conductivity.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2007.07a
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• pp.1367-1368
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• 2007

We prepared Zinc Oxide thin films introducing Ag layer on glass substrates at room temperature by using facing targets sputtering (FTS) method. In order to obtain good electrical properties, Ag layer was introduced. Ag with various thickness of thin films were used as intermediate layers. The electrical, optical and crystallographic properties of thin films were investigated by Four-Point probe, UV/VIS spectrometer and XRD. From the results, we could confirm that the thickness of Ag layer changes the electrical and optical performances of the multilayers.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.07a
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• pp.417-420
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• 2004

The electrical effects of dry-etch on n-type GaN by an inductively coupled $Cl_2/CH_4/H_2/Ar$ plasma were investigated as a function of ion energy, by means of ohmic and Schottky metallization method. The specific contact resistivity(${\rho}_c$) of ohmic contact was decreased, while the leakage current in Schottky diode was increased with increasing ion energy due to the preferential sputtering of nitrogen. At a higher rf power, an additional effect of damage was found on the etched sample, which was sensitive to the dopant concentration in terms of the ${\rho}_c$ of ohmic contact. This was attributed to the effects such as the formation of deep acceptor as well as the electron-enriched surface layer within the depletion layer. Furthermore, thermal annealing process enhanced the ohmic and Schottky property of heavily damaged surface.

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.9 no.1
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• pp.24-29
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• 2000

MgO thin films were deposited on soda lime glass substrates by rf magnetron sputtering using a MgO target at various oxygen flow ratios in order to probe the relationship between MgO film properties and discharge characteristics. MgO films have a tendency to form microstructures with a preferred growth orientation of (200) with increasing oxygen flo ration up to 0.1 $O_2$/(Ar+$O_2$). MgO film obtained at 0.1[$O_2$/(Ar+$O_2$)] was found to be fully stoichiometric. The stoichiometric MgO film was observed to have relatively very clean surface and grains of large size and contain almost no hydroxyl group. The AC PDP with fully stoichiometric MgO film showed lower firing and sustain voltages than those with magnesium-rich or oxygen-rich MgO films, being largely attributed to the larger grain size and the minimized hydroxyl group.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2010.02a
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• pp.419-419
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• 2010

최근 AC-PDP의 효율향상을 위해 MgO Protective Layer 위에 별도의 기능막(Functional Layer)을 적용하고 있으며 기능막의 재료로는 MgO 나노 입자를 사용하고 있다. 그러나 장시간 구동시 AC-PDP Panel 내에서 Plasma 방전에 의하여 MgO Protective Layer와 기능막이 방전 공간에 형성 된 이온에 의해 Sputtering 또는 재 증착 될 수 있다. 본 실험에서는 기능막이 적용된 AC-PDP Test Panel을 제작하여 장시간 구동 후 MgO Protective Layer와 기능막인 MgO 나노 입자의 재형성된 형태를 주사 전자 현미경(Scanning Electron Microscope)을 통해 Surface Profile 및 구조의 변화를 분석하고, 또한 음극선 분광 분석(Cathodoluminascence)을 통하여 방전 영역과 비방전 영역의 delay time, 방전전압 및 효율 등의 전기 광학적 특성과의 관계를 분석하고자 한다.

• Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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• 2012.05a
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• pp.145-146
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• 2012

Al이 2wt% 첨가된 AZO(Al-doped ZnO) 타겟을 기판을 가열한 대향 타겟 마그네트론 스퍼터링법을 이용하여 수소 유량에 따라 유리기판 위에 AZO 박막을 증착하였다. 수소 유량에 따른 AZO 박막내의 carrier concentration와 mobility의 변화를 확인하였으며 박막내 crystallinity와 grain size의 변화를 확인하였다. 증착된 AZO 박막 특성의 구조적, 전기적, 광학적 변화조사하고 비저항 및 광투과도 등을 분석하여 투명전극용으로 적합한지 연구하였다.

• Korean Journal of Metals and Materials
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• v.48 no.3
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• pp.268-275
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• 2010

A new approach is described for preparing AlN thin films containing various amounts of Co content by using a two-facing targets type sputtering (TFTS) system. The deposited films were annealed isothermally at different temperatures and their microstructure, magnetic properties and resistivity were investigated. A small saturation magnetization ($4{\pi}Ms=0.52{\sim}0.85kG$) was observed irrespective of Co content in the asdeposited films. It was found that annealing conditions can control physical properties as well as the microstructure of the films. A high saturation magnetization (3.7 kG) and resistivity of $2200{\mu}{\Omega}-cm$ was obtained for AlN films containing 25 at.% Co.