• 한국정보통신학회논문지
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• 제17권1호
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• pp.76-89
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• 2013

본 논문에서는 RSA를 몽고메리 지수승 기반의 하드웨어로 구현함에 있어 광학 오류 주입 공격을 탐지할 수 있는 기술을 제안한다. 본 기법은 몽고메리 곱셈 기반의 연산에서 메모리 입출력에 오류가 주입되었는지 확인하기 위해 무결성 검증 절차를 구현하였으며, 곱셈 연산에는 사용되는 로직에 광학 오류 주입 탐지 기법을 적용함으로써 안전한 지수승 연산을 가능하도록 하였다. 제안한 기법은 다양한 오류에 대하여 안전한 것으로 확인되었으며, 암호화 연산 수행시간에 영향을 미치지 않으며, 전체 면적 대비 3% 미만의 오버헤드로 구현 가능하다.

• 대한전자공학회논문지TC
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• 제40권10호
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• pp.67-78
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• 2003

인터넷 트래픽의 폭발적인 증가로 인한 높은 대역폭의 요구와 광 네트워크 기술이 발전되면서 DWDM 네트워크가 국가적 혹은 범세계적인 차세대 광 인터넷(NGOI) 백본망의 대안으로 인식되고 있다. 이러한 DWDM 네트워크 기반의 NGOI에서는 RWA(Routing and Wavelength Assignment) 문제와 생존성이 중요한 이슈가 되고 있다. 특히 높은 데이터 전송율을 가지는 DWDM 네트워크에서 일어나는 짧은 서비스 파괴는 막대한 트래픽 손실을 야기하므로, AOTN에서의 fault/attack 검출, 지역화, 그리고 회복시킴은 가장 중요한 이슈 중 하나가 된다. 본 논문에서는 다양한 광 백본망 소자들의 fault/attack 취약성 분석을 통한 fault/attack 관리 모델을 제안하고, IP/GMPLS over DWDM 내의 제어프로토콜인 Extended-LMP (Link Management Protocol)와 RSVP-TE+(Resource Reservation Protocol-Traffic Engineering)를 이용하여 fault/attack 회복 절차를 제시한다.

• 제어로봇시스템학회논문지
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• 제9권3호
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• pp.251-258
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• 2003

Optical Switching Matrix (OSM) or Optical Multistage Interconnection Networks (OMINs) comprising photonic switches have been studied extensively as important interconnecting blocks for Optical Cross Connects (OXC) based on Optical Burst Switching (OBS). A basic element of photonic switching networks is a 2$\times$2 directional coupler with two inputs and two outputs. This paper is concerned with the diagnosis of multiple crosstalk-faults in OSM. As the network size becomes larger in these days, the conventional diagnosis methods based on tests and simulation become inefficient, or even more impractical. We propose a simple and easily implementable algorithm for detection and isolation of the multiple crosstalk-faults in OSM. Specifically. we develop an algorithm for isolation of the source fault in switching elements whenever the multiple crosstalk-faults arc detected in OSM. The proposed algorithm is illustrated by an example of 16$\times$16 OSM.

• 제어로봇시스템학회논문지
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• 제8권3호
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• pp.256-263
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• 2002

Optical Multistage Interconnection Networks(OMINs) comprising photonic switches have been studied extensively as important interconnecting building blocks for communication networks and parallel computing systems. A basic element of photonic switching networks is a 2$\times$2 directional coupler with two inputs and two outputs. This paper is concerned with the diagnosis of cross-talk-faults in OMINs. As the size of today's network becomes very large, the conventional diagnosis methods based on tests and simulation have become inefficient, or even more, impractical. In this paper, we propose a simple and easily implementable algorithm for detection and isolation of the single crosstalk-fault in OMINs. Specifically, we develope an algorithm fur the isolation of the source fault in switching elements whenever the single crosstalk-fault is detected in OMINS. The proposed algorithm is illustrated by an example of 16$\times$16 banyan network.

