International Journal of Internet, Broadcasting and Communication
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v.13
no.3
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pp.178-192
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2021
File system forensics typically focus on the contents or timestamps of a file, and it is common to work around file/directory centers. But to recover a deleted file on the disk or use a carving technique to find and connect partial missing content, the evidence must be analyzed using cluster-centered analysis. Forensics tools such as EnCase, TSK, and X-ways, provide a basic ability to get information about disk clusters, but these are not the core functions of the tools. Alternatively, Sysinternals' DiskView tool provides a more intuitive visualization function, which makes it easier to obtain information around disk clusters. In addition, most current tools are for Windows. There are very few forensic analysis tools for MacOS, and furthermore, cluster analysis tools are very rare. In this paper, we developed a tool named FACT (Forensic Analyzer based Cluster Information Tool) for analyzing the state of clusters in a HFS+ file system, for digital forensics. The FACT consists of three features, a Cluster based analysis, B-tree based analysis, and Directory based analysis. The Cluster based analysis is the main feature, and was basically developed for cluster analysis. The FACT tool's cluster visualization feature plays a central role. The FACT tool was programmed in two programming languages, C/C++ and Python. The core part for analyzing the HFS+ filesystem was programmed in C/C++ and the visualization part is implemented using the Python Tkinter library. The features in this study will evolve into key forensics tools for use in MacOS, and by providing additional GUI capabilities can be very important for cluster-centric forensics analysis.
Proceedings of the Korea Society for Simulation Conference
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2003.06a
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pp.67-71
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2003
In order to manage a cluster system that consists of a number servers, management aspects such as configuration management, fault management, performance management, and user management should be considered. Especially, it is necessary to monitor performances for performance and fault management. An agent in each server collects performance counters, status changes, and events occurred in normal or abnormal states. The data collected are delivered to a collector sorter and processed in a report tool for performance analysts and management decision in the cluster system point of view, by detecting fault state and tracing out resource usage, service response, and response, and states until failed. In this paper we propose an architecture modeling of a performance report tool for proactive cluster system management. Some results on a cluster system are presented.
Proceedings of the Korea Contents Association Conference
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2007.11a
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pp.535-538
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2007
System manager needs monitoring tool(S/W) to manage cluster system. But, it is difficult to decide suitable monitoring tool for small SMP cluster system. This document described design of monitoring tool(mon) and development. Mon is monitoring tool for small SMP cluster system using InfiniBand network switch. Function of this tool is monitoring such as computing node(7 node), Infiniband network switch and monitoring of PBS job.
Cluster systems have been widely used for solving problems in various application domains, and regarded as useful high performance computing resources. As the number of cluster system user is increasing, it is no less important to maintain stable operation than to improve cluster system performance. Although hardware preventive maintenance is important for keeping normal operation, the testing tool which can be used for general cluster systems during maintenance has received little attention. In this Paper, considering hardware Preventive maintenance, we suggest a testing tool for hardware of cluster system. The cluster system testing tool which is named CTS(Cluster system Test Suite) has two check routines; one for memory, and the other for NIC respectively. The CTS is designed to support the common features of general cluster systems and all the Jobs such as setting test conditions to querying the results can be done entirely within an integrated GUI environment. CTS is used as the testing tool for two kinds of cluster systems during maintenance, and the experimental results show that CTS reports useful information for cluster systems management.
This paper considers the preventive maintenance scheduling problem of the cluster tool which is one of the most important manufacturing equipments in the next-generation semiconductor production environment. We define a random process that expresses the successive amount of chemicals accumulating inside the tool. Based on the renewal theory, we find the expected value and probability distribution of the time that the amount of accumulated chemicals exceeds a predetermined level. For a given probability that the accumulated chemicals exceeds the predetermined level we present a method to obtain the number of chamber operations to perform the preventive maintenance of that chamber. In addition, a method to get the preventive maintenance schedule for the whole cluster tool is presented. A numerical example is provided to illustrate our method.
