본 논문에서는 편광소자를 이용하는 스펙클패턴 전단간섭법(shearography)에서 각각 90도의 위상천이를 가지는 4개의 스펙클 패턴을 얻고, 이로부터 스펙클패턴의 각 지점에서의 위상을 얻을 수 있는 방법을 설명하고, 제안된 방법에 사용되는 파장판의 방위각에 의한 위상오차를 Jones 행렬을 이용하여 분석하였다.
본 연구에서는 크레인 훅을 광탄성 재료의 일종인 '포토플렉스'를 이용, 2차원으로 모델링하여 힘을 가하였을 경우, 최대 압축 및 인장 응력이 발생되는 선상에서 광탄성실험법, 단순 곡선보 이론 및 유한요소법을 이용하여 응력을 측정하고 계산하였다. 특히, 광탄성 실험은 재래식 측정법에 의한 타디보간법, 프릭지 세선처리법 그리고 최근 개발된 4단계 위상이동법 등 세 가지 방법을 이용하였다. 광탄성 4단계 위상이동범은 주응력 방향, 즉 등경선이 일정한 선상에서는 연속적인 응력분포를 얻을 수 있는 장점이 있다. 크레인 훅에서 주응력 방향이 일정한 선상에 발생된 응력은 3가지 서로 다른 광탄성 실험법에 의해 측정된 길과가 잘 일치하였다 광탄성법에 의한 결과는 훅의 끝단 부근을 제외하고는 단순곡선보 이론이나 유한요소 해석결과와 대체적으로 비슷하였으나, 정확히 일치하지는 않았다. 이러한 차이는 크레인 훅의 실제 시편의 곡률등 형상과 하중조건이 단순곡선보 이론이나 유한요소 모델링 형상과 약간 다르기 때문에 나타난 것으로 추정된다. 광탄성실험법은 형상이 불규칙하고 하중조건이 복잡할 경우 실제 발생되는 응력을 전체적으로 정밀하게 측정할 수 있으므로 응력해석에 대한 이를 및 수치해석 법을 검증하는데 활용될 수 있다.
Le, Thanh Bang;Piao, Meilan;Jeong, Jong-Rae;Jeon, Seok-Hee;Kim, Nam
Journal of the Optical Society of Korea
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제19권1호
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pp.22-28
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2015
We propose a new method for improving the phase contrast of a multiphase digital holographic microscope using a spatial light modulator (SLM). Using the SLM as the annulus, our method improves the light contrast of the object edge to achieve higher accuracy. We demonstrate a digital holographic microscopy technique that provides a 30% improvement in the phase contrast compared to conventional microscopy, which utilizes a mechanical annulus. The phase-contrast improvement allows the 3D reconstructed hologram to be determined more precisely.
본 논문에서는 전압원 인버터의 출력전압 파형을 개선하기 위한 새로운 이중접속 3상 전압원 인버터를 제안한다. 보조회로의 단상인버터로 리플전압을 발생시키고 이를 기존의 12-스템 인버터에 주입함으로서 12-스템 동작이 36 스템 동작으로 전환된다. 한편, 출력 측의 결합용 위상 변압기로서 커플링 리액터를 도입하여 변압기의 KVA용 량을 감소시킨다. 또한 본 방식을 포함한 전체의 정류기-인버터 시스템을 제안하고, 실험에 의해 본 방식의 타당성을 입증한다.
거친 표면의 형상을 측정하기 위해서 큰 등가파장 회절격자간섭계를 구성하였다. 제안된 시스템은 두 개의 투과회적격자를 사용해서 두 광을 측정물체에 각각 다른 각으로 경사지게 입사시켜서, 그 입사각에 따른 큰 등가파장의 간섭무늬를 얻는다. 이런 등가파장 간섭계는 기존의 광학 간섭계보다 넓은 영역에 걸쳐서 거친 표면을 빠른 시간에 측정할 수 있다. 제안된 시스템은 편광광속분할기와, 광속분할기, 프리즘을 사용해서, 불필요한 광을 제거하는 부분을 설계하여, 회절격자의 불필요한 회절광을 최소화하고, 회절격자의 형상으로 인한 시스템 오차를 줄였다. 뿐만 아니라, 큰 작동거리를 가지며 정렬이 쉽다. 측정정밀도를 향상시키기 위하여 위상편이법을 도입하였고, 등가파장보정법을 제안하였다. 실험을 통해서 측정시스템을 평가해보았다.
