Recently IR detecting devices using MEMS have been actively studied. Microbolometer, one of these devices, detects the change of resistivity as the change of temperature of the device by absorbing IR, IR absorbing materials for microbolometer should have high TCR value and low noise characteristics which depends on resistivity. We fabricated multi-layer VOx thin films to improve the IR detectivity of uncooled IR devices and analyzed IR absorbing characteristics. We fabricated multi-layer VOx thin films by RF reactive sputtering method on SiNx substrate and changed characteristics using the different thickness of V and V$_2$O$\_$5/ thin films. Then we annealed them under 300$\^{C}$. The TCR (Temperature Coefficient of Resistance) measurement was carried out to estimate the IR detectivity of multi-layer VOx thin films. XRD (X-Ray Diffraction) analysis was carried out to estimate the IR detectivity of multi-layer VOx thin films. ZXRD (X-Ray Diffraction) analysis was used to find out phases and structures of V and V$_2$O$\_$5/ thin films. AES (Auger Electron Spectroscopy) analysis was used to find out composition of multi-layer VOx thin films before and after annealing. We obtained the optimum thickness range of V and V$_2$O$\_$5/ thin films from the result of AES analysis. We changed the thickness of V$_2$O$\_$5/ about 20 to 150 $\AA$ and thickness of V about 10 to 20 $\AA$. As the result of this, TCR value of multi-layer VOx thin films was about -2%/k and the resistivity was ∼1Ωcm.
The multi-layered thin film with an ITO/Ag/ITO structure was produced on PET by using magnetron reactive sputtering method. First, 30 nm of ITO thin film was coated on PET by using normal temperature process. Then 20-52 nm of the Ag thin film was coated. Lastly, 30 nm of ITO thin film was coated on Ag layer. The sample of the 20 nm Ag thin film showed more than 70% transmission and a $2.7{\Omega}/{\Box}$ sheet resistance. When compared to the existing single-layered transparent conducting thin film, multi-layered film was found to be superior with about $5{\Omega}/{\Box}$ less sheet resistance. However, since the Ag layer became thinner, the band gap energy needs to be increased to more than 3.5 eV.
We demonstrate the hybrid polymer-quantum dot based multi-functional device (Organic bistable devices, Light-emitting diode, and Photovoltaic cell) with a single active-layer structure consisting of CdSe/ZnS semiconductor quantum-dots (QDs) dispersed in a poly N-vinylcarbazole (PVK) and 1,3,5-tirs- (N-phenylbenzimidazol-2-yl) benzene (TPBi) fabricated on indium-tin-oxide (ITO)/glass substrate by using a simple spin coating technique. The multi-functionality of the device as Organic bistable device (OBD), Light Emitting Diode (LED), and Photovoltaic cell can be successfully achieved by adding an electron transport layer (ETL) TPBi to OBD for attaining the functions of LED and Photovoltaic cell in which the lowest unoccupied molecular orbital (LUMO) level of TPBi is positioned at the energy level between the conduction band of CdSe/ZnS and LiF/Al electrode (band-gap engineering). Through transmission electron microscopy (TEM) study, the active layer of the device has a p-i-n structure of a consolidated core-shell structure in which semiconductor QDs are uniformly and isotropically adsorbed on the surface of a p-type polymer core and the n-type small molecular organic materials surround the semiconductor QDs.
In this paper, the electric properties of mercury Iodide multi-layer samples has been investigated. We measured and analyzed their performance parameters such as the X-ray sensitivity and dark-current for a mercury Iodide multi-layer X-ray detector with a dielectric layer. The digital X-ray image detector can be constructed by integrating photoconduction multi-layer that dielectric layer has characteristics of low dark-current, high X-ray sensitivity. However this process has found to have complexity on the performance of the sample. We have investigate dielectric layer that it substitute dielectric layer for HgO(Mercury Oxide). We have employed two approaches for producing the mercury Iodide sample : 1) Physical Vapor Deposition(PVD) and 2) Particle-In-Binder(PIB). In this paper fabricated by PIB Method with thicknesses ranging from approximately 180um to 240um and we could produce high-quality samples for each technique particular application. As results, the dielectric materials such as HgO between the dielectric layer and the top electrode may reduce the dark-current of the samples. Mercury Iodide multi-layer having HgO has characteristics of low dark-current, high X-ray sensitivity and simple processing. So we can acquired a enhanced signal to noise ratio. In this paper offer the method can reduce the dark-current in the X-ray detector.
We studied emission characteristics of blue fluorescent multi-tandem OLEDs using $Al/MoO_x$ as charge generation layer(CGL). Threshold voltage for 2, 3, 4, and 5 units tandem OLEDs was 8, 11, 14 and 18 V, respectively. The threshold voltage in multi-tandem OLEDs was lower than multiple of 4 V for the single OLED. Maximum current efficiency and maximum quantum efficiency of single OLED were 7.6 cd/A and 5.5%. Maximum current efficiency for 2, 3, 4, and 5 units tandem OLEDs was 22.6, 31.4, 41.2, and 46.6 cd/A, respectively. Maximum quantum efficiency for 2, 3, 4, and 5 units tandem OLEDs was 11.8, 15.8, 21.8, and 25.6%, respectively. The maximum current efficiency and maximum quantum efficiency in multi-tandem OLEDs were higher than multiple of those for the single OLED. The intensity for 508 nm peak was changed and the peak wavelength was red shift by increase of tandem unit in electroluminescent emission spectra. These phenomena can be caused by micro-cavity effect with increasing of organic layer thickness.
