• 제목/요약/키워드: Impact ionization (II)

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SGOI 기판을 이용한 1T-DRAM에 관한 연구 (Performance of capacitorless 1T-DRAM cell on silicon-germanium-on-insulator (SGOI) substrate)

  • 정승민;오준석;김민수;조원주
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.346-346
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    • 2010
  • A capacitorless one transistor dynamic random access memory (1T-DRAM) on silicon-germanium-on-insulator substrate was investigated. SGOI technology can make high effective mobility because of lattice mismatch between the Si channel and the SiGe buffer layer. To evaluate memory characteristics of 1T-DRAM, the floating body effect is generated by impact ionization (II) and gate induced drain leakage (GIDL) current. Compared with use of impact ionization current, the use of GIDL current leads to low power consumption and larger sense margin.

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채널 구조에 따른 1T-DRAM Cell의 메모리 특성 (Memory Characteristics of 1T-DRAM Cell by Channel Structure)

  • 장기현;정승민;박진권;조원주
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제25권2호
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    • pp.96-99
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    • 2012
  • We fabricated fully depleted (FD) SOI-based 1T-DRAM cells with planar channel or recessed channel and the electrical characteristics were investigated. In particular, the dependence of memory operating mode on the channel structure of 1T-DRAM cells was evaluated. As a result, the gate induced drain leakage current (GIDL) mode showed a better memory property for planar type 1T-DRAM. On the other hand, the impact ionization (II) mode is more effective for recessed type.

풀밴드 모델을 이용한 77K Si의 포논산란 및 임팩트이온화에 관한 연구 (Phonon Scattering and Impact ionization for Silicon using Full Band Model at 77K)

  • 유창관;고석웅;정학기;이종인
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 1999년도 추계종합학술대회
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    • pp.552-554
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    • 1999
  • 포논산란과 임팩트이온화 모델은 풀밴드 모델과 페르미 황금법칙을 이용한 고에너지 영역에서 hot carrier 전송을 해석하기 위해서 제시되어 왔다. 본 연구에서는 77K와 300k에서 실제에너지 밴드 구조를 이용한 Si의 임팩트이온화 과정에 대해서 온도 의존성을 조사했다. 풀밴드 모델은 local form factors을 이용한 의사포텐셜방법에서 얻어지고, 산란율 계산에 이용된다. 정확한 임팩트이온화율 계산은 파동벡터와 주파수에 의존하는 유전함수를 필요로 한다. 포논 산란율은 상태밀도에 선형적으로 의존하기 때문에 포논산란율과 상태밀도의 비에 대한 선형함수 유도에 의해서 구해진다 임팩트이온화율 $P_{ii}$ 는 first principle's theory로부터 계산되어지고, 수정된 Keldysh 공식에 의해서 최적화되었다.

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측정방법에 따른 Recessed 1T-DRAM의 메모리 특성

  • 장기현;정승민;박진권;조원주
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2012년도 제42회 동계 정기 학술대회 초록집
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    • pp.446-446
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    • 2012
  • 최근 반도체 칩의 트랜지스터 집적화 기술이 발달됨에 따라 dynamic random access memory(DRAM)의 memory cell 영역을 작게 만들어야 하는 문제가 제기되고 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해서 대체 기술이 끊임없이 연구되고 있는 가운데 하나의 트랜지스터와 하나의 캐패시터로 구성된 기존의 DRAM에서 캐패시터가 없이 하나의 트랜지스터만으로 이루어진 1T-DRAM 소자의 연구가 활발히 진행되고 있다. 이는 기존 DRAM의 구조에 비해 캐패시터가 필요하지 않아 복잡한 공정이 줄어들어 소자 제작이 용이하며, 더 높은 집적도를 구현할 수 있는 장점이 있다. 일반적인 planar 타입의 1T-DRAM의 경우 소스 및 드레인과 기판과의 접합면에서 누설 전류가 큰 특징을 가지며 소자의 집적화에 따른 단 채널 효과가 발생하게 되는데, 본 연구에서는 이러한 문제점을 해결하기 위해서 유효 채널 길이를 늘려 단 채널 효과에 의한 영향을 감소시키고, 소스 및 드레인과 기판과의 접합면을 줄여 누설 전류를 줄일 수 있는 recessed 채널 타입의 1T-DRAM을 제작하였다. 1T-DRAM의 메모리 구동방법에는 여러 가지가 있는데 본 연구에서는 impact ionization (II)을 이용한 방법과 gate induced drain leakage (GIDL)을 이용한 방법을 사용하여 1T-DRAM의 채널구조에 따라 어떠한 구동방법이 더 적합한지 평가하였고, 그 결과 recessed 채널 1T-DRAM의 동작은 II 에 의한 측정 방법이 더 적합한 것으로 보여졌다.

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Electrical Characteristics of InAlAs/InGaAs/InAlAs Pseudomorphic High Electron Mobility Transistors under Sub-Bandgap Photonic Excitation

  • Kim, H.T.;Kim, D.M.
    • JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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    • 제3권3호
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    • pp.145-152
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    • 2003
  • Electrical gate and drain characteristics of double heterostructure InAlAs/InGaAs pseudomorphic HEMTs have been investigated under sub-bandgap photonic excitation ($hv). Drain $(V_{DS})-,{\;}gate($V_{DS})-$, and optical power($P_{opt}$)-dependent variation of the abnormal gate leakage current and associated physical mechanisms in the PHEMTs have been characterized. Peak gate voltage ($V_{GS,P}$) and the onset voltage for the impact ionization ($V_{GS.II}$) have been extracted and empirical model for their dependence on the $V_{DS}$ and $P_{opt} have been proposed. Anomalous gate and drain current, both under dark and under sub-bandgap photonic excitation, have been modeled as a parallel connection of high performance PHEMT with a poor satellite FET as a parasitic channel. Sub-bandgap photonic characterization, as a function of the optical power with $h\nu=0.799eV$, has been comparatively combined with those under dark condition for characterizing the bell-shaped negative humps in the gate current and subthreshold drain leakage under a large drain bias.

Screening of Nitrosamine Impurities in Sartan Pharmaceuticals by GC-MS/MS

  • Chang, Shu-Han;Ho, Hui-Yu;Zang, Chi-Zong;Hsu, Ya-Hui;Lin, Mei-Chih;Tseng, Su-Hsiang;Wang, Der-Yuan
    • Mass Spectrometry Letters
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    • 제12권2호
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    • pp.31-40
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    • 2021
  • Probable human carcinogenic compounds nitrosamines, have been detected as by-product impurities in sartan pharmaceuticals in recent years which has drawn worries for medication safety. To provide a sensitive and effective method for the quality control of sartan pharmaceuticals, this study established a feasible gas chromatography-tandem mass spectrometry (GC-MS/MS) method for simultaneous determination of 13 nitrosamines. The target analytes were separated on a DB-WAX Ultra Inert column (30 m × 0.25 mm; i.d., 0.25 ㎛) and were then subjected to electron impact ionization in multiple reaction monitoring mode. The established method was validated and further employed to analyze authentic samples. Limits of detection (LODs) and limits of quantification (LOQs) of the 13 nitrosamines were 15-250 ng/g and 50-250 ng/g, respectively, which also exhibited intra-day and inter-day accuracies of 91.4-104.8%, thereby satisfying validation criteria. Five nitrosamines, viz., N-nitrosodiethylamine, N-nitrosodimethylamine, N-nitrosodiphenylamine, N-nitrosomorpholine, and N-nitrosopiperidine were detected at concentrations above their LODs in 68 positive samples out of 594 authentic samples from seven sartans.