• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2011.08a
• /
• pp.330-331
• /
• 2011

희토류 이온이 첨가된 형광체는 조명, 정보 디스플레이, 태양 에너지 변환 소자에 응용 가능하기 때문에 상당한 주목을 받고 있다. 특히, 결정 입자의 형상과 크기는 산업체 응용에 있어서 중요한 변수 중의 하나이다. 구형의 형광체 입자는 형광층의 광학 및 기하학적 구조를 최적화 시킬 수 있고, 결정 입자의 크기는 양질의 코팅을 위해 필요한 결정 입자의 양에 영향을 미친다. 본 연구에서는, $YVO_4$ 모체 결정에 Eu 이온의 농도를 선택적으로 주입하여 발광 효율이 높은 적색 형광체를 합성하고자 한다. 형광체 분말 시료는 활성체인 Eu의 함량을 0.00, 0.05, 0.10, 0.15, 0.20 mol로 변화시키면서 고상 반응법을 사용하여 합성하였다. 볼밀링 작업을 수행한 후에, 60$^{\circ}C$에서 20시간 건조하였고, 잘게 갈아서 체로 걸러낸 다음에 세라믹 도가니에 넣고 전기로에서 서서히 온도를 승온시켜 500$^{\circ}C$에서 10시간 동안 하소를 실시한 후에 1,100$^{\circ}C$에서 5시간 동안 소결하였다. Eu 이온의 함량비를 변화시켜 합성한 $YVO_4$ : Eu 형광체 분말 시료의 발광 세기의 변화, 결정 구조와 표면 형상을 각각 PL과 PLE, XRD, FE-SEM 장치를 사용하여 측정한 결과들을 종합해 볼 때, Eu 이온의 비가 0.15 mol일때 발광 세기가 최대값을 나타냄을 알 수 있었으며, 더욱 Eu의 함량을 증가시키자 농도 억제 현상에 의하여 발광 세기는 급격히 감소함을 보였다. SEM으로 촬영한 결정 입자의 형상의 경우에, Eu 이온의 함량비가 증가함에 따라 결정 입자들이 더욱 조밀하게 구형에 가까운 형상을 나타냄을 관측할 수 있었다(Fig. 1). 형광체 분말의 형광 스펙트럼의 경우에, 619 nm에 주 피크를 갖는 적색 형광 스펙트럼들이 관측되었으며, Eu 이온의 함량비에 따라 형광 세기는 상당한 의존성을 나타내었다(Fig. 2). Eu 함량에 따른 결정입자의 크기, 형광 세기와 회절 피크의 반치폭 사이의 상관 관계를 제시하고자 한다.

• Journal of Sensor Science and Technology
• /
• v.11 no.6
• /
• pp.319-326
• /
• 2002

$SrCl_2:Eu^{2+}$ phosphors were prepared by the solid phase reaction method, and their photostimulated luminescence(PSL) and photoluminescence(PL) characteristics were investigated. The PSL and PL peak of the $SrCl_2:Eu^{2+}$ phosphors are due to the $5d{\rightarrow}4f$ transition of $Eu^{2+}$ ions in phosphors. The PSL and PL spectrum obtained by the 355nm excitation was observed in $380{\sim}440\;nm$ region with the peak at 407 nm. The dose response of the PSL phosphors were linear within $2.5\;mGy{\sim}200\;mGy$ of 100 kV X-ray. The fading of the phosphors at room temperature was approximately 60% after 20 min.

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
• /
• v.27 no.2
• /
• pp.81-92
• /
• 1990

We developed the technologies of wuperlattice and HEMT structures grown by MOCVD, and their characterization. In the case of GaAs/AlGaAs superlattice, the periodicity, interface abruptness and Al compositional uniformity were confirmed through the shallow angle lapping technique and double crystal x-ray measurement. Photoluminesence spectra due to quantum size effect of isolated quantum wells were also observed. The heterojunction abruptness was estimated to be within 1 monolayer fluctuation by the analysis of the relation between PL FWHM(Full Width at Half Maximum) and well width. HEMT structure was successfully grown by MOCVD. The 2 dimensional electron gas formation at heterointerface in HEMT structure were evidenced through the C-V profile, SdH (Shubnikov-de Haas)oscillation and low temperature Hall measurement. Low field mobility were as high as $69,000cm^2/v.sec$ for a sheet carrier density of $5.5{\times}10^{11}cm^-2$ at 15K, and $41,200cm^2/v.sec$ for a sheet carrier density of $6.6{\times}10^{11}cm^-2$ at 77K. In addition, well defined SdH oscillation and quantized Hall plateaues were observed.

