1 |
K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004).
DOI
|
2 |
H. Hosono, J. Non-Cryst. Solids., 352, 851 (2006).
DOI
|
3 |
J. Seo, K.-Y. Cho, and H. Han, Polym. Degrad. Stab., 74, 133 (2001).
DOI
|
4 |
H. Gleskova and S. Wanger, IEEE Electron Device Lett., 20, 473 (1999).
DOI
|
5 |
Y. R. Denny, K. Lee, S. Seo, S. K. Oh, H. J. Kang, D. S. Yang, S. Heo, J. G. Chung, and J. C. Lee, Appl. Surf. Sci., 315, 454 (2014).
DOI
|
6 |
T. Sziirhyi, L. D. Laude, I. Bertoti, Z. S. Geretovszky, and Z. Kantor, Apply. Surf. Sci., 96, 363 (1996).
|
7 |
J. Lee, J.-S, Park, Y. S. Pyo, D. B. Lee, E. H. Kim, D. Stryakhilev, T. W. Kim, D. U. Jin, and Y.-G. Mo, Appl. Phys. Lett., 95, 123502 (2009).
DOI
|
8 |
A. Heya and N. Matsuo, Thin Solid Films, 625, 93 (2017).
DOI
|
9 |
D. G. Yang, H. D. Kim, J. H. Kim, S. W. Lee, J. P, Y. J. Kim, and H.-S. Kim, Thin Solid Films, 638, 361 (2017).
DOI
|
10 |
K.-C. Ok, S.-H. K. Park, C.-S. Hwang, H. Kim, H. S. Shin, J. B, and J.-S. Park, Appl. Phys. Lett., 104, 063508 (2014).
DOI
|
11 |
B. Ryu, H. K. Noh, E. A. Choi, and K. J. Chang, Appl. Phys. Lett., 97, 2108 (2010).
|
12 |
Y.-H. Chang, M.-J. Yu, R.-P. Lin, C.-P. Hsu, and T.-H. Hou, Apply. Phys. Lett., 108, 033502 (2016).
DOI
|