• 제목/요약/키워드: Edge

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경계선 검출 성능에 영향을 주는 변수 변화에 따른 경계선 검출 알고리듬 성능의 정량적인 평가 방법 (A Method for Quantitative Performance Evaluation of Edge Detection Algorithms Depending on Chosen Parameters that Influence the Performance of Edge Detection)

  • 양희성;김유호;한정현;이은석;이준호
    • 한국통신학회논문지
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    • 제25권6B호
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    • pp.993-1001
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    • 2000
  • This research features a method that quantitatively evaluates the performance of edge detection algorithms. Contrary to conventional methods that evaluate the performance of edge detection as a function of the amount of noise added to he input image, the proposed method is capable of assessing the performance of edge detection algorithms based on chosen parameters that influence the performance of edge detection. We have proposed a quantitative measure, called average performance index, that compares the average performance of different edge detection algorithms. We have applied the method to the commonly used edge detectors, Sobel, LOG(Laplacian of Gaussian), and Canny edge detectors for noisy images that contain straight line edges and curved line edges. Two kinds of noises i.e, Gaussian and impulse noises, are used. Experimental results show that our method of quantitatively evaluating the performance of edge detection algorithms can facilitate the selection of the optimal dge detection algorithm for a given task.

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저조도 환경에서 명암도 분석 기반의 에지 검출 (Edge Detection based on Contrast Analysis in Low Light Level Environment)

  • 박화정;김남호
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2022년도 춘계학술대회
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    • pp.437-440
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    • 2022
  • 현대 사회는 4차 산업 혁명과 IoT 기술 등의 발전으로 영상 처리 분야의 활용이 급증하고 있다. 특히, 에지 검출은 이미지 분류, 객체 검출 등 영상 처리 응용에서 필수적인 전처리 과정으로 여러 분야에서 널리 사용되고 있다. 에지를 검출하기 위한 기존의 방법에는 소벨 필터(Sobel edge detection filter), 로버츠 필터(Roberts edge detection filter), 프리윗 필터(Prewitt edge detection filter), LoG(Laplacian of Gaussian) 등이 있다. 하지만 기존의 방법들은 명암도가 낮은 저조도 환경에서 에지 검출 특성이 다소 미흡한 성능을 보인다는 단점이 있다. 따라서 본 논문에서는 저조도 환경에서도 에지 검출 특성을 높이기 위해 명암도 분석에 기반한 에지 검출 알고리즘을 제안한다.

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에지 정보 가중치를 적용한 에지 강조 오차 확산 방법 (The Edge Enhanced Error Diffusion Appling Edge Information Weights)

  • 곽내정;양운모;유창연;한재혁
    • 한국콘텐츠학회논문지
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    • 제3권3호
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    • pp.11-18
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    • 2003
  • 오차 확산 방법은 연속 계조 영상을 이진 영상으로 표현할 때 우수한 화질을 보이지만 에지 영역에서는 에지 정보가 흐려지는 특성이 있다. 이를 개선하기 위해 원영상의 국부적 특성을 고려하여 에지 강조 가중치를 다르게 적용하는 방법을 제안한다. 제안방법은 국부적 특성의 척도로 3$\times$3 소벨연산자를 이용한 에지 정보를 사용했다. 먼저 원영상을 소벨연산자를 이용해 에지를 검출한다. 검출된 에지 정보의 정규화 값을 입력으로 하는 정현파 함수로 에지 정보에 따라 에지 정보 가중치 함수를 구한다. 구해진 에지 정보 가중치 함수와 입력 화소 값을 곱하여 에지 강조 가중치를 구하여 해프톤 영상의 에지를 강조한다. 제안 방법의 성능은 에지 상관도 평가 함수와 해프톤 영상의 역해프톤 영상을 이용하여 기존의 방법과 비교했다. 제안방법을 적용한 결과 영상은 에지가 강조되어 시각적으로 선명한 결과를 보이고 미세한 에지도 잘 표현되어졌다. 또한 기존의 방법에 비해 에지의 재현성이 개선되었다.

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실시간 영상 처리를 위한 향상된 영역 경계 검출 (An Improved Area Edge Detection for Real-time Image Processing)

  • 김승희;남시병;임해진
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제14권1호
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    • pp.99-106
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    • 2009
  • 경계 검출은 영상 인식의 성능을 좌우하는 중요한 단계로서 지금까지 많은 경계 검출 방법들이 연구되어 왔음에도 불구하고 여전히 어려운 문제로 남아있으며, 영상에서 객체를 인식하거나 특정 영역을 추적하는 등의 유일한 방법은 아니지만 영상 인식 응용 분야에서 중요한 요소들 중의 하나이다. 본 논문에서는 미분 연산자를 이용한 경계검출 방법과는 달리 이진화 영상에서 2개의 이웃된 픽셀 정보를 참조하여 미리 정의된 4개의 경계 픽셀 패턴과 비교하여 경계 픽셀을 찾고, 다음 경계 검출 탐색 픽셀에 대한 방향을 결정하여 영역의 경계를 검출하며, 다음 영역의 경계 검출을 위하여 방문하지 않은 픽셀들을 탐색하면서 경계 검출 단계를 반복 수행하여 이진화 영상의 경계를 검출하는 방법을 제안하였다. 영상 인식에 있어 미분 연산자를 이용하여 경계 검출을 할 경우 경계 검출 다음 단계인 세선화 과정을 생략할 수 있었으며, 기존의 영역 경계 추적 방법에 비해 경계 검출 알고리즘 수행 시간을 단축하여 실시간으로 영상을 인식하는 시스템에 적용하여 전체적인 영상 인식 시간을 단축할 수 있었다.

