ITO_{(n)}/Si_{(p)}$ solar cell is fabricated by vaccum deposition method under the resistance heating with substrate temperature kept about 200[$^{\circ}C$] and than their properties are investigated. The maximum output of fabricated solar cell is obtained when the composition of the thin film is consisted of indium oxide 91[mole %] and tin oxide 9(mole %). The solar cell electrical charateristics can be improved by annealing but are deteriorated at temperature above 600[$^{\circ}C$] for longer than 15[min].
현재 인듐-주석-산화물(Indium-Tin-Oxide, ITO)은 디스플레이 제품에 투명 전극으로 사용된다. 하지만 인듐과 주석의 자원고갈 문제와 ITO 제조 공정에 많은 에너지가 소비되어 최근에는 ITO 대체물질의 개발과 ITO 재사용 및 재활용에 관한 연구가 요구되고 있는 실정이다. 이러한 상황에서 ITO를 재활용 하게 되면 수치상으로 환경부하 값의 변화 추이를 확인하기 위해서는 전과정 평가 기법을 이용한 전과정 평가가 매우 적절하다. 따라서 전과정 평가 수행을 위해 공정상에서 투입물질과 생성물질을 구분하고, 데이터 베이스(DB)를 적용하여 환경성 평가 결과를 영향 범주별로 계산하였으며, 34%를 폐기함에 따라 각각 해당하는 환경부하 값이 계산되었다. 화학당량적으로 ITO의 양을 계산하여 환경부하 값을 결정할 경우, 산성 물질과 자원고갈에 해당하는 값들이 계산되었고, ITO를 1 ton 생산하여 34%를 폐기할 경우 $ 476를 땅에 묻는 결과가 도출되었다.
Kim, Sungyoung;Kim, Sangbo;Heo, Jaeseok;Cho, Eou-Sik;Kwon, Sang Jik
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2015년도 제49회 하계 정기학술대회 초록집
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pp.187-187
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2015
The past thirty years have seen increasingly rapid advances in the field of Indium Tin Oxide (ITO) transparent thin film.[1] However, a major problem with this ITO thin film application is high cost compared with other transparent thin film materials.[2] So far, in order to overcome this disadvantage, we show a transparent ITO/Ag/i-ZnO multilayer thin film electrode can be the solution. In comparison with using amount of ITO as a transparent conducting material, intrinsic-Zinc-Oxide (i-ZnO) based on ITO/Ag/i-ZnO multilayer thin film showed cost-effective and it has not only highly transparent but also conductive properties. The aim of this research has therefore been to try and establish how ITO/Ag/i-ZnO multilayer thin film would be more effective than ITO thin film. Herein, we report ITO/Ag/i-ZnO multilayer thin film properties by using optical spectroscopic method and measuring sheet resistance. At a certain total thickness of thin film, sheet resistance of ITO/Ag/i-ZnO multilayer was drastically decreased than ITO layer approximately $40{\Omega}/{\square}$ at same visible light transmittance.(minimal point $5.2{\Omega}/{\square}$). Tendency, which shows lowly sheet resistive in a certain transmittance, has been observed, hence, it should be suitable for transparent electrode device.
We present multifunctional indium tin oxide (ITO) thin films formed at room temperature by a normal sputtering system equipped with a plasma limiter which effectively blocks the bombardment of energetic negative oxygen ions (NOIs). The ITO thin film possesses not only low resistivity but also high gas diffusion barrier properties even though it is deposited on a plastic substrate at room temperature without post annealing. Argon neutrals incident to substrates in the sputtering have an optimal energy window from 20 to 30 eV under the condition of blocking energetic NOIs to form ITO nano-crystalline structure. The effect of blocking energetic NOIs and argon neutrals with optimal energy make the resistivity decrease to $3.61{\times}10-4{\Omega}cm$ and the water vapor transmission rate (WVTR) of 100 nm thick ITO film drop to $3.9{\times}10-3g/(m2day)$ under environmental conditions of 90% relative humidity and 50oC, which corresponds to a value of ~ 10-5 g/(m2day) at room temperature and air conditions. The multifunctional ITO thin films with low resistivity and low gas permeability will be highly valuable for plastic electronics applications.
The material that is both conductive in electricity and transparent to the visible-ray is called transparent conducting thin film. It has many field of application such as solar cell, liquid crystal display, transparent electrical heater, selective optical filter, and a optical electric device. In this study, indium tin oxide (ITO ; Sn-doped $In_2O_3$) thin films were deposited on $SiO_2$/soda-lime glass plates by a dc magnetron sputtering technique. The crystallinity and electrical properties of the films were investigated by X-ray diffraction(XRD), atomic force microscopy (AFM) scanning and 4-point probe. The optical transmittance of ITO films in the range of 300-1000nm were measured with a spectrophotometer. As a result, we obtained polycrystalline structured ITO films with (222), (400), and (440) peak. Transmittance of all the films were higher than 90% in the visible range.
