• 제목/요약/키워드: Pattern of Errors

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분류오차유발 패턴벡터 학습을 위한 학습네트워크 (Learning Networks for Learning the Pattern Vectors causing Classification Error)

  • 이용구;최우승
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제10권5호
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    • pp.77-86
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    • 2005
  • 본 논문에서는 분류오차를 추출하고 학습하여 분류성능을 개선하는 LVQ 학습 알고리즘을 설계하였다. 제안된 LVQ학습 알고리즘은 초기기준백터의 학습을 위해 SOM을 이용하고, LVQ 출력뉴런의 부류지정을 위하여 out-star 학습법을 사용하는 학습네트워크이다. 분류오차가 발생되는 패턴백터로 추출하기 위하여 오차유발조건을 제안하였고, 이 조건을 이용하여 분류오차를 유발시키는 입력패턴벡터로 구성되는 패턴백터공간을 구성하여 분류오차가 발생되는 패턴백터를 학습시키므로 분류오차수를 감소시키고, 패턴분류성능을 개선하였다. 제안된 학습알고리즘의 성능을 검증하기 위하여 Fisher의 Iris 데이터와 EMG 데이터를 학습백터 및 시험 백터로 사용하여 시뮬레이션 하였고, 제안된 학습방식의 분류 성능은 기존의 LVQ와 비교되어 기존의 학습방식보다 우수한 분류성공률을 확인하였다.

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A Tow-stage Recognition Approach Based on Error Pattern Hypotheses for Connected Digit Recognition

  • Oh, Wook-Kwon;Un, Chong-Kwan
    • The Journal of the Acoustical Society of Korea
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    • 제15권3E호
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    • pp.31-36
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    • 1996
  • In this paper, a two-stage recognition approach based on error pattern hypotheses is proposed to reduce errors of a connected digit recognizer. In the approach, a conventional recognizer is first used to produce N-best candidate strings, and then error patterns are hypothesized by examining the candidate strings. For substitution error pattern hypotheses, error-pattern-dependent classifiers having more discriminative power than the first-stage classifier are used ; and for insertion and deletion errors, word duration and energy contour information are exploited are exploited to discriminated confusing pairs. Simulation results showed that the proposed approach achieves 15% decrease in word error rate for speaker-independent Korean connected digit recognition when a hidden Markov model-based recognizer is used for the first-stage classifier.

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Enhancement of Pattern Fidelity for Metal Layer in Attenuated PSM Lithography by OPC

  • Lee Hoong Joo;Lee Jun Ha
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2004년도 학술대회지
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    • pp.784-786
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    • 2004
  • Overlap errors and side-lobes can be simultaneously solved by the rule-based correction using scattering bars with the rules extracted from test patterns. Process parameters affecting the attPSM lithography simulation have been determined by the fitting method to the process data. Overlap errors have been solved applying the correction rules to the metal patterns overlapped with contact/via. Moreover, the optimal insertion rule of the scattering bars has made it possible to suppress the side-lobes and to get additional pattern fidelity at the same time.

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한국어 학습자 대상 관형격 조사 '의'의 교육 내용 재고: 학습자 말뭉치에 나타난 오류를 바탕으로 (A Study to Rethink the Components of Teaching Korean Genitive Particle '의': Based on the Errors in Korean Learners' Corpus)

  • 이수현;심지영
    • 한국산업융합학회 논문집
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    • 제26권3호
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    • pp.443-454
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    • 2023
  • The purpose of this study is to reveal the Korean learners' usage pattern of '의', the genitive particle, according to semantic classification, so that it can be referred to in determining the contents and methods of related education. The method of this study adopts a quantitative analysis using learners corpus established by National Institute of Korean Language. As a result of the analysis, as proficiency increases, the overall frequency of '의' increases and the number of meaning senses used increases. However, the frequency of errors also increases with it. As for the usage pattern of each sense, the meaning of 'ownership, belonging' is the most frequent, and followed by 'acting entity', 'kinship, social relations', and 'relationship(area)'. In conclusion, the meanings of 'acting subjects' and 'relationships(area) need to be supplemented with explicit education. Other meanings need to be discussed, and decisions should be made in consideration of learning purpose and proficiency.

