The surface properties of AI(Si, Cu) alloy film after plasma etching using the chemistries of chlorinated and fluorinated gases with varying the etching time have been investigated using X-ray Photoelectron Spectroscopy. Impurities of C, Cl, F and O etc are observed on the etched AI(Si, Cu) films. After 95% etching, aluminum and silicon show metallic states and oxidized (partially chlorinated) states, copper shows Cu metallic states and Cu-Cl$_{x}$(x$_{x}$ (x$_{x}$ (1
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.17
no.7
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pp.701-707
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2004
High aspect ratio silicon structure through deep silicon etching process have become indispensable for advanced MEMS applications. In this paper, we present the results of modified Bosch process to obtain anisotropic silicon structure with conventional Inductively Coupled Plasma (ICP) etcher instead of the expensive Bosch process systems. In modified Bosch process, etching step ($SFsub6$) / sidewall passivation ($Csub4Fsub8$) step time is much longer than commercialized Bosch scheme and process transition time is introduced between process steps to improve gas switching and RF power delivery efficiency. To optimize process parameters, etching ($SFsub6$) / sidewall passivation ($Csub4Fsub8$) time and ion energy effects on etching profile was investigated. Etch profile strongly depends on the period of etch / passivation and ion energy. Furthermore, substrate temperature during etching process was found to be an important parameter determining etching profile. Test structures with different pattern size have been etched for the comparison of the aspect ratio dependent etch rate and the formation of silicon grass. At optimized process condition, micropatterns etched with modified Bosch process showed nearly vertical sidewall and no silicon grass formation with etch rate of 1.2 ${\mu}{\textrm}{m}$/ min and the size of scallop of 250 nm.
Kim, Taek-Seung;Han, Seung-Cheol;Kim, Jae-Kwan;Lee, Ji-Myon
Korean Journal of Metals and Materials
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v.46
no.4
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pp.217-222
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2008
Characteristics of etching and induced surface morphology variation by wet-etching of n-face n-type GaN were investigated using KOH solutions. It was observed that hexagonal pyramids were formed on the etched surface regardless of etching conditions. However, the size of the hexagonal pyramids was changed as the etching time and temperature increased, respectively. Initially, as the etching time and concentration of KOH solution increased, the hexagonal pyramid was observed to be dissociated into smaller pyramids. However, as the etching time increased further, the size of the hexagonal pyramids increased again, indicating that the etching of N-face n-type GaN by KOH solutions proceeded through the evolution of hexagonal pyramids, such as formation, dissociation and enlargement of pyramids. Furthermore, it was also observed that there is a correlation between the photoluminescence intensity of the etched surface and the value of root-mean-square roughness. The intensity of PL increased as the roughness value increased due to the enhancement of the extraction efficiency of the generated photons.
The alkali treated and black dyed PET fabrics were sputter etched under Ar gas atmosphere. The color depth of PET fabrics were increased with sputter etching time only under some limits of discharge power. And above that limits of discharge power the color depth of PET fabrics was decreased by increasing discharge power and treatment time. Minute cracks were made by sputter etching in the whole surface of fabrics to the direction of perpendicular to the longitudinal side of yarns. The fineness and density of minute crack were increased with lowering discharge power. And the size of crack was far smaller than that of microcrater which was obtained by alkali treatment. It is considered that the increase of color depth is related to the minute crack. The water permeation time of sputter etched fabrics was increased with increasing discharge power and treating time. The increase of color depth attained by sputter etching was fully kept through repeated laundering.
Koo, Bon Sik;Kim, Yong Hae;Cho, Yeun Chung;Park, Ki Ho;Won, Eun Hee;Koo, Kang;Son, Tae Won
Textile Coloration and Finishing
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v.9
no.2
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pp.50-56
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1997
Poly(ethylene terephthalate) (PET) has been etched by sputtering in the presence of argon gas and the resulting surface modifications investigated via weight loss, time of water permeation, half value period, scanning electron microscope(SEM) and color difference measurements. According to increasing sputter etching time, weight loss increased, the time of water permeation and half value period of the sputter etched PET fabrics decreased. Color depth of fabrics increased by increasing sputter etching time. We investigated the fabric surface modification by SEM. Many microcraters on the fabric surface formed by the sputter etching resulted in increase of surface area of the fabric and wettability.
