유기 발광소자내 dark spot의 마이크로파 근접장 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용한 연구 (Investigation of dark spots in OLEDs by using a near-field scanning microwave microscope)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2003년도 춘계학술대회 논문집 디스플레이 광소자분야
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- pp.147-150
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- 2003