BST(70/30) and BST(50/50) thin films were prepared by Sol-Gel method and studied about the microstructural and dielectric properties with Pt and ITO bottom electrodes. The stock solution was synthesized and spin coated on the Pt/Ti$SiO_2$/Si and Indium Tin Oxide(ITO)/ glass substrate. the coated films were dries at 350$^{\circ}C$ for 10 minutes and annealed at $750^{\circ}C$ for 1 hour for the crystallization. The thin films coated on ITO substrate were crystallized easily and the packing density and roughness of surface were better that those of films coated on Pt substrates. In the BST(50/50) composition the structural properties were similar to the BST(70/30) composition and grain size were decreased with increasing the contents of Sr. The dielectric constant was higher in the BST(50/50) composition compared with the BST(70/30) composition. Using the ITO substrate, the dielectric constant was higher than the Pt substrate while the dielectric loss was showed a reverse trend. The dielectric constant with and increase of temperature was decreased slowly.
Kim, H.H.;Shin, J.H.;Baek, J.Y.;Shin, S.H.;Park, K.J.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제2권1호
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pp.22-26
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2001
ITO (Indium-tin-oxide) thin films were deposited on glass substrates by a dc magnetron sputtering system using ITO powder target. The methods of heat treatment are important factor to obtain high quality ITO films with low electrical resistivity and good optical transmittance. Therefore, both methods of the substrate temperature and post-deposition annealing temperature have been compared on the film structural, electrical and optical properties. A preferred orientations shifts from (411) to (222) peak at annealing temperature of 200$\^{C}$. Minimum resistivity of ITO film is approximately 8.7$\times$10$\^$-4/ Ωcm at substrate temperature of 450$\^{C}$. Optical transmittances at post annealing temperature above 200$\^{C}$ are 90%. As a result, the minimum value of annealing temperature that is required for the recrystallization of as-deposited ITo thin films is 200$\^{C}$.
투명전극재료 indium tin oxide (ITO) 필름은 평판 디스플레이 전극재료로 널리 사용되고 있다. 이러한 ITO 필름은 마그네트론 스퍼터링법, 기상화학증착법 및 전자빔증착법 등의 방법으로 제조되어지고 있다. 본 실험에서는 전자빔 증착법으로 무게비로 $SnO_2$가 10%, $In_2O_3$가 90%인 ITO 타겟을 다른 플라스틱 기판보다 높은 유리전이 온도($Tg=330^{\circ}C$)를 가지는 polycyclic olefin polymer (POP) 플라스틱 기판에 증착시켰다. 본 연구에서는 ITO 박막의 물리적, 전기적 및 광학적 성질에 영향을 미치는 중요한 변수라 할 수 있는 기판온도와 산소도입속도가 증착된 ITO 박막의 전기적 및 광학적 성질에 미치는 영향을 살펴보았다. 주요공정 변수로는 온도 및 산소도입속도에 중점을 두어 실험하였으며 그 결과 8 sccm (Standard Cubic Centimeter per Minute)의 $O_2$, $200^{\circ}C$의 기판 온도, $5{\AA}/sec$의 증착 속도에서 $1000{\AA}$으로 증착된 ITO 박막 두께에서 우수한 전기적 광학적 성질인 $1.78{\times}10^{-3}{\Omega}{\cdot}cm$ 비저항 및 85% 광투과율을 얻을 수 있었다.
ITO films were achieved by sintering at $500{\sim}550{^{\circ}C}$. This was possible by inducing a seeding effect on an ITO sol by producing crystalline ITO nanoparticles in situ during heat treatment. Two kinds of ITO sols (named ITO-A and ITO-B) were prepared at 2.0 wt% from indium acetate and tin(IV) chloride in different mixed solvents. The ITO-A sol showed a high degree of crystallinity of ITO without any detectable Sn$O_2$ on XRD at $350{^{\circ}C}$/1 h, but the ITO-B sol showed a small amount of Sn$O_2$ even after annealing at $600{^{\circ}C}$/1 h. The 10 wt% ITO-A//ITO-B showed the sheet resistance of 3600$\Omega$/□, while the ITO-B sol alone showed 5200 $\Omega$/□ by sintering at $550{^{\circ}C}$ for 30 min. Processing parameters were studied by TG/DSC, XRD, SEM, sheet resistance, and visible transmittance.
Transparent conducting thin films of indium tin oxide(ITO) co-sputtered with aluminum-doped zinc oxide(AZO) were deposited on glass substrate by dual magnetron sputtering. It was found that the electrical properties and structural characteristics of the films are significantly changed according to the sputtering power of the AZO target. The IAZTO film prepared with D.C power of ITO at 100 W and R.F power of AZO at 50 W shows an electrical resistivity of $4.6{\times}10^{-4}{\Omega}{\cdot}cm$ and a sheet resistance of $30{\Omega}/{\square}$ (for 150 nm thick). Besides of the improvement of the electrical properties, compared to the ITO films deposited at the same process conditions, the IAZTO films have very smooth surface, which is due to the amorphous nature of the films. However, the electrical conductivity of the IAZTO films was found to be deteriorated along with the crystallization in case of the high temperature deposition (above $310^{\circ}C$). In this work, high quality amorphous transparent conductive oxide layers could be obtained by mixing AZO with ITO, indicating possible use of IAZTO films as the transparent electrodes in OLED and flexible display devices.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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