References
- J. E. Anthony, D. L. Eaton, and S. R. Parkin, Org. Lett., 4, 15 (2002). https://doi.org/10.1021/ol0167356
- M. C. Delgado, K. R. Pigg, D. A. da Silva Filho, N. E. Gruhn, Y. Sakamoto, T. Suzuki, R. M. Osuna, J. Casado, V. Hernandez, J. T. L. Navarrete, N. G. Martinelli, J. Cornil, R. S. Sanchez-Carrera, V. Coropceanu, and J. L. Bredas, J. Am. Chem. Soc., 131, 1502 (2009). https://doi.org/10.1021/ja807528w
- J. Rivnay, L. H. Jimison, J. E. Northrup, M. F. Toney, R. Noriega, S. Lu, T. J. Marks, A. Facchetti, and A. Salleo, Nature Materials, 8, 952 (2009). https://doi.org/10.1038/nmat2570
- J. L. Bredas, J. P. Calbert, D. A. da Silva Filho, and J. Cornil, Proc. Natl. Acad. Sci., 99, 5804 (2002). https://doi.org/10.1073/pnas.092143399
- A. Dodabalapur, L. Torsi, and H. E. Katz, Science, 268, 270 (1995). https://doi.org/10.1126/science.268.5208.270
- D. Knipp, R. A. Street, and A. R. Volkel, Appl. Phys. Lett., 82, 3907 (2003). https://doi.org/10.1063/1.1578536
- W. Y. Chou, C. W. Kuo, H. L. Cheng, Y. R. Chen, F. C. Tang, F. Y. Yang, D. Y. Shu, and C. C. Liao, Appl. Phys. Lett., 89, 112126 (2006). https://doi.org/10.1063/1.2354426
- D. J. Gundlach, Y. Y. Lin, T. N. Jackson, S. F. Nelson, and D. G. Schlom, IEEE Electron Devices Lett., 18, 87 (1997). https://doi.org/10.1109/55.556089
- G. Giri, E. Verploegen, S. C. B. Mannsfeld, S. Atahan-Evrenk, D. H. Kim, S. Y. Lee, H. A. Becerril, A. Aspuru-Guzik, M. F. Toney, and Z. Bao, Nature, 480, 504 (2011). https://doi.org/10.1038/nature10683
- C. D. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mater., 14, 99 (2002). https://doi.org/10.1002/1521-4095(20020116)14:2<99::AID-ADMA99>3.0.CO;2-9
- R. Bourguiga, G. Horowitz, F. Garnier, R. Hajlaoui, S. Jemai, and H. Bouchriha., Eur. Phys. J. Appl., 19, 117 (2002). https://doi.org/10.1051/epjap:2002057
- S. E. Fritz, S. M. Martin, C. D. Frisbie, M. D. Ward, and M. F. Toney, J. Am. Chem. Soc., 126, 4084 (2004). https://doi.org/10.1021/ja049726b
- S. Steudel, S. D. Vusser, S. D. Jonge, D. Janssen, S. Verlaak, J. Genoe, and P. Heremans, Appl. Phys. Lett., 85, 4400 (2004). https://doi.org/10.1063/1.1815042
- H. L. Cheng, X. W. Liang, W. Y. Chou, Y. S. Mai, C. Y. Yang, L. R. Chang, and F. C. Tang., Organic Electronics, 10, 289 (2009). https://doi.org/10.1016/j.orgel.2008.12.002
- C. C. Mattheus, G. A. d. Wijs, R. A. d. Groot, and T. T. M. Palstra, J. Am. Chem. Soc., 125, 6323 (2003). https://doi.org/10.1021/ja0211499
- H. Klauk, G. Schmid, W. Radlik, W. Weber, L. Zhou, C. D. Sheraw, J. A. Nichols, and T. N. Jackson., Solid-State Electron., 47, 297 (2003). https://doi.org/10.1016/S0038-1101(02)00210-1