The multi-dielectric layer SiOz/Si3N4/SiO2(ONO) is used to scale down the memory device. In this paper, the change of composition in ONO layer due to the process condition and the conduction mechanism are observed. The composition of the oxide film grown through the oxidation of nitride film is analyzed using auger electron spectroscopy(AES). AES results show that oxygen concentration increases at the interface between oxide and nitride layers as the thickness -of the top oxide layer increases. Results of I-V measurement show that the insulating properties improve as the thickness of the top oxide layer increases. But when the thickness of the nitride layer decreases below 63.angs, insulating peoperties of film 28.angs. of top oxide and film 35.angs. turn over showing that insulating property of film 28.angs. of top oxide is better than that of film 35.angs. of top oxide. This phenomenon of turn over is thought as the result of generation of surface state due to oxygen flow into nitride during oxidation process. As the thickness of the top oxide and nitride increases, the electrical breakdown field increases, but when the thickness of top oxide reaches 35.angs, the same phenomenon of turn over occurs. Optimum film thickness for scaled multi-layer dielectric of memory device SONOS is estimated to be 63.angs. of nitride layer and 28.angs. of top oxide layer. In this case, maximum electrical breakdown field and leakage current are 18.5[MV/cm] and $8{\times}{10^-12}$[A], respectively.
High temperature superconducting coated conductor has various buffer structures on Ni-W alloy. We comparatively studied the growth conditions of a multi buffer layer $(CeO_2/YSZ/CeO_2)$ and a single buffer layer$(CeO_2)$ on textured Ni-W alloy tapes. XRD data showed that the qualities of in-plane and out-of-plane textures of the two type buffer structures were good. Also, we investigated the properties of SmBCO superconducting layer that was deposited on the two type buffer structure. The SmBCO superconducting properties on the single and multi buffer structure showed different critical current values and surface morphologies. FWHM of In-plane and out-of-plane textures were $7.4^{\circ},\;5.0^{\circ}$ in the top CeO2 layer of the multi-buffer layers of $CeO_2/YSZ/CeO_2$, and $7.3^{\circ},\;5.1^{\circ}$ in the $CeO_2$ single buffer layer. $1{\mu}m-thick$ SmBCO superconducting layers were deposited on two type buffer layer. $I_c$ of SmBCO deposited on single and multi buffer were 90 A/cm, 150 A/cm and corresponding $J_c$ were $0.9MA/cm^2,\;1.5MA/cm^2$ at 77K in self-field, respectively.
The purpose of this study is to develop a method to evaluate solubility parameter interactions of cosmetic ingredients in formulations. This experimentation relates to the fabrication of new multi-layer cleansing oil which can remove make-up products such as lipstick, foundation, mascara, eye shadow, etc., and also can wash away dirt and sebum from the skin just in one stage process. Solubility parameter and specific gravity of various cosmetic ingredients are measured to explain the cleanliness of interface, detergency of make-up cosmetics on the skin surface. The results suggest that it is possible for cosmetic chemists to use solubility parameter of cosmetic materials for fabrication of new formulation of 3-layer cleansing oil.
Replacing the existing illumination with solid-state lighting devices, such as light-emitting diodes (LEDs) are expected to reduce energy consumption and environmental pollution as they provide better efficiency and longer lifetimes. Currently, white light emitting diodes are composed of UV or blue LED with down-converting materials such as highly luminescent phosphors White light-emitting diodes (LED) were fabricated with multi-shell nanocrystal quantum dots for enhanced luminance and improved stability over time. Multi-shell quantum dots (QDs) were synthesized through one pot process by using the Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) method. As prepared, the multi-shell QD has cubic lattice of zinc-blend structure with semi-spherical shape with quantum yield of higher than 60 % in solution. Further, highly fluorescent multi-shell QD was deposited on the blue LED, which resulted in QD-based white LED with high luminance with excellent color rendering properties.
In this study, we fabricate a thin- and dense-BCuP-5 coating layer, one of the switching device multilayers, through a plasma spray process. In addition, the microstructure and macroscopic properties of the coating layer, such as hardness and bond strength, are investigated. Both the initial powder feedstock and plasma-sprayed BCuP-5 coating layer show the main Cu phase, Cu-Ag-Cu3P ternary phases, and Ag phase. This means that microstructural degradation does not occur during plasma spraying. The Vickers hardness of the coating layer was measured as 117.0 HV, indicating that the fine distribution of the three phases enables the excellent mechanical properties of the plasma-sprayed BCuP-5 coating layer. The pull-off strength of the plasma-sprayed BCuP-5 coating layer is measured as 16.5 kg/㎠. Based on the above findings, the applicability of plasma spray for the fabrication process of low-cost multi-layered electronic contact materials is discussed and suggested.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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