• 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
• /
• 2005.06a
• /
• pp.164-167
• /
• 2005

Diethnao lamine(DEA)을 함유한 수용액을 ultrasonic irradiation에 의하여 CdSe 반도체 양자점을 제조하였고 제조된 양자점의 광학적 성질을 조사하였다. CdSe 양자점 제조시 카드뮴을 제공하는 물질로는 $CdCl_2{\cdot}2.5H_2O$를, 셀레늄을 제공하는 물질로는 Se powders를 $Na_2SO_3$ 수용액에서 $90^{\circ}C$, 1시간 reflux 한 $Na_2SeSO_3$를 사용하였다. 상온에서 고출력의 초음파 조사 (20kHz, $60Wcm^{-2}$)에 의한 CdSe반도체 양자점을 얻기 위하여 초음파 시간을 각각 변화시켰고 XRD, UV-Vis, PL, TEM, XPS론 사용하여 CdSe 나노 입자의 특성을 분석하였다. CdSe흡수스펙트럼을 분석한 결과 450-640nm범위에서 양자점 형성에 의한 엑시톤 흡수 봉우리가 관찰되었음을 확인할 수 있었다. 또한 초음파 조사시간을 5분, 15분, 30분으로 증가시킴에 따라 505nm, 525nm, 545nm로서 엑시톤의 흡수 파장이 장파장 쪽으로 이동함을 확인함으로써 초음파 조사시간에 따라 CdSe 양자점의 크기를 변화시킬 수 있음을 알 수 있었다.

• Korean Journal of Materials Research
• /
• v.8 no.1
• /
• pp.38-44
• /
• 1998

RF 스퍼터링법으로 (001)Si 기판위에 AIN완충층을 성장하고, 그 위에 HVPE법으로 GaN를 성장하였다. GaN의 성장률은 103$0^{\circ}C$의 온도에서 AIN완충충의 두께가 각각 500$\AA$과 2000$\AA$ 일때 65$\mu\textrm{m}$/hr와 84$\mu\textrm{m}$/hr로서 AIN완충층의 두께가 증가함에 따라 증가하였다. AIN완충층위에서 GaN의 성장초기에는 수 $\mu\textrm{m}$크기의 결정들이 임의의 방향으로 성장된 후 성장시간이 경과함에 따라 수평방향으로의 성장에 의하여 합쳐지게 되며, c-축 방향으로 배향된 평탄한 표면을 갖는 다결정체가 성장되었다. 20K의 온도에서 측정된 광루미네센스(PL)스펙트럼에서는 3.482eV에서 자유여지자에 의한 발광과 3.7472eV에서 반치폭이 9.6meV인 도너 구속여기자 발광 및 3.27eV 부근에서의 도너-억셉터 쌍 사이의 재결합과 LO포는 복제에 의한 발광이 나타났다. 그러나 2.2eV부근에서의 황색발광은 관찰되지 않았다.

• Analytical Science and Technology
• /
• v.25 no.4
• /
• pp.214-222
• /
• 2012

ASTM (American Society for Testing and Materials) D6751-10 suggests analytical methods as well as specifications for biodiesel quality. However, it is expensive and time-consuming to follow the ASTM testing methods to analyze biodiesel and various impurities. This paper develops a quantitative analysis system for biodiesel and impurities based on Infrared spectroscopy and a multivariate statistical method, PLS (partial least squares). In addition, four different pre-processing techniques were compared for spectrum correction and noise reduction. Savitzky-Golay pre-processing showed the best performance.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2013.08a
• /
• pp.226-226
• /
• 2013

GaN는 III-V족 물질로 밴드갭이 3.4 eV으로 가시광선 영역에서 투명하며 우수한 전기적 특성으로 인해 여러 반도체 분야에서 응용되고 있는 물질이다. GaN 박막의 성장 방법으로는 molecular beam epitaxial 방법과 metal organic chemical vapor deposition 방법이 있지만 고비용인 단점이 있다. 이에 비해 sputtering 방법으로 성장시킨 GaN 박막은 비용이 적게 들고 저온에서 성장이 가능하다는 장점이 있다. 이 연구에서는 radio frequency sputter를 사용하여 GaN 박막을 성장하여 구조적, 광학적 특성을 분석하였다. GaN 박막은 각각 단일층의 그래핀과 c-축 사파이어 기판에 증착 하였으며, 이때 기판온도는 $25^{\circ}C$, $100^{\circ}C$, $200^{\circ}C$로 변화를 주었고, N2 분압은 2 sccm, 5 sccm, 10 sccm으로 변화를 주었다. 그래핀과 사파이어 기판에 성장된 각각의 GaN 박막의 결정성을 투과전자현미경 이미지로 측정하여 비교하였다. $4{\times}10^{-3}$ Torr 진공도와 50 W의 방전 전력과 Ar 10 sccm 분위기에서 20 min 동안 증착된 GaN 박막 두께는 70 nm정도를 가지는 것으로 확인하였다. X-ray Diffraction 측정으로 사파이어 기판 및 (002) 방향으로 성장된 GaN의 피크를 확인하였다. 추가적으로 Photoluminescence 스펙트럼은 N2 분압의 변화와 yellow luminescence 영향을 받는 것을 확인하였다. 본 연구를 통하여, 증착된 기판온도와 N2 분압의 변화에 따른 그래핀 및 사파이어 기판에 증착된 GaN 박막의 특성을 비교하였으며, sputtering 방법으로 고품질의 GaN 박막을 성장시킬 수 있는 가능성을 확인하였다.

