Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2009.05a
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pp.38.1-38.1
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2009
Plasma etching is an essential process for electronic device industries and the particulate contamination during plasma etching has been interested as a big issue for the yield of productivity. The oxynitride glasses have a merit to prevent particulate contamination due to their amorphous structure and plasma etching resistance. The YSiAlON oxynitride glasses with increasing nitrogen content were manufactured. Each oxynitride glasses were fluorine-plasma etched and their plasma etching rate and surface roughness were compared with reference materials such as sapphire, alumina and quartz. The reinforcement mechanism of plasma etching resistance of the YSiAlON glasses studied by depth profiling at plasma etched surface using electron spectroscopy for chemical analysis. The plasma etching rate decreased with nitrogen content and there was no selective etching at the plasma etched surface of the oxynitride glasses. The concentration of silicon was very low due to the generation of SiF4 very volatile byproduct and the concentration of aluminum and yttrium was relatively constant. The elimination of silicon atoms during plasma etching was reduced with increasing nitrogen content because the content of the nitrogen was constant. And besides, the concentration of oxygen was very low on the plasma etched surface. From the study, the plasma etching resistance of the glasses may be improved by the generation of nitrogen related structural groups and those are proved by chemical composition analysis at plasma etched surface of the YSiAlON oxynitride glasses.
Kang, Junyoung;Hussain, Shahzada Qamar;Kim, Sunbo;Park, Hyeongsik;Le, Anh Huy Tuan;Yi, Junsin
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.430.2-430.2
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2016
The front transparent conductive oxide (TCO) films in thin fill solar cell should exhibit high transparency, conductivity, good surface morphology and excellent light scattering properties. The light trapping phenomenon is limited due to random surface structure of TCO films. The proper control of surface structure and uniform cauliflower TCO films may be appropriate for efficient light trapping. We report light trapping scheme of ICP-RIE glass texturing by SF6/Ar plasma for high roughness and haze ratio of ITO films. It was observed that the variation of etching time, pattern size and Ar flow ratio during ICP-RIE process were important factors to improve the diffused transmittance and haze ratio of textured glass. The ICP-RIE textured glass showed low etching rates due to the presence of metal elements like Al, B, F and Na. The ITO films deposited on textured glass substrates showed the high RMS roughness and haze ratio in the visible wavelength region. The change in surface morphology showed negligible influence on electrical and structural properties of ITO films. The ITO films with high roughness and haze ratio can be used to improve the performance of thin film solar cells.
A Sand blasting technology has been used to address via and trench processing of glass wafer of optic semiconductor packaging. Manufactured sand blast that is controlled by blast nozzle and servomotor so that 8" wafer processing may be available. 10mm sq test device manufactured by Dry Film Resist (DFR) pattern process on 8" glass wafer of $500{\mu}m's$ thickness. Based on particle pressure and the wafer transfer speed, etch rate, mask erosion, and vertical trench slope have been analyzed. Perfect 500 um tooling has been performed at 0.3 MPa pressure and 100 rpm wafer speed. It is particle pressure that influence in processing depth and the transfer speed did not influence.
The surface treatment of cover glass for conversion efficiency of photovoltaic cell is important to reduce reflectivity and to increase the incident light. In this work, random textured anti glare (RTAG) glass was prepared by wet surface coating method. Optical properties due to the changes of surface morphology of RTAG glass were compared and conversion efficiency of photovoltaic cell was researched. Grain size and changes of surface morphologies formed with surface etching time greatly affected optical transmittance and transmission haze. Current density (Jsc) were high at the condition when surface morphologies reflection haze were low and transmission haze were high. Jsc was $40.0mA/cm^2$ at glancing angle of $90^{\circ}$. Incidence light source was strongly influenced by surface treatment of cover glass at high incidence angle but was hardly affected light source at the low angle of incidence.
Etching process of PMMA (Polymethyl Methacrylate) on glass surface was investigated by dry etching technique using remote plasma. To determine the etching characteristics, the remote plasma etching was conducted for various process parameters such as plasma power, reaction gas and distance from plasma generation. As the distance from the plasma generation was increased, the etch rate of PMMA was linearly decreased by radical density in plasma. PMMA has removed by reactive radicals in the plasma. The etch rate increased with plasma power because of more reactive radicals. The etch rate and surface roughness of PMMA increased with $O_2$ concentration in the etchant.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.11
no.4
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pp.174-177
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2010
We have developed an environment-friendly etching process, an alternative to the dichromic acid etching process, as a pretreatment of acrylonitrile-butadiene-styrene (ABS) plastic for electroless plating. In order to plate ABS plastic in an electroless way, there should be fine holes on the surface of the ABS plastic to enhance mechanically the adhesion strength between the plastic surface and the plate. To make these holes, the surface was coated uniformly with dispersed chemical foaming agents in a mixture of environmentally friendly dispersant and solvent by the methods of dipping or direct application. The solvent seeps into just below the surface and distributes the chemical foaming agents uniformly beneath the surface. After drying off the surface, the surface was heated at a temperature well below the glass transition temperature of ABS plastic. By pyrolysis, the chemical foaming agents made fine holes on the surface. In order to discover optimum conditions for the formation of fine holes, the mixing ratio of the solvent, the dispersant and the chemical foaming agent were controlled. After the etching process, the surface was plated with nickel. We tested the adhesion strength between the ABS plastic and nickel plate by the cross-cutting method. The surface morphologies of the ABS plastic before and after the etching process were observed by means of a scanning electron microscope.
Laser ablation of glass substrates (8K-7 and synthetic quartz) using a transversely excited atmospheric (TEA) $CO_2$ laser has been inverstigated to obtain high speed etching. The ablation occurs by local heating of a substrate with a focused TEA-$CO_2$ laser beam. The dependence of ablation rate on pulse count and repetition-rate of laser has been discussed.
Szyszka, B.;Ruske, F.;Sittinger, V.;Pflug, A.;Werner, W.;Jacobs, C.;Kaiser, A.;Ulrich, S.
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2007.08a
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pp.181-185
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2007
We report on our material and process research on ZnO:Al films and on our investigations on wet chemical etching using a variety of etching solutions. We achieve resistivity as low as $750{\mu}{\Omega}cm$ for ZnO:Al films with film thickness of 140 nm. Etching with phosphorous acid allows for accurate fine patterning of the ZnO:Al films on glass substrates.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.07a
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pp.561-564
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2000
Silicon capacitive pressure sensor has been fabricated by using electrochemical etching stop and silicon-to-glass electrostatic bonding technique. A diaphragm structure is designed to compensate the nonlinear response. A cavity is etched into the silicon to the depth of 2$\mu\textrm{m}$ by anisotropic etching in 20wt.% TMAH solution at 80$^{\circ}C$. A fabricated sensor showed 3.3 pF zero-pressure capacitance, 297 pp.m/mmHg sensitivity, and a 7.4 7%F.S. nonlinear response in a 0-1 kgf/cm$^2$pressure range.
Park, Hyeongsik;Jung, Jaesung;Shin, Myunghun;Kim, Sunbo;Yi, Junsin
Current Photovoltaic Research
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v.4
no.3
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pp.119-123
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2016
We discussed various cover glass substrates available for photovoltaic (PV) modules, and investigated the fabrication methods of light trapping structures for the efficiency enhancement of PV modules: wet and dry etching or laser and direct patternings. We also introduced the analysis of haze at etched glass surfaces as a function of wavelength and also presented a anti-reflection coating technology for PV module.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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