Field emission mechanism of undoped polycrystalline diamond films with a different amount of nondiamond carbon has been investigated using a transparent anode imaging technique and an electrolytic decoration technique. It is confirmed that for the films with a large amount of nondiamond carbon, electron transport occurs mainly through conductive grain boundaries while for the films with a small amount of nondiamond carbon, electron transports preferentially through diamond surface.
CO와 $H_2$의 탄소원을 사용한 마이크로파 플라즈마 화학기상증착 방법으로 SOD 구조에 적용될 양질의 다이아몬드 박막을 형성하였고, SOD 구조를 형성하기 위해 diamond/Si(100) 구조 위에 poly-Si 박막을 저압화학기상 증착법으로 제작하였다. CO/$H_2$탄소원의 유량비 증가에 따라 다이아몬드의 결정은 octahedron 구조에서 cubo-octahedron 구조로 바뀌었으며, 결정면은 {111}과 {100}으로 혼합되어 형성되었다. 비정질 carbon과 non-diamond성분이 없는 양질의 다이아몬드 박막은 CO/$H_2$의 유량비가 0.18일 때 형성되었으며, 주 결정상은 (111) 면이었다. diamond/Si(100) 계면은 void가 없는 평활한 계면을 이루었으며, 다이아몬드 박막의 유전상수, 누설전류와 비저항은 각각 $5.31\times10^{-9}A/cm^2$ 그리고 $9\times{10^7}{\Omega}cm$이었다.
In addition to its similarity to genuine diamond film, diamond-like carbon (DLC) film has many advantages, including its wide band gap and variable refractive index. In this study, DLC films were prepared by the RF PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) method on silicon substrates using methane ($CH_4$) and hydrogen ($H_2$) gas. We examined the effects of the RF power on the electrical properties of the DLC films. The films were deposited at several RF powers ranging from 50 to 175 W in steps of 25 W. The leakage current of DLC films increased at higher deposition RF power. And the resistivities of DLC films grown at 50 W and 175 W were $5\times10^{11}$${\Omega}cm$ and $2.68\times10^{10}$${\Omega}cm$, respectively.
We synthesized the conducting diamond-like carbon films using plasma-enhanced chemical vapor deposition and analysized its characteristics. We obtained the metal-containing diamond-like carbon films using $CH_4$, Ar gas and aluminum target. We observed the changes of electrical conductivity, microhardness and surface morphology according to $Ar/CH_4$ ratio, substrate bias and target bias. As the target bias and $Ar/CH_4$ ratio increase and the substrate bias decreases, the electrical conductivity and surface roughness increase. The increase of hardness involves decrease of the electrical conductivity. Metal-containing amorphous hydrogenated carbon films show improved adhesion on metal substrates compared to pure diamond-like carbon films and better electrical conductivity.
Diamond thin films have been deposited on the silicon substrate by inductively coupled radio frequency plasma enhanced chemical vapor deposition system. The morphological features of thin films depending on methane concentration and deposition time have been studied by scanning electron microscopy and Raman spectroscopy. The diamond particles deposited uniformly on silicon substrate($10{\times}10[mm^2]$) at the pressure of 1[torr], a methane concentration of 1[%], a hydrogen flow rate of 60[sccm], a substrate temperature of $840\{sim}870[^{\circ}C]$, an input power of 1[kw], and a deposition time of 1[hour]. With increasing deposition time, the diamond particles grew, and than about 3 hours have passed, the graphitic phase carbon thin film with "cauliflower-like" morphology deposited on the diamond thin films.
Synthetic diamond films were deposited on pretreated silicon substrate in activated gas phase using RF plasma-assisted CVD. We investigated the influence of $O_2$ gas on facets of diamond crystal. In $H_2-CH_4-O_2$ gas mixture, the increase of oxygen concentration lead to well-faceted diamond particles and increasing crystallinity of diamond films. The deposited diamond films were analyzed by SEM, XRD, Raman spectroscopy.
Diamond films were prepared by a hot filament vapor deposition onto polycrystal silicon nitride substrates. Different kinds of silicon nitride containing CaO and $Fe_{2}O_{3}$ were manufactured to investigate the impurity effect of substrate on the morphology of diamond films and their wear behaviors. Nucleation rates and morphologies of diamond films deposited on various kinds of silicon nitride were compared. The highest nucleation rate was observed in a substrate containing 1% of CaO. Wear tests were performed with a silicon nitride ball on the disk geometry to investigate the tribological behavior of diamond film against silicon nitride. This study demonstrated that different morphologies of diamond film due to substrate impurities produced different wear behavior against silicon nitride.
In this study, the metastable state diamond thin films have been deposited on Si substrates from methand-hydrogen and oxygen mixture usin gMicrowave Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (MWPCVD) method. effects experimental parameters MWPCVD including methan concentrations, oxygen additions, operating pressure, deposition time on the growth rate and crystallinity were investigated. diamond thin film was synthesized under the following conditions: methane concentration of 0.5%(0.5sccm)∼5%(5sccm). oxygen concentration of 0∼80%(2.4sccm). operating pressure of 30Torr∼ 70Torr, deposition time of 1∼32hr. SEM, WRD, and Raman spectroscopy were employed to analyse the growth rate and morphology, crystallinity and prefered growth direction, and relative amounts of diamond and non=diamond phases respectively.
The crystal grains of polycrystalline diamond vary depending on deposition conditions and growth thickness. The diamond thin film deposited by the CVD method has a very rough growth surface. On average, the surface roughness of a diamond thin film deposited by CVD is in the range of 1-100 um. However, the high surface roughness of diamond is unsuitable for application in industrial applications, so the surface roughness must be lowered. As the surface roughness decreases, the scattering of incident light is reduced, the heat conduction is improved, the mechanical surface friction coefficient can be lowered, and the transmittance can also be improved. In addition, diamond-coated cutting tools have the advantage of enabling ultra-precise machining. In this study, the surface roughness of diamond was improved by thermal diffusion reaction between diamond carbon atoms and ferrous metals at high temperature for diamond thin films deposited by MPCVD.
The study investigated the impact of substrate pretreatment on depositing high-quality B-doped diamond (BDD) thin films using the HFCVD method. Films were deposited on Si and Nb substrates after sanding and seeding. Despite identical sanding conditions, BDD films formed faster on Nb due to even diamond seed distribution. Post-deposition, film average roughness (Ra) remained similar to substrate Ra, but higher substrate Ra led to decreased crystallinity. Nb substrate with 0.83 ㎛ Ra exhibited faster crystal growth due to dense, evenly distributed diamond seeds. BDD film on Nb with 0.83 ㎛ Ra showed a wide, stable potential window (2.8 eV) in CV results and a prominent 1332 cm-1 diamond peak in Raman spectroscopy, indicating high quality. The findings underscore the critical role of substrate pretreatment in achieving high-quality BDD film fabrication, crucial for applications demanding robust p-type semiconductors with superior electrical properties.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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