• Korean Journal of Materials Research
• /
• v.8 no.8
• /
• pp.737-743
• /
• 1998

The synthesis of $SrAI_2O_4:Eu^{2+}$ phosphor and its properties of both photoluminescence and long-phosphorescent were investigated as a function of sintering condition. Single phase of $SrAl_2O_4$ was obtained by sintering the mixtures of $SrCO_3$, $Eu_2O_3$, $AI_2O_34 and 3wt% $B_2O_3$ powders over 100$0^{\circ}C$ in Ar/H2 atmosphere. The optimum sintering condition for the long-phosphorescent phosphor of $SrAI_2O_4:Eu^{2+}$ was found at 130$0^{\circ}C$ for 3hours. The PL emission spectrum of $SrAI_2O_4:Eu^{2+}$ shows a maximum peak intensity at 520nm(2.384eV) with a broad emission extending from 450 to 650nm which resulted from the $4f^65d^1$$\rightarrow$$4f^7$ transition of $Eu^{+2}$ under 360nm exitation. Monitored at 520nm. the excita¬tion spectrum of $SrAI_2O_4:Eu^{2+}$ exhibits a maximum peak intensity at 360nm (3.44eV) with a broad absorption band extending from 250 to 480nm.

• Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
• /
• v.9 no.2
• /
• pp.197-206
• /
• 1999

The stochiometric mixture of evaporating materials for the $AgInSe_2$single crystal thin films were prepared from horizontal furnace. Using extrapolation method of X-ray diffraction patterns for the $AgInSe_2$polycrystal, it was found tetragonal structure whose lattice constant $a_0$ and $C_0$ were 6.092 $\AA$ and 11.688 $\AA$, respectively. To obtain the single crystal thin films of AgInSe$_2$, the mixed crystal was deposited on thoroughly etched semi-insulator GaAs(100) substrate by HWE system. The source and substrate temperature were fixed to $610^{\circ}C$ and $450^{\circ}C$ respectively, and the thickness of the single thin films was obtained to 3.8 $\mu\textrm{m}$. The crystallization of single crystal thin films was investigated by the photoluminescence (PL) and double crystal X-ray dirrfaction (DCXD). The Hall effect was measured by the method of van der Pauw and carrier density and mobility dependence on temperature were studied. The carrier density and mobility of $AgInSe_2$single crystal thin films deduced from Hall data are $9.58{\times}10^{22} electron/m^3,\; 3.42{\times}10^{-2}m^2/V{\cdot}s$ at 293 K, respectively. From the photocurrent spectrum by illumination of perpendicular light on the c-axis of the $AgInSe_2$single crystal thin film, the spin orbit coupling $\Delta$So and the crystal field splitting $\Delta$Cr were obtained to 0.29 eV and 0.12 eV at 20 K respectively. From PL peaks measured at 20 K, 881.1 nm (1.4071 eV) and 882.4 nm (1.4051 eV) mean $E_x^U$ the upper polariton and $E_x^L$ the lower polariton of the free exciton $(E_x)$, also 884.1 nm (1.402 eV) express $I_2 peak of donor-bound exciton emission and 885.9 nm (1.3995 Ev) emerges $I_1$ peak of acceptor-bound exciton emission. In addition, the peak observed at 887.5 nm (1.3970 eV) was analyzed to be PL peak due to DAP.

• Journal of the Korean Vacuum Society
• /
• v.19 no.4
• /
• pp.293-299
• /
• 2010

Vertically aligned ZnO nanorods on Si (111) substrate were prepared by hydrothermal method. The ZnO nanorods on spin-coated seed layer were synthesized at $140^{\circ}C$ for 6 hours in autoclave and were thermally annealed in argon atmosphere for 20 minutes at temperature of 300, 500, $700^{\circ}C$. The effects of the thermal annealing on the structural and optical properties of the grown on ZnO nanorods were investigated by X-ray diffraction (XRD), field-emission scanning electron microscopy (FE-SEM), photoluminescence (PL). All the ZnO nanorods show a strong ZnO (002) and weak (004) diffraction peak, indicating c-axis preferred orientation. The residual stress of the ZnO nanorods is changed from compressive to tensile by increasing annealing temperature. The hexagonal shaped ZnO nanorods are observed. The PL spectra of the ZnO nanorods show a sharp near-band-edge emission (NBE) at 3.2 eV, which is generated by the free-exciton recombination and a broad deep-level emission (DLE) at about 2.12~1.96 eV, which is caused by the defects in the ZnO nanorods. The intensity of the NBE peak is decreased and the DLE peak is red-shifted due to oxygen-related defects by thermal annealing.