• 제목/요약/키워드: LCD panel inspection

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로컬 영역 간 평균 화소값 차를 이용한 멀티스케일 기반의 TFT-LCD 결함 검출 (TFT-LCD Defect Detection Using Mean Difference Between Local Regions Based on Multi-scale Image Reconstruction)

  • 정창도;이승민;윤병주;이준재;최일;박길흠
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권4호
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    • pp.439-448
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    • 2012
  • TFT-LCD 패널을 저해상도로 획득한 영상은 불균일한 휘도 분포와 노이즈 신호, 그리고 결함 신호로 구성되어 있다. 불균일한 휘도 분포와 노이즈로 인해 결함 신호를 분할하기 어려우며 이를 위해 다양한 분할 방법이 개발되고 있다. 본 논문에서는 공간영역 상에서 Eikvil et al.'s에 의해 제안되어진 크기가 다른 두 개의 창을 두고 각 창의 평균을 계산하고 그 값의 차이를 이용하는 방법을 이용하여 TFT-LCD 패널 이미지 상에 존재하는 결함의 영역을 분할하는 방법을 제안한다. 하지만 이 방법은 창의 크기에 의해 검출 가능한 결함영역의 크기가 제한되어 큰 결함영역을 분할하기 위해서는 창을 키워야 하므로 효율적이지 못한 문제점을 가지고 있다. 이 문제를 해결하기위해 멀티스케일(Multi-scale)을 이용하고, 각 스케일에서 검출 가능한 결함 크기를 제한함으로써 다양한 크기의 결함 영역을 분할 할 수 있는 알고리즘을 제안한다. 알고리즘의 성능을 검증하기위해 다양한 크기의 결함 영역을 만들어 분할되어진 결과와 실제 결함이 존재하는 TFT-LCD 패널 이미지의 분할 결과들을 통해 실제 적용 가능한 알고리즘임을 보인다.

3차원 모델링과 반복비교를 통한 TFT-LCD 패널의 결점 검출 (Defect Inspection of TFT-LCD Panel using 3D Modeling and Periodic Comparison)

  • 이경민;장문수;박부견
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 심포지엄 논문집 정보 및 제어부문
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    • pp.149-150
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    • 2007
  • In this paper, we propose a novel defects inspection algorithm for TFT-LCD panels. We first compensate the distorted image caused by the camera distortion and the uneven illumination environment using the least squares method and the bezier surface. We find a starting point of each pattern. The reference frame, made by subtract method using several clean patterns, is compared to each pattern to find defects. The simulation example shows that our algorithm not only inspects the defects well, but also is robust to the 1-pixel error.

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3차원 유한요소법을 이용한 TFT-LCD 액정에서의 공간 전기장 분포 특성 분석 (Characteristic Analysis of Spacial Electric Field Distribution in Liquid Crystal of TFT-LCD Panel)

  • 정상식;김남경;김동훈;노민호;이규상
    • 한국자기학회지
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    • 제22권3호
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    • pp.91-96
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    • 2012
  • 복잡한 전극 구조를 갖는 TFT-LCD 패널의 픽셀 사이의 간섭효과를 고려하여 액정에서의 공간 전기장 분포를 정밀하게 예측할 수 있는 멀티 픽셀 기반의 3차원 유한요소 수치해석 모델을 구축하였다. 이를 토대로 패널 내 다양한 전극 불량 조건에 대한 액정에서의 공간 전기장 분포 특성을 정상 상태와 비교 분석 하였다. 이러한 수치모사 결과와 기존 광학적 패널 검사장비의 불량검출 결과를 간접 비교함으로써 제안한 3차원 유한요소 수치모델의 타당성을 검증하였다.

대형 LCD 패널 검사를 위한 고휘도 멀티램프 백라이트 시스템 (Fabrication of high brightness multi lamps backlight system for large size LCD panel inspection equipment)

  • 전영태;박종리;임성규
    • 한국반도체및디스플레이장비학회:학술대회논문집
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    • 한국반도체및디스플레이장비학회 2004년도 춘계학술대회 발표 논문집
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    • pp.249-252
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    • 2004
  • 냉음극관(CCFL) 램프를 이용한 멀티램프 구동용 인버터를 제작 한 후 이를 이용하여 휘도 $20,000 cd/\textrm{m}^2$, 휘도 균일도 85%의 장비용 백라이트를 제작하였다. 이러한 고휘도, 높은 휘도 균일도의 직하방식 백라이트를 이용하여 기존의 형광등을 이용한 검사장비 보다 고휘도, 박형의 장수명 백라이트를 제작하였다.

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그래디언트 기반 고속 연결성 가중 허프 변환 (Gradient-based Fast Connectivity Weighted Hough Transform)

  • 김정태;신지영
    • 전기학회논문지
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    • 제57권4호
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    • pp.715-717
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    • 2008
  • The connectivity weighted Hough transform is a useful method for detecting well-connected short lines without generating false lines yet requires extensive computation. This letter describes a method that reduces the computation of the connectivity weighted Hough transform by removing unnecessary weight calculations using the gradient angles of feature points. In simulations with synthetic images and experiments with liquid crystal display panel images, the proposed method showed significantly improved speed without compromising detectability.

