• 제목/요약/키워드: Is-Spice

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정보시스템에 대한 보안위험분석을 위한 모델링 기법 연구 (A Study on the Modeling Mechanism for Security Risk Analysis in Information Systems)

  • 김인중;이영교;정윤정;원동호
    • 정보처리학회논문지C
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    • 제12C권7호
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    • pp.989-998
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    • 2005
  • 최근 대부분의 정보시스템은 대규모 및 광역화되고 있으며 이에 따른 사이버 침해사고와 해킹의 위험성이 증대되고 있다. 이를 해결하기 위하여 정보보호 기술중에서 보안위험분석 분야의 연구가 활발하게 이루어지고 있다. 하지만 다양한 자산과 복잡한 네트워크의 구조로 인하여 위험도를 현실에 맞게 산정한다는 것이 사실상 불가능하다. 특히, 취약성과 위협의 증가는 시간에 따라 계속 증가하며 이에 대응하는 보호대책은 일정 시간이 흐른 뒤 이루어지므로 제시된 결과가 효과적인 위험분석의 결과로 볼 수 없다. 따라서. 정보시스템에 대한 모델링 기법을 통하여 정보시스템의 구조를 단순화하고 사이버 침해의 방향성을 도식화함으로써 위험분석 및 피해 파급 영향 분석을 보호대책 수립의 허용 시간 내에서 이루어질 수 있도록 해야 한다 이에 따라, 본 논문에서는 보안 위험을 분석할 수 있도록 SPICE와 Petri-Net을 이용한 정보시스템의 모델링 기법을 제안하고, 이 모델링을 기반으로 사례연구를 통하여 위험분석 시뮬레이션을 수행하고자 한다.

양자우물 레이저 다이오드의 등가회로 모델 (An Equaivalent Circuit Model for Rquantum Well Laser Diodes)

  • 이승우;김대욱;최우영
    • 전자공학회논문지D
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    • 제35D권1호
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    • pp.49-58
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    • 1998
  • In this paper, a new equivalent circuit model for quantum-well laser diode (LD) is proposed. The model includes carrier transport effects in the SCH region, and rprovides, in a stable and accurate manner, large-and small-signal responses of laser diode output power as function of injected currents. SPICE simulation was performed using the circuit model and results are presented for L-I characteristics, pulse and frequency responses under various conditions. It is expencted that the new equaivalent circuit model will find useful applications for designing and analyzing OEIC, LD driver circuits, and LD packaging.

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Pixel Circuit with High Immunity to the Degradation of TFTs and OLED for AMOLED Displays

  • Lin, Chih-Lung;Tu, Chun-Da
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display
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    • pp.473-476
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    • 2008
  • A simple voltage compensation pixel circuit for AMOLED is produced using low temperature polycrystalline silicon (LTPS) technology. Its operation is verified by AIM-SPICE. Simulation results show that the pixel circuit has high immunity to variation of LTPS-TFT and reduces the drop in luminance due to the degradation of the OLED.

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1.5V 2㎓ 저전력 피크 디텍터의 설계 (A 1.5V 2㎓ Low-Power Peak Detector)

  • 박광민
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2001년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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    • pp.149-152
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    • 2001
  • In this paper, a 1.5V 2㎓ low-power peak detector is presented. Analyzing the designed peak detector circuit which is composed with two NMOSs, two diodes, and two capacitors, the detection characteristic relationships are derived. The simulation results with SPICE for 2㎓ pulse signals and sinusoidal signals on the 1.5V supply voltages show the good detection characteristics for input signal levels of 50㎷~500㎷, and show very small power dissipation of 0.332㎽.

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DWMT VDSL을 위한 클럭 복원방식 (Clock Recovery Method for DWMT VDSL)

  • 문인수;정항근
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 1999년도 하계종합학술대회 논문집
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    • pp.81-85
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    • 1999
  • DWMT VDSL system needs A/D converter clock, bit clock, symbol clock, frame clock, etc. DMT ADSL system utilizes a correlation method which makes use of cyclic prefix or preamble pattern for clock recovery. But the correlation method is difficult to apply to the DWMT system because modulated symbols are overlapped in the time domain. This paper proposes a novel clock recovery method which can be used for the DWMT system due to its inherent independence of the modulation method. This new method is verified by SPICE simulations.

