Transmission Line Parameter Extraction and Signal Integrity Verification of VLSI Interconnects Under Silicon Substrate Effect (실리콘 기판 효과를 고려한 VLSI 인터컨넥트의 전송선 파라미터 추출 및 시그널 인테그러티 검증)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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- v.36C no.3
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- pp.26-34
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- 1999