• 한국지능시스템학회논문지
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• 제19권2호
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• pp.259-264
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• 2009

Mobile용 TFT-LCD는 근거리에서, 세밀한 관찰 작업용으로 사용되는 경우가 많아 높은 수준의 품질관리가 요구되고 있으나, 높은 휘도값, 큰 휘도편차, 높은 검사 정밀도 등의 특징을 가지고 있어 동일한 검사기준을 적용하여도 작업자 혹은 제조라인에 따라 판단의 차이가 있으며 정량적인 품질관리가 어렵다. 또한, 다품종 대량생산 추세에 따라 검사 속도, 작업자의 피로도, 검사 시야의 한계 등 육안검사의 문제점이 대두되고 있다. 본 논문은 Mobile용 TFT-LCD 화면의 품질관리 및 검사기준과 동일한 기준에 의거하여 현장에 적용하기 쉬운 탁상형의 Mobile용 TFT-LED 화면 검사 장비를 개발하였다. 그리고 개발된 장비를 사용한 실험에서, 육안검사에 비하여 개선된 결과를 기반으로 안정적이고 수치화된 Mobile용 TFT-LCD 화면 품질 검사의 표준화 가능성을 제시한다.

• 한국콘텐츠학회논문지
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• 제10권5호
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• pp.62-69
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• 2010

LCD 패널은 자체적으로 발광할 수 없어 외부 광원인 BLU가 필요하다. BLU는 LCD 모듈에 포함되어 사용되고 LCD 패널의 불량을 검사하는 테스터에서도 사용된다. 최근에는 BLU가 CCFL에서 LED로 빠르게 변화되고 증가해왔다. CCFL은 초고압 전원이 필요하고, 열도 많이 발생하며, 일정한 휘도를 유지하기가 어렵다. LED는 전력소모량이 적고, 일정한 휘도를 유지한다. 그러나 현재 테스터에서 사용되는 BLU는 CCFL을 사용하고 있다. 본 연구에서는 LCD 패널의 불량을 검사할 수 있는 검사용 LED BLU를 개발한다. 또한 12~24인치의 LCD 패널을 모두 검사할 수 있도록 LED BLU를 24인치 크기로 제작하고 LCD패널의 크기에 따라 LED BLU가 동작하도록 개발한다.

• 융합신호처리학회논문지
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• 제7권4호
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• pp.161-168
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• 2006

본 논문에서는 LCD 조립이 완료된 제품에 대해 색상보정 기법을 이용한 LCD 패턴검사 방법을 제안하였다. 기존의 검사 시스템은 패턴 매칭에 의한 검사 기법을 많이 사용하고 있다. 이러한 방법은 LCD의 백라이트(back light) 장치의 휘도차이, 액정의 광특성, 구동특성에 의해 투과되는 빛의 차이, 주위 조명에 의한 색차 등을 보정 할 수 없으며, 또한 이로 인해 불량검출의 효율성을 저하시키는 원인이 된다. 제안하는 검사 방법은 다양한 원인에 의해 발생하는 LCD의 색상 차를 보정한 후 패턴 매칭을 통해 불량을 검출하는 방법이다. 먼저, 검사 대상인 LCD 패턴의 색상을 기준 영상에서 설정된 색상으로 보정한다. 색상이 보정된 영상은 다양한 전처리 기법을 적용하여 패턴 검사를 수행한다. 실험을 통하여 본 연구에서 제안한 알고리듬은 LCD 패널에서 여러 가지 불량품을 검출 할 수 있었고, 또한 제안된 방식은 기존의 방식과 비교하여 불량 검출이 용이함을 알 수 있었다.

• 한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집
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• 한국컴퓨터정보학회 2013년도 제47차 동계학술대회논문집 21권1호
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• pp.103-106
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• 2013

3D LCD Module은 기존 TFT-LCD에 Parallax Barrier 방식과 Passive Glasses 방식 및 Active Glass 방식의 기술을 적합하여 만들어 진다. 현재는 3D Module 제작 후 기타 ASSY 장치를 부착 하여 시제품 출시 전에 3D 패턴을 기반으로 출하 검사를 통해 제품 이상 유무를 검사하다 보니 제품 출하 검사 시 불량 요인으로 불량 제품에 대한 모든 Repair공정을 위해 많은 시간 및 인력, 자재 등의 많은 로스 부분이 발생 하여 생산성 절감 및 제품 원가 상승의 요인이 발생 한다. 따라서 본 논문에서 제안하고자 하는 내용은 기존의 2D TFT-LCD Module 검사장비에 3D Pattern 및 동영상을 구현하여 보다 신속 하고 정확한 임베디드 환경을 이용한 2D 및 3D LCD Module용 검사 시스템을 개발 하는데 있다.