미세 패턴 롤 금형 가공시스템의 온도변화가 가공정밀도에 미치는 영향 연구 (Influence upon Machining Accuracy of Micro-Pattern Roll Mold Processed by Temperature Variation)

  • 제태진;박상천;이강원;노진석;최두선;황경현
    • 소성∙가공
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    • 제18권2호
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    • pp.107-111
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    • 2009
  • Temperature variation happens in micro prism roll mold processing system during machining the prism pattern roll mold using manufacturing optical films of LCD (liquid crystal display). This temperature variation induces pitch errors of the prism patterns. The temperature variation displaces the positions of the diamond cutting tool on the roll which was coated by the copper. In order to prevent the pitch errors, the stabilizing the temperature of machining environment is needed. Therefore, the researching on the temperature variation of the ultra-precision roll mold processing system on the machining of micro prism rot 1 mold is needed. In this paper, the temperature variation of micro prism roll mold processing system is researched, the influence is analyzed, and the study for reducing the pitch errors carried out.

VHDL 행위-레벨 설계의 코딩오류 검출을 위한 패턴 생성 (Pattern Generation for Coding Error Detection in VHDL Behavioral-Level Designs)

  • 김종현;박승규;서영호;김동욱
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제38권3호
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    • pp.185-197
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    • 2001
  • 최근 VHDL 코딩 및 합성방법에 의한 설계가 널리 사용되고 있다. 집적도가 증가함에 따라 VHDL에 의한 설계 또한 그 분량이 증가하여 많은 코딩오류가 발생하고 있으며, 이를 검색하는데 많은 시간과 노력이 소요되고 있다. 본 논문에서는 VHDL 행위-레벨 설계를 대상으로 코딩오류를 검색하는 방법을 제안하였다. 그 방법에 있어서는 검색패턴을 생성하여 오류가 없는 응답과 설계의 응답을 비교함으로써 설계오류를 찾는 방법을 택하였다. 따라서 본 논문에서는 코딩오류를 검색하기 위한 검색패턴을 생성하는 알고리듬을 제안하였다. 검색패턴 생성은 각 코드에 대해 수행하며, 할당오류와 조건오류를 구분하여 수행하였다. 패턴생성을 위해 VHDL 코드를 CDFG로 변환하여 사용하며, CDFG상의 경로를 탐색하여 패턴생성에 필요한 정보를 추출한다. 경로탐색은 오류가 발생하였다고 가정한 지점으로부터 역방향 탐색과 정방향 탐색을 수행하여 패턴을 생성한다. 제안한 알고리듬은 C-언어로 구현하였다. 펜티엄-Ⅱ 400MHz의 환경에서 여러 가지 VHDL 행위-레벨 설계를 대상으로 제안한 알고리듬을 적용하였다. 그 결과, 고려한 모든 설계의 모든 코드에 대한 검색패턴을 생성할 수 있었으며, 가정한 모든 오류를 검색할 수 있었다. 검색패턴 생성에 소요되는 시간은 고려한 모든 대상 설계에서 1초 미만의 CPU 시간을 보여 속도면에서도 매우 우수함을 나타내었다. 따라서 본 논문에서 제안한 검색방법은 VHDL에 의한 설계에서 설계검증에 필요한 시간과 노력을 상당히 감소시킬 것으로 기대된다.

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연속된 데이터를 위한 에러패턴 ROM 압축 기법 (An Error Pattern ROM Compression Method for Continuous Data)

  • 양병도;김이섭
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권8호
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    • pp.99-104
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    • 2004
  • 본 논문에서는 연속적인 데이터를 위한 새로운 에러패턴 ROM(error pattern ROM: EP-ROM) 압축 기법이 제한되었다. EP-ROM은 연속적인 데이터를 근사값과 에러로 나눈 후 에러 대신 에러패턴의 인덱스를 저장함으로써 ROM의 크기를 줄인다. 이 기법은 연속된 데이터를 양자화할 때의 많은 경우 같은 에러패턴을 가진다는 특징을 이용한 것으로 ROM의 크기를 매우 작게 줄일 수 있다. 실험결과에서는 EP-ROM은 다양한 연속적인 데이터에 대하여 ROM 크기를 60∼77% 줄였다.

