We examined the characteristics of indium tin zinc oxide (ITZO) thin film transistors (TFTs) on polyimide (PI) substrates for next-generation flexible display application. In this study, the ITZO TFT was fabricated and analyzed with a SiOx/SiNx gate insulator deposited using plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) below $350^{\circ}C$. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectroscopy (SIMS) results revealed that the oxygen vacancies and impurities such as H, OH and $H_2O$ increased at ITZO/gate insulator interface. Our study suggests that the hydrogen related impurities existing in the PI and gate insulator were diffused into the channel during the fabrication process. We demonstrate that these impurities and oxygen vacancies in the ITZO channel/gate insulator may cause degradation of the electrical characteristics and bias stability. Therefore, in order to realize high performance oxide TFTs for flexible displays, it is necessary to develop a buffer layer (e.g., $Al_2O_3$) that can sufficiently prevent the diffusion of impurities into the channel.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.22
no.12
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pp.1009-1013
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2009
In this study, we have been synthesized the dielectric layer using pure organic and organic-inorganic hybrid precursor on flexible substrate for improving of the organic thin film transistors (OTFTs) and, design and fabrication of organic thin-film transistors (OTFTs) using small-molecule organic semiconductors with pentacene as the active layer with record device performance. In this work OTFT test structures fabricated on polymerized substrates were utilized to provide a convenient substrate, gate contact, and gate insulator for the processing and characterization of organic materials and their transistors. By an adhesion development between gate metal and PI substrate, a PI film was treated using $O_2$ and $N_2$ gas. The best peel strength of PI film is 109.07 gf/mm. Also, we have studied the electric characteristics of pentacene field-effect transistors with the polymer gate-dielectrics such as cyclohexane and hybrid (cyclohexane+TEOS). The transistors with cyclohexane gate-dielectric has higher field-effect mobility, $\mu_{FET}=0.84\;cm^2/v_s$, and smaller threshold voltage, $V_T=-6.8\;V$, compared with the transistor with hybrid gate-dielectric.
Kim Jong-Hwan;Han Jin-Woo;Kim Young-Hwan;Seo Dae-Shik
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.19
no.3
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pp.255-259
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2006
In this paper, the inorganic-organic thin film encapsulation layer was newly adopted to protect the organic layer from moisture and oxygen. Using the electron beam, Sputter and Spin-Coater system, the various kinds of inorganic and organic thin-films were deposited onto the Ethylene Terephthalate(PET) and their interface properties between organic and inorganic layer were investigated. In this investigation, the SiON and Polyimide(PI) layer showed the most suitable properties. Under these conditions, the WVTR(water vapour transition rate) for PET can be reduced from level of $0.57\;g/m^2{\cdot}day$ (bare subtrate) to $1{\times}10^{-5}\;g/m^2{\cdot}day$ after application of a SiON and Polyimide layer. These results indicates that the SiON/PI/SiON/PI/PET barrier coatings have high potential for flexible organic light-emitting diode(OLED) applications.
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.56
no.1
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pp.139-141
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2007
Thin films of polyimide (Pl) were fabricated by a vapor deposition polymerization method (VDPM) and studied for the photosensitive characteristic. Polyamic acid (PAA) thin films fabricated by vapor deposition polymerization (VDP) from 6FDA and 4-4' DDE were converted to PI thin films by thermal curing. From AFM and Ellipsometer experimental, the films thickness was decreased and the reflectance was increased as the curing temperature was increased. Those results implies that thin film is uniform. From UV-Vis spectra, PI thin films showed high absorbance in 225 $\sim$ 260 [nm] region.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1997.04a
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pp.293-296
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1997
The experimental system used for vapor deposition polymerization (VDP) from PMDA (Pyromellitic dianhydride) and DDE (4, 4-diaminodiphenyl ether) were changed to PI (polyimide) thin films by thermal curing. The curing temperatures were 20$0^{\circ}C$, 25$0^{\circ}C$, 30$0^{\circ}C$, 35$0^{\circ}C$. When test number was 40, the electric breakdown strengths of PI were 1.21MV/cm, 3.94MV/cm, 4.61MV/cm, 4.55MV/cm according to curing temperatures.
In this paper Polyimide(PI) thin film are fabricated by vapor deposition polymerization(VDP) of dry process which are easy to control the film's thickness and hard to pollute due to volatile solvent. The FT-IR spectrum show that PAA thin films fabricated by VDP are changed to PI thin film by thermal curing. From AFM(Atomic Force Microscopy) experimental as the higher curing temperature. the thin film thickness decreases and roughness decresse.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.25
no.7
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pp.500-505
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2012
In this study, the influence of the intermolecular distance on the charge mobility in a pentacene thin-film was investigated. In order to increase the mobility which depends on the ${\pi}$-overlap between molecules, the intermolecular distance was shortened by compressive force along the conduction channel. Pentacene thin-film was fabricated on flexible substrates bent outward at different radii to stretch the gate dielectric surface and then the substrates were unbent, producing the compressive force to the film. The result showed that the mobility increased proportionally to the strain applied during the pentacene deposition and the molecular packing inside a grain was not optimal for the charge transport.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.18
no.1
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pp.81-88
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2005
The Langmuir monolayers of polyamic acid salts with three kinds of alkyl chains have been investigated by means of conventional $\pi$-A isotherms and second harmonic generation measurements proposed in this paper. The surface molecular density dependence of second harmonic intensity clearly shows the region of aggregation while corresponding $\pi$-A isotherm doesn't show any changes in the surface morphology at the same region. The surface morphology analysis based on the second harmonic measurement was consistent with the Brewster angle microscope measurement results.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers
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v.45
no.3
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pp.380-385
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1996
Thin films of polyamic acid(PAA) were fabricated by vapor deposition polymerization(VDP) from pyromellitic dianhydride(PMDA) and 4,4'-diamino diphenyl ether(DDE). Thin films of polyimide(PI) were obtained by curing PAA, and their dielectric properties have been measured. The uniform thin films of PI formed by curing PAA at 300 .deg. C for 1 hr. which was confirmed by Fourier transform Infrared spectroscopy(FT-IR) absorption at 720, 1380, 1780c $m_{-1}$. Relative permittivity and tan .delta. were 3.9 and 0.008 at 10kHz, respectively. (author). 8 refs., 11 figs., 1 tab.1 tab.
In this research, We fabricated Langmuir-Blodgett(LB) ultra-thin films with (N-docosyl quinolinium)- TCNQ(1:2) complex. The characteristics ${\pi}$-A isotherms were studied to find optimum conditions of deposition by varing temperature of subphase, compression speed of barrier and amount of spreading solution. Film formation was verified by measuring transfer ratio, maximum absorption of UV-vis spectra, capacitance and ellipsometry. From the results, it was concluded that the LB film formed well with molecular oder was fabricated.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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