LCD 결함 검출 성능 개선을 위한 대표점 기반의 영역 탐색을 이용한 적응적 이진화 기법 (Adaptive Thresholding Method Using Zone Searching Based on Representative Points for Improving the Performance of LCD Defect Detection)

  • 김진욱;고윤호;이시웅
    • 한국콘텐츠학회논문지
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    • 제16권7호
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    • pp.689-699
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    • 2016
  • LCD 수요 증가에 따라 LCD 생산 효율성 개선을 위한 검사장비의 중요성이 지속적으로 부각되고 있다. 패턴 검사기는 라인 스캔 카메라와 같은 광학 장비를 통해 미세한 패턴 결함을 빠른 속도로 검출하는 장비이다. 이러한 패턴 검사기는 실시간 검사를 위해 패턴 내에서 단일 기준값을 사용하여 픽셀 단위의 결함 여부를 판단하고 있다. 하지만 패턴 내 각 영역별 특징을 반영하여 서로 다른 기준값을 적용하는 적응적 이진화를 이용하는 경우 결함 검출 성능을 크게 향상시킬 수 있다. 이러한 적응적 이진화를 적용하기 위해서는 특정 검사 대상 픽셀이 어떠한 영역에 속하는지에 대한 정보를 필요로 한다. 이를 위해 본 논문에서는 각각의 검사 대상 픽셀이 어떠한 영역에 속하는지를 판단하는 영역 매칭 알고리즘을 제안한다. 제안된 알고리즘은 머신 비전의 실시간성을 고려한 패턴 정합에 기반을 둔 알고리즘으로 실제 시스템에 적용될 수 있도록 GPGPU를 이용하여 구현된다. 모의실험을 통해 제안된 방법이 실제 시스템이 요구하는 처리 속도를 만족시킬 수 있을 뿐만 아니라 결함 검출의 성능을 개선할 수 있음을 보인다.

Low Contrast 특성을 갖는 LCD 편광필름 결함의 크기 자동 검출 (Automatic Extraction of Size for Low Contrast Defects of LCD Polarizing Film)

  • 박던천;주효남;류근호
    • 제어로봇시스템학회논문지
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    • 제14권5호
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    • pp.438-443
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    • 2008
  • In this paper, segmenting and classifying low contrast defects on flat panel display is one of the key problems for automatic inspection system in practice. Problems become more complicated when the quality of acquired image is degraded by the illumination irregularity. Many algorithms are developed and implemented successfully for the defects segmentation. However, vision algorithms are inherently prone to be dependent on parameters to be set manually. In this paper, one morphological segmentation algorithm is chosen and a technique using frequency domain analysis of input images is developed for automatically selection the morphological parameter. An extensive statistical performance analysis is performed to compare the developed algorithms.

CO2 레이저 빔을 이용한 TFT-LCD 도광판의 패턴 제작에 관한 연구 (Fabrication of Grooved Pattern for the Light Guide Plate of TFT-LCD with CO2 Laser)

  • 김경동;백창일;송철기;안성훈
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2002년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.147-150
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    • 2002
  • A light guide panel is an element of the LCD backlight module that is often used for the display of compact electronic devices. In this study, a laser marking system is proposed to fabricate light guide panel, which can be replaced of other manufacturing methods such as silk printing, stamping, and v-cutting methods. The objectives of this research are the establishment of laser marking system, evaluation of laser marking parameters, understanding marking process, application to PMMA, reliability test and quality inspection. A 50W $CO_2$ laser (CW) was used to perform different experiments in which, the influence of some processing parameters (average power, scanning speed) on the geometry and quality of groove pattern was studied. The width of the etched grooves increases with increasing a laser power and decreasing a scan speed. In order to analyze surface characteristics and optical properties (luminance, uniformity), SEM photography and BM7 (luminance measuring system) were used. As a result, the optimal conditions of the process parameters were determined.

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프리필터를 이용한 TFT-LCD 패널의 자동 결함 검출 (Automatic Defect inspection of TFT-LCD Panels Using a Pre-Filter)

  • 남승욱;서성대;남현도;안동준
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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    • pp.1864-1865
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    • 2007
  • In this paper, we proposed pre-filter algorithms which using frequency domain analysis method, for the detections of defects in large-sized Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display(TFT-LCD) panel surfaces. We performed frequency analysis with 1-D, 2-D FFT methods for extract periodic patterns of lattice structures in TFT-LCDs. To remove this patterns, band-stop filters were used for eliminating specific frequency components. In order to acquire only defected images, we used 2-D inverse FFT methods which can be reverts images that remains defects.

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LS-SVM을 이용한 TFT-LCD 패널 내의 결함 검사 방법 (A Defect Inspection Method in TFT-LCD Panel Using LS-SVM)

  • 최호형;이건희;김자근;주영복;최병재;박길흠;윤병주
    • 한국지능시스템학회논문지
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    • 제19권6호
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    • pp.852-859
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    • 2009
  • TFT-LCD 자동 검사 시스템에서 결함 검출을 위한 영상은 라인 스캔 카메라(line scan camera)나 에어리어 스캔 카메라 (area scan camera)에 의해서 획득하게 된다. 그러나 임펄스 잡음과 가우시안 잡음, CCD 혹은 CMOS 센서의 한계, 조명등의 영향으로 열화된 영상이 획득되며, 한도성 결함 영역을 인간의 육안으로 구분하기 어렵게 된다. 본 논문에서는 효율적인 결함 검출을 위해 특징 추출 방법과 결함 검출 방법을 제안한다. 특징 벡터로 웨버의 법칙을 이용한 결함 영역과 주변 배경 영역의 평균 밝기 차와 주변 배경 영역의 밝기 변화를 이용한 표준편차를 이용하며, 결함 영역 검출를 위해 추출된 특징 벡터를 이용하여 비선형 SVM을 적용한다. 실험 결과는 제안한 방법이 다른 방법들 보다 성능이 우수함을 보여준다.