Electrical Characterization of Lateral NiO/Ga2O3 FETs with Heterojunction Gate Structure (이종접합 Gate 구조를 갖는 수평형 NiO/Ga2O3 FET의 전기적 특성 연구)
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- Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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- v.36 no.4
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- pp.413-417
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- 2023