Surface morphology and optical properties such as transmittance and haze effect of glass etched by physical and chemical etching processes were investigated. The physical etching process was carried out by pen type sandblasting process with $15{\sim}20{\mu}m$ dia. of $Al_2O_3$ media; the chemical etching process was conducted using HF-based mixed etchant. Sandblasting was performed in terms of variables such as the distance of 8 cm between the gun nozzle and the glass substrate, the fixed air pressure of 0.5bar, and the constant speed control of the specimen stage. The chemical etching process was conducted with mixed etching solution prepared by combination of BHF (Buffered Hydrofluoric Acid), HCl, and distilled water. The morphology of the glass surface after sandblasting process displayed sharp collision vestiges with nonuniform shapes that could initiate fractures. The haze values of the sandblasted glass were quantitatively acceptable. However, based on visual observation, the desirable Anti-Glare effect was not achieved. On the other hand, irregularly shaped and sharp vestiges transformed into enlarged and smooth micro-spherical craters with the subsequent chemical etching process. The curvature of the spherical crater increased distinctly by 60 minutes and decreased gradually with increasing etching time. Further, the spherical craters with reduced curvature were uniformly distributed over the etched glass surface. The haze value increased sharply up to 55 % and the transmittance decreased by 90 % at 60 minutes of etching time. The ideal haze value range of 3~7 % and transmittance value range of above 90 % were achieved in the period of 240 to 720 minutes of etching time for the selected concentration of the chemical etchant.
Kim, Youn-Hwi;Shin, Soo-Yeon;Cho, In-Ho;Lee, Joon-Seok
Journal of Dental Rehabilitation and Applied Science
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v.23
no.4
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pp.269-281
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2007
Fluoric acid etching is an essential procedure in cementation of reinforced ceramics to tooth surface. But there have been few studies about the changes of surface structure and flexural strength of IPS $Empress^{(R)}$ 2 ceramic according to the etching time. The objectives of this study were to examine the surface structure changes and the difference in biaxial flexural strength of IPS $Empress^{(R)}$ 2 ceramic according to various etching times. Sixty one disk-shaped specimens of IPS $Empress^{(R)}$ 2 ceramic($14mm{\times}1.2mm$) were fabricated for the biaxial flexural strength test and SEM analysis according to the manufacturer's recommendations. Sixty specimens were divided into 6 groups(n=10) according to the time of HF acid etching(0, 20, 180 and 300s)and silane/resin cement application. Each disk was loaded using a piston-on-3 ball biaxial configuration in a universal testing machine. The failure loads(N) were recorded, and the biaxial flexural strength for each disk was calculated. A one-way analysis of variance and independent t-test on transformed fracture strength data were used to determine significant differences between groups. The groups of no cementation showed a trend toward progressive weakening with increasing the etching time. However, this was not statistically significant at p=0.05 level. The groups of resin cementation exhibited no apparent trend in their mean strength values. SEM photomicrographs showed very different results of etching. Within the conditions of this study, alteration of surface topography by acid etching does not have a deleterious effect on the biaxial flexural strength of IPS $Empress^{(R)}$ 2 ceramic.
The present tendency of electrical and electronics is concentrated on MEMS devices for advantage of miniaturization, intergration, low electric power and low cost. Therefore it is essential that high aspect ratio and high etch rate by HDP technology development, so that silicon deep trench etching reactions was studied by ICP equipment. Deep trench etching of silicon was investigated as function of platen power, etch step time of etch/passivation cycle time and SF$\_$6/:C$_4$F$\_$8/ flow rate. Their effects on etch profile, scallops, etch rate, uniformity and selectivity were also studied.
The crystallization behavior and microstructural change of the glass-ceramics were analyzed as a function of concentration and etching time of the HF solution in order to enhance the degree of crystallinity induced by heterogeneous nucleation of glass of bottom ash containing 15 wt% $Li_2O$. The nucleation site seemed to be generated where the Si ion was eluted. The main crystal phases in the glass-ceramics fabricated in this study were $\beta$-spodumene and $Li_2SiO_3$. The specimens etched with HF of 0.5 vol% within 0~60 seconds showed increased crystalline peak intensities in XRD pattern with etching time compared to no-etched one. Also the crystal size and crystal occupancy in the glass matrix observed by SEM were increased with etching time. For the glass-ceramics etched with 1.0 and 2.0 vol% HF solution, the etching time over 10 s was not effective to increase the crystallinity. From this study, it was found that the glass-ceramics with the higher crystallinity could be obtained by HF-etching followed by heat treatment process, even though the nucleating agent or 2-stages thermal treatment process were not used.
The structural and optical features of Porous Silicon(PS) were investigated; the porous silicon was prepared by electrochemical etching of silicon wafers in HF solution. The morphologies and Photoluminescece(PL) features of the PS were investigated in terms of etching time, current density and aging conditions. The average pore diameter and pore depth were determined by current density and etching time, respectively. As-prepared PS exhibited the maximum PL peak at the wavelength of ∼ 450 nm. The degree of deviation from as-prepared PS during aging treatment seemed to depend on the microstructure as well as morphology of the PS. It is found that etching current density played an important role on the microstructural features of the PS.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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