• 한국전자통신학회논문지
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• 제1권1호
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• pp.63-69
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• 2006

해저광케이블은 육상광케이블에 비해 장거리이며 광중계기 시스템으로 인해 흔히 사용하는 고장지점에서 후방으로 산란 빛으로 거리를 탐지하는 일반적인 OTDR(Optical Time Domain Reflectormeter)의 사용은 매우 제한적이다. 그래서 해저광케이블 시스템에서 광코어의 단선인 경우는 광중계기의 OTDR Path를 이용한 Coherent OTDR를 사용 고장위치 탐지하고, 광신호의 증폭을 위해 광중계기에 필요한 전력을 공급하는 해저광케이블 내의 동튜브(Copper Tube) 손상시에는 전류/전압특성, 단위정전용량등을 이용한 방법들이 사용된다. 이런 정보를 이용하여 해저광케이블의 고장 형태에 따른 적절한 탐지 기법을 제시하고자 한다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2003년도 통신소사이어티 추계학술대회논문집
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• pp.101-104
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• 2003

As optical network technology advances, the Dense-Wavelength Division Multiplexing(DWDM) networks have been widely accepted as a promising approach to the Next Generation Optical Internet (NGOI) backbone networks. Especially. a fault/attack management scheme in NGOI backbone networks is one of the most important issues because a short service disruption in DWDM networks carrying extremely high data rates causes loss of vast traffic volumes. In this paper, we suggest a fault/attack management model for NGOI backbone networks and propose a fault/attack recovery procedure in IP/GMPLS over DWDM.

• 한국통신학회논문지
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• 제40권2호
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• pp.325-333
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• 2015

본 연구는 광케이블 고장이 발생하였을 때 예상 피해 고객과 고장 처리 지연시간이 고객 불만 증가에 미치는 영향을 분석하고자 한다. 광케이블 고장을 복구시키는데 소요되는 시간, 근무 요일여부, 계절성을 함께 고려하였고, 작업자 부주의로 인한 고장, 외부 공사, 코어 단선 및 밴딩 등 관리 가능 항목 고장과 자연재해, 차량추돌, 화재 등 관리 불가능한 변수를 구분하였다. 광케이블 고장 증가의 실증 분석 결과는 다음과 같다. 첫째, 광케이블 고장에 의한 피해 고객수와 복구 시간에 대해서 생산 함수를 이용하였을 때 고객 불만이 무차별하게 증가 하는 것을 알 수 있었다. 둘째, 광케이블 고장처리 뿐만이 아니고 현장에서 관리 가능한 변수인 작업 장애, 외부 공사, 코어 단선이 발생하면 고객 불만을 증가 시켰다.

• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제13권1호
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• pp.98-106
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• 2009

This paper proposes an optical wireless transfer agent method which realizes the continuous and swift data transfer of optical wireless terminals in optical wireless networks. The unguided wireless channel generally shows frequent link disconnections and propagation delays due to weak wireless links. Specially speaking, optical wireless channels have more vulnerable links and roaming propagation delays relative to the weakness of the previous RF channels due to their low signal connectivity and small geographic coverage. Conventional optical wireless network protocols did not consider any fault models about physical link faults. Consequently, they have shown data transfer inefficiency for both data link control and physical wireless link control. To overcome these optical wireless environmental problems, this paper suggests a new wireless access point (or base station) agent system, which provides wireless or mobile clients with previous link layer protocols compensated.

• 정보보호학회논문지
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• 제19권3호
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• pp.51-59
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• 2009

중국인의 나머지 정리(Chinese Remainder Theorem, CRT)를 이용하는 RSA 암호시스템을 암호 칩에 구현 할 경우, 암호 칩에서 동작하는 과정 중에 한 번의 오류 주입으로 모듈러스 N의 비밀 소인수 p, q값이 노출될 수 있다. 본 논문에서는 상용 마이크로컨트롤러에 CRT-RSA 암호 시스템을 구현한 후, 레이저 빔과 플래시를 이용한 광학적 오류 주입 방법으로 공격을 시도하고 실험 결과를 분석하였다. 레이저 빔과 플래시를 이용한 오류 주입 공격 실험 결과, 일부 상용 마이크로 컨트롤러는 광학적 오류 주입 공격에 대해 취약한 특성으로 인해 CRT-RSA암호 시스템에 소인수 분해 공격이 적용됨을 확인하였다.

• 한국진공학회:학술대회논문집
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• 한국진공학회 2012년도 제43회 하계 정기 학술대회 초록집
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• pp.257-257
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• 2012

Fault detection was carried out in a etcher of capacitive coupled plasma with OES (Optical Emission Spectroscopy) and impedance by VI probe that are widely used for process control and monitoring at semiconductor industry. The experiment was operated at conventional Ar and Fluorocarbon plasma with variable change such as pressure and addition of N2 and O2 to assume atmospheric leak, RF power and pressure that are highly possible to impact wafer yield during wafer process, in order to observe OES and VI Probe signals. The sensitivity change on OES and Impedance by VI probe was analyzed by statistical method including PCA to determine healthy of process. The main goal of this study is to find feasibility and limitation of OES and Impedances for fault detection by shift of plasma characteristics and to enhance capability of fault detection using PCA.