고등학교 1학년 함수단원 문제해결에서의 오류에 대한 분석 (An analysis of errors in problem solving of the function unit in the first grade highschool)

  • 문혜영;김응환
    • 한국학교수학회논문집
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    • 제14권3호
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    • pp.277-293
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    • 2011
  • 본 논문은 수학문제해결 과정에서 고등학교 1학년 학생들이 공통적으로 범하는 실수 즉 오류를 분석을 통하여 수학의 교수학습방법의 보완을 위한 범례를 제시하고자 한다. 교사들 에게 제공되는 학생들의 수학적 지식에 대한 이해 정도 및 쉽게 빠지는 오류, 수학문제에 접근하는 방법 및 잘못된 해결 전략 등의 정보는 대체로 학생들의 오류를 분석함으로써 얻어 질 수 있다. 실제로 많은 학생들이 고교수학을 어렵게 느끼는데 그 중 특히 '함수'문제에서 막연한 어려움과 부담감을 느끼며 함수와 관련된 문제풀이에서 많은 실패를 겪고 있다. 구체 적으로 본 연구에서는 고등학교 1학년 학생들의 함수단원 문제해결 과정에서 보이는 오류를 분석하여 함수단원 수학문제해결능력을 키우고자 충남의 ${\bigcirc}{\bigcirc}$고등학교 1학년 학생 90명을 대상으로 함수단원 8문제로 구성된 검사지를 풀게 하고 그것을 토대로 오류를 분석하였다. 그 결과 학생들의 오류에서 몇 가지 공통적인 패턴이 있음을 발견하고 이것을 7가지 오류 분류 패턴을 설정하고 이를 분석하여 이를 보완할 수 있는 방법을 탐구하였다. 본 연구에서 나타난 결과를 토대로 학교현장에 투입하여 수학교육의 개선에 도움이 되길 기대한다.

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우반구 손상 환자의 한글 실서증 특징 (Korean Agraphia Subsequent to Right Hemispheric Lesion)

  • 윤지혜;신지철;김덕용;서미경;김향희
    • 음성과학
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    • 제13권3호
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    • pp.121-132
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    • 2006
  • In Hangeul, the graphemes of syllables are organized in horizontal, vertical and mixed (both horizontal & vertical) orientations, and the graphemic position of consonant(s) and vowel(s) within a each syllable needs to be maintained within a square pattern. We investigated the characteristics of writing errors of 9 stroke patients with right hemisphere (RH) lesions and compared it to the performances of 15 normal subjects. The subjects were asked to write to dictation of 90 Korean syllables. One of the interesting findings was that our patients manifested visuospatial errors which are not commonly observed in other language-speaking (e.g., English) patients due to the unique syllabic organizations of Korean writing system. The prominent errors in the RH group could be explained by the impaired RH which normally controls the visuospatial functions.

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LCD 백라이트 도광판의 광학 특성에 대한 연구 (Analysis on Optical Characteristics of LCD Backlight LGP)

  • 사종엽;박종렬
    • 대한기계학회논문집A
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    • 제28권4호
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    • pp.362-369
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    • 2004
  • LGP(Light-Guide Panel) of LCD backlight is one of the major componets which affect on the product quality of LCD. The optical relation between brightness and pattern has been investigated for LGP with the uniform distribution of brightness. When given the brightness distribution as target, the solutions of pattern distribution is not unique. Each solution of pattern designs shows the different brightness intensity even though they have the same brightness distribution with target's one. The manufacturing condition of pattern has an influence on the possibly-maximum-brightness intensity among the solutions of pattern design. The present study has examined the effects of LGP thickness, pattern shape errors, and reflection film on the optical characteristics of LGP.