융기된 영상의 골격선 추출에 의한 에지 보정 알고리듬 (Edge Compensation Algorithm by Extracting the Skeletons from the Uplifted Image)

  • 박미진;양영일
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2000년도 하계종합학술대회 논문집(4)
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    • pp.167-170
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    • 2000
  • In this paper, we propose the edge compensation algorithm which connects the adjacent edges without losing the information of the skeletons on the edge image. The proposed edge compensation algorithm is composed of succeeding two steps. In the first step, the uplifted image is obtained by applying the uplifting process to the edge image. The next step is to extract the edge image from the uplifted image using the skeleton extraction algorithm. Experimental results show that the proposed method connects the adjacent edges without the distortion of the original edge information compared to the traditional method

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Edge detection 기반의 SIFT 알고리즘을 이용한 kidney 특징점 검출 방법 (Kidney's feature point extraction based on edge detection using SIFT algorithm in ultrasound image)

  • 김성중;유재천
    • 한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집
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    • 한국컴퓨터정보학회 2019년도 제60차 하계학술대회논문집 27권2호
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    • pp.89-90
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    • 2019
  • 본 논문에서는 ultrasound image Right Parasagittal Liver에 edge detection을 적용한 후, 특징점 검출 알고리즘인 Scale Invarient Feature Transfom(SIFT)를 이용하여 특징점의 위치를 살펴보도록 한다. edge detection 알고리즘으로는 Canny edge detection과 Prewitt edge detection을 적용하기로 한다.

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AM 기법을 이용한 TM 마스크의 형성 및 SAR 영상의 경계검출 알고리듬 (The Generation of a TM Mask Using the AM Technique and the Edge Detection Algorithm for a SAR Image)

  • 한수용;최성진;라극환
    • 전자공학회논문지B
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    • 제29B권4호
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    • pp.36-47
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    • 1992
  • In this paper, a set of TM(template matching) mask using the AM(associative mapping) technique was generated and the edge detection algorithm for a SAR image was proposed. And also, the performance of the proposed edge detection algorithm was tested with the conventional edge detection techniques. The proposed edge detection algorithm created an edge image which was more accurate and clear than the conventional edge detection techniques and the performance of the proposed detection technique was not deteriorated for low intensity area in the image because the uncertainly thresholded value genetated by the conventional detection methods was requested. Also, the number of masks and the detection time were reduced by adjusting resolution of edge detection and the consideration for the threshold value extracting the edge was very intuitive.

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Measurement Resolution of Edge Position in Digital Optical Imaging

  • Lee, Sang-Yoon;Kim, Seung-Woo
    • International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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    • 제1권1호
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    • pp.49-55
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    • 2000
  • The semiconductor industry relies on digital optical imaging for the overlay metrology of integrated circuit patterns. One critical performance demand in the particular application of digital imaging is placed on the edge resolution that is defined as the smallest detectable displacement of an edge from its image acquired in digital from. As the critical feature size of integrated circuit patterns reaches below 0.35 micrometers, the edge resolution is required to be less than 0.01 micrometers. This requirement is so stringent that fundamental behaviors of digital optical imaging need to be explored especially for the precision coordinate metrology. Our investigation reveals that the edge resolution shows quasi-random characteristics, not being simply deduced from relevant opto-electronic system parameters. Hence, a stochastic upper bound analysis is made to come up with the worst edge resolution that can statistically well predict actual indeterminate edge resolutions obtained with high magnification microscope objectives.

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Precise Edge Detection Method Using Sigmoid Function in Blurry and Noisy Image for TFT-LCD 2D Critical Dimension Measurement

  • Lee, Seung Woo;Lee, Sin Yong;Pahk, Heui Jae
    • Current Optics and Photonics
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    • 제2권1호
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    • pp.69-78
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    • 2018
  • This paper presents a precise edge detection algorithm for the critical dimension (CD) measurement of a Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Display (TFT-LCD) pattern. The sigmoid surface function is proposed to model the blurred step edge. This model can simultaneously find the position and geometry of the edge precisely. The nonlinear least squares fitting method (Levenberg-Marquardt method) is used to model the image intensity distribution into the proposed sigmoid blurred edge model. The suggested algorithm is verified by comparing the CD measurement repeatability from high-magnified blurry and noisy TFT-LCD images with those from the previous Laplacian of Gaussian (LoG) based sub-pixel edge detection algorithm and error function fitting method. The proposed fitting-based edge detection algorithm produces more precise results than the previous method. The suggested algorithm can be applied to in-line precision CD measurement for high-resolution display devices.

디지털 영상 처리를 위한 에지 클래스의 설계 (Design of Edge Class for Digital Image Processing)

  • 이강호;안용학;김학춘
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제9권2호
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    • pp.49-56
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    • 2004
  • 본 논문에서는 디지털 영상을 효과적으로 처리하기 위한 에지 클래스를 설계한다. 에지는 디지털 영상에서 물체를 검출하거나 인식하기 위한 핵심적인 형태정보를 포함하는 기초자료로 사용되는 중요한 정보이다. 그러므로 에지를 검출한 후 검출된 에지를 효과적으로 관리하고 다양한 응용이 가능하도록 하는 것은 디지털 영상 처리에 있어 매우 중요하다 기존의 디지털 영상 처리 시스템에서 사용되던 환경은 사용 편의성이나 속도 등의 측면에서 많은 한계점을 가지고 있다. 따라서 본 논문에서는 검출된 에지를 효과적으로 관리할 수 있는 에지 클래스를 설계하고, 이를 에지 검출 알고리즘을 이용하여 테스트해봄으로써 기존의 방법과 비교 분석해 본다.

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