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고속 VLSI회로에서 전송선의 지연시간 모델 (The Propagation Delay Model of the Interconnects in the High-Speed VLSI circuit)

  • 윤성태;어영선
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 1999년도 추계종합학술대회 논문집
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    • pp.975-978
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    • 1999
  • The transmission line effects of IC interconnects have a substantial effect on a hish-speed VLSI circuit performance. The effective transmission lime parameters are changed with the increase of the operation frequency because of the skin of the skin effect, proximity effect, and silicon substrate. A new signal delay estimation methodology based on the RLC-distributed circuit model is presented [2]. The methodology is demonstrated by using SPICE simulation and a high-frequency experiment technique.

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OTA를 이용한 PWM(Pulse Width Modulation) 회로 (PWM(Pulse Width Modulation) Circuit Using OTA)

  • 송재훈;김희준;정원섭
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2002년도 하계종합학술대회 논문집(5)
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    • pp.247-250
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    • 2002
  • This paper proposes a PWM circuit using CMOS OTAs. The features of the proposed PWM circuit are IC oriented circuits, simple configuration, and bias current controlled output. In order to verily the validity of the proposed circuit, it is simulated by H-SPICE program. Futhermore, the proposed circuit is integrated on chip using 0.35 $\mu\textrm{m}$ CMOS technology.

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정전 용량형 MEMS 공진기의 비이상적 주파수 응답 모델링 (Modeling of non-ideal frequency response in capacitive MEMS resonator)

  • 고형호
    • 센서학회지
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    • 제19권3호
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    • pp.191-196
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    • 2010
  • In this paper, modeling of the non-ideal frequency response, especially "notch-and-spike" magnitude phenomenon and phase lag distortion, are discussed. To characterize the non-ideal frequency response, a new electro-mechanical simulation model based on SPICE is proposed using the driving loop of the capacitive vibratory gyroscope. The parasitic components of the driving loop are found to be the major factors of non-ideal frequency response, and it is verified with the measurement results.

테스트가 용이한 고속 풀 스윙 BiCMOS회로의 설계방식과 테스트 용이도 분석 (Disign Technique and Testability Analysis of High Speed Full-Swing BiCMOS Circuits)

  • 이재민;정광선
    • 한국산업융합학회 논문집
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    • 제4권2호
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    • pp.199-205
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    • 2001
  • With the growth of BiCMOS technology in ASIC design, the issue of analyzing fault characteristics and testing techniques for BiCMOS circuits become more important In this paper, we analyze the fault models and characteristics of high speed full-swing BiCMOS circuits and the DFT technique to enhance the testability of full-swing high speed BiCMOS circuits is discussed. The SPICE simulation is used to analyze faults characteristics and to confirm the validity of DFT technique.

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DC/DC 강압컨버터의 PWM-IC 제어기의 TID 및 SEL 실험 (TID and SEL Testing on PWM-IC Controller of DC/DC Power Buck Converter)

  • 노영환;황의성;정재성;한창운
    • 한국항공우주학회지
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    • 제41권1호
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    • pp.79-84
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    • 2013
  • DC/DC 컨버터는 임의의 직류전원을 부하가 요구하는 형태의 직류전원으로 변환시키는 효율이 높은 전력변환기이다. DC/DC 컨버터는 PWM-IC(펄스폭 변조 집적회로) 제어기, MOSFET(산화물-반도체 전계 효과 트랜지스터), 인덕터, 콘덴서 등으로 구성되어있다. 코발트 60 ($^{60}Co$) 저준위 감마발생기를 이용한 TID실험에서 방사선의 영향으로 PWM-IC의 전기적 특성중에 문턱전압과 옵셋전압이 증가되고, SEL에 적용된 4종류의 중이온 입자는 PWM-IC의 파형을 불안정하게 만든다. 또한, 입/출력관계의 파형을 SPICE 시뮬레이션 프로그램으로 관찰하였다. PWM-IC의 TID 실험은 30 Krad 까지 수행하였으며, SEL 실험을 제어보드를 구현한 후 LET($MeV/mg/cm^2$)별 cross section($cm^2$)으로 연구하였다.