ESP(Electronic Speckle Pattern Interferometry) is an optical technique to measure deforamtion of engineering components and materials in industrial areas. ESPI, a non-contact and non-destructive measuring method, is capable of providing full-field results with high spatial resolution and high speed. One of important application aspects using electronic speckle pattern interferometry is to generate contours of a diffuse object in order to provide data for 3-D shape analysis and topography measurement. The electronic speckle contouring is suitable for providing measurement range from millimeters to several centimeters. In this study, we introduce the contouring method by modified dual-beam speckle pattern interferometer and a shift of the two illumination beams through optical fiber in order to obtain the contour fringe patterns. Before the experiments, we performed the geometric analysis for dual-beam-shifted ESPI contouring. And by this geometric analysis, we performed the electronic speckle contouring experiment. We used 4-frame phase shifting method with PZT for quantitative analysis of contour fringes. Finally, we showed good agreements between the geometric analysis and experimental results.
Park, Yoon-Chang;Park, Chul-Geun;Ahn, Seong-Joon;Kang, Moon-Ho;Ahn, Seung-Joon
Journal of the Optical Society of Korea
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제13권2호
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pp.251-255
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2009
In the non-contact 3-dimensional (3D) shape measurements, the fringe pattern projection method based on the phase-shifting technique has been considered very effective for its high speed and accuracy. The digital fringe projector in particular has great flexibility in generating fringe patterns since the patterns can be controlled easily by the computer program. In this work, we have developed a high-speed digital laser grating projection system using a laser diode and a polygon mirror, and evaluated its performance. It has been demonstrated that all the optical measurements required to find out the profile of a 3D object could be carried out within 31 ms, which confirmed the validity of our 3D measurement system. The result implies the more important fact that the speed in 3D measurement can be enhanced remarkably since, in our novel system, there is no device like a LCD or DMD whose response time limits the measurement speed.
Kim, Koung-Suk;Kang, Young-June;Rho, Kyung-Wan;Ryu, Weon-Jae
Journal of Mechanical Science and Technology
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제14권7호
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pp.715-721
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2000
Residual stress is one of the causes which makes defects in engineering components and materials. These residual stresses can occur in many engineering structures and can sometimes lead to premature failures. There are commonly used methods by which residual stresses are currently measured. But these methods have a little damage and other problems; therefore, a new experimental technique has been devised to measure residual stress in materials with a combination of electronic laser interferometry, laser heating and finite element method. The electronic laser interferometer measures in-plane deformations while the laser heating and cooling provides for very localized stress relief. FEM is used for determining the heat temperature and other parameters. The residual stresses are determined by the amount of strain that is measured subsequent to the heat-up and cool-down of the region being interrogated. A simple model is presented to provide a description of the method. In this paper, the ambiguity problem for the fringe patterns has solved by a phase shifting method.
We presented a new method to obtain four speckle interferograms with relative phase shift of $\pi$/2 by passive devices such as waveplate and polarizer, calculate the phase at each point of the speckle interferogram in shearography using Wollaston prism, which can be applied to the deformation evaluation of semiconductor devices, and theoretically demonstrated the feasibility of the proposed method by Jones matrix.
Electronic Speckle Pattern Interferometry(ESPI) has been used to measure surface deformations of engineering components and materials in industrial areas. ESPI, a non-contact and non-destructive technique, is capable of providing full-field results with high spatial resolution and high speed. One of the important application using electronic speckle pattern interferometry is electronic speckle contouring of a diffused object for 3-D shape analysis and topography measurement. Generally the electronic speckle contouring is suitable for providing measurement range from millimeters to several centimeters. In this study, we introduce the contouring method by modified dual-beam speckle pattern interferometer and the shift of the two illumination beams through optical fiber in order to obtain the contour fringe patterns. We also describe formation process of depth contour fringes and grid contour fringes by shifting direction of the two illumination beams. Before the experiments, we performed the geometric analysis for dual-beam-shifted ESPI contouring, and then, the electronic speckle contouring experiment with various specimens. For quantitative analysis of the contour fringes, we used 4-frame phase shifting method with PZT Finally, good agreement between the geometric analysis and experimetal results is obtained.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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