Journal of Institute of Control, Robotics and Systems
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v.15
no.12
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pp.1240-1245
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2009
The throughput characteristics of the cluster tool with dual blade robot are analyzed. Using equipment's cycle time chart of the equipment, simple analytic form of the throughput is derived. Then, several important throughput characteristics are analyzed by the throughput formula. First, utilization of the process chamber and the robot are maximized by assigning the equipment to the process whose processing time is near the critical process time. Second, rule for selecting optimal number of process chambers is suggested. It is desirable to select a single process chamber plus a single robot structure for relatively short time process and multi process chambers plus a single robot, namely cluster tool for relatively long time process. Third, throughput variation between equipments due to the wafer transfer time variation is analyzed, especially for the process whose processing time is less than critical process time. And the throughput and the wafer transfer time of the equipments in our fabrication line are measured and compared to the analysis.
Proceedings of the Korean Operations and Management Science Society Conference
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2002.05a
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pp.285-292
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2002
A cluster tool for semiconductor manufacturing is an integrated device that consists of several single wafer processing modules and a wafer transport module based on a robot. The distributed module controllers are integrated by an inter-module communication network and coordinated by a centralized controller, called a cluster tool controller (CTC). Since the CTC monitors and coordinates the distributed complex module controllers for advanced process control, complex commuication messaging and services between the CTC and the module controllers are required. A SEMI standard, CTMC(Cluster Tool Module Communication), specifies application-level communication service requirements for inter-module communication. We propose the use of high-level fieldbuses, for instance. PROFIBUS-FMS, for implementing CTMC since the high-level fieldbuses are well suited for complex real-time distributed manufacturing control applications. We present a way of implementing CTMC using PROFIBUS-FMS as the communication enabler. We first propose improvements of a key object of CTMC for material transfer and the part transfer protocol to meet the functional requirements of modem advanced cluster tools. We also discuss mapping objects and services of CTMC to PROFIBUS-FMS communication objects and services. Finally, we explain how to implement the mappings.
The understanding of tool-rock interaction mechanism is of high essence for improving the rock breaking efficiency and optimizing the drilling parameters in mechanical rock breaking. In this study, the tool-rock interaction models of indentation and cutting are carried out by employing the discrete element method (DEM) to examine the rock failure modes of various brittleness rocks and critical indentation and cutting depths of the ductile to brittle failure mode transition. The results show that the cluster size and inter-cluster to intra-cluster bond strength ratio are the key factors which influence the UCS magnitude and the UCS to BTS ratio. The UCS to BTS strength ratio can be increased to a more realistic value using clustered rock model so that the characteristics of real rocks can be better represented. The critical indentation and cutting depth decrease with the brittleness of rock increases and the decreasing rate reduces dramatically against the brittleness value. This effort may lead to a better understanding of rock breaking mechanisms in mechanical excavation, and may contribute to the improvement in the design of rock excavation machines and the related parameters determination.
Journal of the Korean Institute of Intelligent Systems
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v.27
no.1
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pp.35-41
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2017
This paper presents the development of a monitoring and control system for a vehicle cluster using a model-based design technique. For MBD(model-based design), MATLAB GUI(Graphic User Interface), M programs, simulink, state flow, and tool boxes are used to monitor a number of data such as warning, interrupts, and etc. connected to a real vehicle cluster. As a monitoring tool, a PC(Personal Computer) station interworks with the real vehicle cluster through the interface commands of tool boxes. Thus, unlike existing text-based designs, the MBD based vehicle cluster system provides very easy algorithm updates and addition, since it offers a number of blocks and state flow programs for each functional actions. Furthermore, the proposed MBD technique reduces the required time and cost for the development and modification of a vehicle cluster, because of verification and validation of the cluster algorithm on the monitor through a PC.
In this study we first explain details of the semiconductor manufacturing processes and cluster tools. Then we discuss the problems in current fab layout and cluster tool architecture. As a solution to these problems, we propose the ILE (In-Line EFEM) architecture in which wafer movements are conducted through interconnected EFEMs (Equipment Front End Modules) instead of AMHS (Automated Material Handling System). Then we model the pilot ILE system using discrete event simulation and analyze the cycle time. Finally we compare three different scenarios of equipment layout in the ILE system in terms of cycle time.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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