We present a null testing method fer aspheric surfaces, utilizing a phase-shifting diffraction grating interferometer along with a binary amplitude computer generated hologram (CGH). The binary amplitude CGH is designed to compensate for the wavefront between a point source and the aspheric surface under test. The fringe visibility of the grating interferometer is controlled easily by selecting suitable grating diffraction orders for the measurement and reference wavefronts or by optimizing the groove shape of the grating used. The binary amplitude CGH is designed by numerical analysis of ray tracing and fabricated using e-beam lithography for autostigmatic testing. Experimental results of a large-scale aspheric mirror surface are discussed to verify the measurement performance of the proposed diffraction grating interferometer.
Kim, Youngju;Oh, Ohsung;Kim, Jongyul;Lee, Seung Wook
Journal of radiological science and technology
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v.38
no.1
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pp.39-49
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2015
One of properties which X-ray and Neutron can be applied nondestructive test is penetration into the object with interaction leads to decrease in intensity. X-ray interaction with the matter caused by electrons, Neutron caused by atoms. They share applications in nondestructive test area because of their similarities of interaction mechanism. Grating interferometer is the one of applications produces phase contrast image and dark field image. It is defined by Talbot interferometer and Talbot-Lau interferometer according to Talbot effect and Talbot-Lau effect respectively. Talbot interferometer works with coherence beam like X-ray, and Talbot-Lau has an effect with incoherence beam like Neutron. It is important to expect the interference in grating interferometer compared normal nondestructive system. In this paper, simulation works are conducted according to Talbot and Talbot-Lau interferometer in case of X-ray and Neutron. Variation of interference intensity with X-ray and Neutron based on wave theory is constructed and calculate elements consist the system. Additionally, Talbot and Talbot-Lau interferometer is simulated in different kinds of conditions.
X-ray grating interferometry has been an active area of research in recent years. In particular, various studies have been carried out for the practical use of the x-ray grating interferometer in medical and industrial fields. For the commercialization of the system, it needs to be optimized for its application. In this study, we have developed a prototype of the compact high energy x-ray grating interferometer of which the high effective energy and compactness is of our primary feature of design. We have designed the Talbot-Lau x-ray interferometer in a symmetrical geometry with an effective energy of 54.3 keV. The system has a source-to-analyzer grating distance of 788.4 mm, which is compact enough for a commercial product. In a normal operation, it took less than ten seconds to acquire a set of phase stepping images. The acquired images had a maximum visibility of about 15%, which is relatively high compared with the visibilities of the other high-energy grating interferometric systems reported so far.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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v.34D
no.3
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pp.105-113
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1997
We constructed a very accurate fiber bragg grating sensor system using an unbalanced mach-zehnder interferometer which converts the measurand-induced bragg wavelength shift to phase change of th einterference signal. With a shielded reference grating, output phase drift which orginates from the thermal drift on the interferometer was compensated. Mesured accuracy of the constructed system was 0.03 .deg. C and 0.26.mu. strain for temperature and strain measuremtn, respectively. It is over 300 times better resolution compared to the conventional optical spectrum analyzer which has 0.1nm wavelength resolution capability.
An improved low coherence interferometer system and a new analysis method for the accurate measurement of the optical path difference error of an AWG (Arrayed-Waveguide Grating) are described. The use of software simplifies the experimental setup by eliminating the hardware (clock generator). In addition, the actual distances between the peak positions of the adjacent interference signals are calculated using interpolation methods. The wavelength transmission characteristics of the AWG are calculated assuming the measured phase errors. The calculated AWG characteristic is quite similar to the actual measurement result, confirming accuracy of the proposed measurement setup.
Kim, Daeseung;Kim, Youngju;Lee, Seho;Lee, Seung Wook
Journal of radiological science and technology
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v.42
no.1
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pp.67-75
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2019
Grating interferometry based imaging technology is a kind of radiation imaging system, which can acquire not only absorption image but also phase difference and dark field image using the Talbot pattern. However, because of the technological difficulties and high cost of fabricating the gratings that make up the system, much efforts are being made to look for ways to replace them. The is a preliminary study to see how the Talbot pattern transfer through various kinds of scintillators and if the optical grating can be a way to replace the conventional absorption gratings. The geometry of the interferometer, the scintillator model, and the scintillator thickness are the main inputs for our simulation. We have used the concept of modulation for quantitative analysis of the contrast ratio of the Talbot pattern. This research is expected to provide very useful information on the design of optical gratings, which is an alternative way to analyze the Talbot pattern, which we have filed a patent on.
We present a novel concept of a phase-shifting diffraction-grating interferometer, which is intended for the optical testing of concave mirrors with high precision. The interferometer is configured with a single reflective diffraction grating, which performs multiple functions of beam splitting, beam recombination, and phase shifting. The reference and test wave fronts are generated by means of reflective diffraction at the focal plane of a microscope objective with large numerical aperture, which allows testing fast mirrors with low f-numbers. The fiber-optic confocal design is adopted for the microscope objective to focus a converging beam on the diffractive grating, which greatly reduces the alignment error between the focusing optics and the diffraction grating. Translating the grating provides phase shifting, which allows measurement of the figure errors of the test mirror to nanometer accuracy.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.16
no.10
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pp.203-208
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1999
By tilting the reference mirror of Twynman-Green interferometer having a reference mirror and a moving mirror, firinge pattern composed of bright and dark parallel lines can be obtained and the fringe pattern is shifted according to the displacement of the mowing mirror. Several studies are executed for displacement measurement by detecting the intensity of the fringe with photo-diodes having small detecting area. In this study, to improve the sensitivity and robustness, the intensity of fringe is detected by using a large-area quadratic photo-diode masked with a grating panel having four kinds of binary grating having phase-difference of 0, {\pi}$/4, {\pi}$/2, 3 {\pi}$/4. The phase of the fringe is calculated with a simple 4-buckets algorithm. A experimental result shows that standard deviation of 5.653 nm is obtained comparing with a capacitive type gap sensor having nearly 1 nm accuracy.
The phase-shifting diffraction-grating interferometer proposed in the investigation uses a diffraction grating that performs manifold functions of beam splitting, beam recombination, and phase shifting. The reference and measurement waves generated by means of diffraction have different amplitudes depending on their orders of diffraction, so the interference fringe pattern resulting from the two waves tends to yield poor visibility. To cope with this problem, we select a phase grating of reflection type and attempt to improve the interference visibility with optimization of the groove shape of the grating through electromagnetic analysis.
The soft x-ray(10nm-100nm) interferometer is a modified Mach-Zehnder type interferometer and it consists of two beam-splitters and four totally reflecting mirrors. The beam-splitters used here are 50% transmission and 50% reflection grating type. The diffraction patterns of beam splitters(1st B.S.) were investigated with a He-Ne laser. The diffraction patterns produced by the soft x-ray interferometer (2nd B.S.) were also investigated in intensities positions. The diffraction patterns of 20 degree grazing incidence on the beam splitters(1st B.S.) show a circular array of spots. Both the reflected and the transmitted beams show the same patterns but symmetric circles on the screen. The maximum intensity appears roughly when n is in the zeroth and odd orders and the suppressed peak(missing order) appears when n is in even orders. Intensities of 3 center fringes(n = 0, $\pm$1) are stronger than others. These results confirm the reduced grating equation and make agree with the intensity distribution function. It was found that the final patterns produced by the soft x-ray interferometer (2nd B.S.) consisted of fine fringes which were caused by two of three diffraction beams that were arrived at the second beam-splitter.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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