• 전자공학회논문지SC
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• 제46권2호
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• pp.22-27
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• 2009

본 논문에서는 LCD 구동 모듈 PCB의 기능 검사를 위한 자동 검사 시스템인 EVT (Emulated Vision Tester)를 제안하고 구현하였다. 기존의 대표적인 자동검사 방법으로는 전기적 검사나 영상기반 검사방식이 있으나 전기적 검사만으로는 Timing이 주요한 변수가 되는 LCD 장비에서는 검출할 수 없는 구동불량이 존재하며 영상기반 검사는 영상획득에 일관성이 결여되거나 Gray Scale의 구분이 불명확하여 검출결과의 재현성이 떨어진다. EVT 시스템은 Pattern Generator에서 인가된 입력 패턴 신호와 구동 모듈을 통한 후 출력되는 디지털 신호를 직접 비교하여 패턴을 검사하고 아날로그 신호 (전압, 저항, 파형)의 이상 여부도 신속 정확하게 검사할 수 있는 하드웨어적인 자동 검사 방법이다. 제안된 EVT 검사기는 높은 검출 신뢰도와 빠른 처리 속도 그리고 간결한 시스템 구성으로 원가 절감 및 전공정 검사 자동화의 실현을 가능케 하는 등 많은 장점을 가진다.

• 한국정보과학회:학술대회논문집
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• 한국정보과학회 2004년도 봄 학술발표논문집 Vol.31 No.1 (B)
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• pp.697-699
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• 2004

LCD의 생산이 많아짐에 따라 LCD의 불량 검출이 중요해 지고 있다. 불랑 검사는 눈으로 확인할 수 있는 범위에서 검사가 이루어지고 있으며, 만약 눈으로 식별이 불가능한 경우 적외선 카메라나 초음파 센서를 사용하여 검사가 이루어진다. 본 논문에서는 카메라를 이용하여 LCD 패널의 표면에 있는 불량 검출을 위하여 각 Dot에 대한 R, G, B 값을 추출한 후, 추출된 픽셀을 제안된 알고리즘에 적용하여 불량을 검출하는 것을 목적으로 하고 있다.

• 한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집
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• 한국컴퓨터정보학회 2011년도 제44차 하계학술발표논문집 19권2호
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• pp.363-366
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• 2011

3D 디스플레이 시장이 커지면서 TFT-LCD TV 자동화 라인 생산 공정을 3D LCD TV 생산 공정으로 변환하여 대량 생산할 경우, 기 설치된 자동화 생산라인의 H/W 부분에는 특별한 투자가 이루어질 거라 판단되지 않고 있다. 하지만 3D LCD Module 검사 등의 S/W 적인 부분은 현재의 기 설치된 TFT-LCD Module 검사장비로는 검사가 불가능하여, 추가적인 투자가 이루어질 것이라 판단되고 있다. 이와 관련하여 본 연구에서는 TFT-LCD 제조공정의 효율적인 기술을 제안하고자 한다. 첫째는 TFT-LCD를 Cell상태에서 직접 구동하는 구동회로 기술과 사용 장소가 Clean Room이므로 개별적 구동 Pallet에 비접촉식으로 전원을 공급할 수 있는 비접촉식 급전장치에 대한 기술이다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2005년도 학술대회 논문집 정보 및 제어부문
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• pp.64-66
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• 2005

In this paper, some automatic inspection algorithms for LCD module are suggested. Human eyes are very good for the inspection in many industrial areas. However, very bright LCD back lighting may cause permanent damage to the human eyes. Also, the growing size of the LCD make it more difficult for the human inspectors. Therefore, using camera set, automatic inspection process becomes very essential for the future LCD industry.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2006년 학술대회 논문집 정보 및 제어부문
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• pp.422-424
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• 2006

This paper suggests an automatic spot-inspection algorithm for LCD modules. Usually, LCD module testing is classified by two categories. One is for uniform pattern testing and the other is Non-uniform testing. The uniform pattern testing is well defined and also fully automated in the factory. However non-uniform pattern testing is not defined well yet, so non-uniform testing is conducted by human operators. In this paper a spot-pattern, which is one of non-uniform pattern, inspection algorithms are proposed. The performance of the proposed algorithm is tested by extensive simulations using artificial slot-patterns and real ones in the LCD modules.

• 한국융합학회논문지
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• 제11권11호
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• pp.183-187
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• 2020

LCD BLU의 CCFL 전극에 사용되는 몰리브덴 전극의 주요소재인 몰리브덴 컵과 몰리브덴 핀은 국내 가공기술이 개발되지 못하여 전량 일본에서 수입하여 사용되고 있어 CCFL 제조업체들의 납기 및 경쟁력에 부담을 주고 있다. 본 연구에서는 LCD BLU의 CCFL 전극에 사용되는 몰리브덴 핀의 제조 기술을 개발하는 연구로 직선처리 기술개발, 몰리브덴 와이어 표면처리 기술개발, 와이어 절단기술 개발, 몰리브덴 핀의 제작, 검사용 JIG와 Fixture 설계 및 제작, 몰리브덴 핀 시제작 및 해석, 몰리브덴 핀 전수검사 기술개발에 관한 연구를 수행하였으며 본 논문에서는 몰리브덴 핀 제작에 있어 전수검사기 융합설계에 대한 연구를 다루고자 한다.