A Study on Implanted and Annealed Antimony Profiles in Amorphous and Single Crystalline Silicon Using 10~50 keV Energy Bombardment (비정질 및 단결정 실리콘에서 10~50 keV 에너지로 주입된 안티몬 이온의 분포와 열적인 거동에 따른 연구)
-
- Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
- /
- v.28 no.11
- /
- pp.683-689
- /
- 2015