본 연구에서는 바이어스 궤도계전기의 접점재료를 선정하는데 있어 Ag 접점과 AgC 접점의 문제점을 분석하고, 안전성을 평가하는데 목적이 있다. 접점의 용착실험과 반복개폐 실험을 실시하여 접점의 특성을 알아보았다. 실험 결과, Ag 접점은 비교적 낮은 전류에서 용착이 발생하였고, AgC 접점은 온도특성이 우수하여 대전류에서도 용착이 발생하지 않았다. 반복개폐 실험에서는 AgC 접점의 개폐횟수가 증가할수록 저항이 불안정하고 접점에 전이현상이 발생하여 접점소모가 큰 것으로 나타났다. 연구 결과, AgC 접점은 용착특성에서는 우수하나 반복개폐 실험에서 저항변화가 많아 사용상 주의가 요구되며, Ag 접점은 반복개폐 특성은 우수하나 용착특성에서 취약한 것으로 나타났다.
The properties of sintered Ag-SnO$_2$contacts which contain the second oxide were investigated with hardeness, workability, electrical conductivity and are erosion. Ag-SnO$_2$contacts containing ZnO or Bi$_2$O$_3$have most excellent workability and arc erosion endurance.
Vertical-structure light-emitting diodes (V-LEDs) by laser lift-off (LLO) have been exploited for high-efficiency GaN-based LEDs of solid-state lightings. In V-LEDs, emitted light from active regions is reflected-up from reflective ohmic contacts on p-GaN. Therefore, silver (Ag) is very suitable for reflective contacts due to its high reflectance (>95%) and surface plasmon coupling to visible light emissions. In addition, low contact resistivity has been obtained from Ag-based ohmic contacts annealed in oxygen ambient. However, annealing in oxygen ambient causes Ag to be oxidized and/or agglomerated, leading to degradation in both electrical and optical properties. Therefore, preventing Ag from oxidation and/or agglomeration is a key aspect for high-performance V-LEDs. In this work, we demonstrate the enhanced thermal stability of Ag-based Ohmic contact to p-GaN by reducing the thermal compressive stress. The thermal compressive stress due to the large difference in CTE between GaN ($5.6{\times}10^{-6}/^{\circ}C$) and Ag ($18.9{\times}10^{-6}/^{\circ}C$) accelerate the diffusion of Ag atoms, leading to Ag agglomeration. Therefore, by increasing the additional residual tensile stress in Ag film, the thermal compressive stress could be reduced, resulting in the enhancement of Ag agglomeration resistance. We employ the thin Ni layer in Ag film to form Ni/Ag mutli-layer structure, because the lattice constant of NiO ($4.176\;{\AA}$ is larger than that of Ag ($4.086\;{\AA}$). High-resolution symmetric and asymmetric X-ray diffraction was used to measure the in-plane strain of Ag films. Due to the expansion of lattice constant by oxidation of Ni into NiO layer, Ag layer in Ni/Ag multi-layer structure was tensilely strained after annealing. Based on experimental results, it could be concluded that the reduction of thermal compressive stress by additional tensile stress in Ag film plays a critical role to enhance the thermal stability of Ag-based Ohmic contact to p-GaN.
To evaluate the possible route of intrafamilial transmission among carriers of hepatitis B surface antigen ($HB_sAg$), epidemiologic and serologic data were obtained on 107 household contacts of 35 carriers of HBsAg and on 71 household contacts of 25 controls who were negative for serologic markers of hepatitis B virus. The HBsAg prevalence was 26.5% among the contacts of carriers compared to 0.0% among the contacts of controls. And the combined prevalence for all hepatitis markers was 48.5% among the contacts of carriers compared to 26.0% among the contacts of controls(p<0.05). Especially the offspring of carriers showed significantly higher risk in the combined prevalence for all hepatitis markers (p<0.05). There were no significant relationship between HBV infection and past history like acupuncture, transfusion, operation and tattooed. Factors associated with the risk of intrafamilial transmission of HBV were not found in the sharing of household articles such as razor, towel, drinking glass, nail clippers, toothbrush and tableware.
The crysralline silicon solar cell where the solar cell market grows rapidly is occupying of about 85% or more high efficiency and low cost endeavors many crystalline solar cells. The fabricaion process of high efficiency crystalline silicon solar cells necessitate complicated fabrication processes and Ti/Pd/AG contact, This metal contacts have only been used in limited areas in spite of their good srability and low contact resistance because of expensive materials and process. Commercial solar cells with screen-printed solar cells formed by using Ag paste suffer from loe fill factor and high contact resistance and low aspect ratio. Ni and Cu metal contacts have been formed by using electroless plating and light-induced electro plating techniques to replace the Ti/Pd/Ag and screen-printed Ag contacts. Copper and Silver can be plated by electro & light-induced plating method. Light-induced plating makes use the photovoltaic effect of solar cell to deposit the metal on the front contact. The cell is immersed into the electrolytic plating bath and irradiated at the front side by light source, which leads to a current density in the front side grid. Electroless plated Ni/ Electro&light-induced plated Cu/ Light-induced plated Ag contact solar cells result in an energy conversion efficiency of 16.446 % on 0.2~0.6${\Omega}$ cm, $20{\times}20mm^2$, CZ(Czochralski) wafer.
W/WC-Cu/Ag contacts of 60wt%-40wt% base and contacts with additives(Ni, Co, C) of 1wt% below were prepared by a press-sinter-infiltrate process to compare with their physical properties and arc erosion characteristics. In physical properties, electrical conductivity of contacts with additive is lower than that of base contacts but hardness is higher. The results of arc test show that the erosion rate of contact with -0.1wt% Ni is decreased.
The front metal contact is one of the most important element influences in efficiency in the silicon solar cell. First of all selective of the material and formation method is important in metal contacts. Commercial solar cells with screen-printed contacts formed by using Ag paste process is simple relatively and mass production is easy. But it suffer from a low fill factor and a high shading loss because of high contact resistance. Besides Ag paste too expensive. because of depends income. This paper applied for Ni/Cu metallization replace for paste of screen printing front metal contact. Low cost Ni and Cu metal contacts have been formed by using electroless plating and electroplating techniques to replace the screen-printed Ag contacts. Ni has been proposed as a suitable silicide for the salicidation process and is expected to replace conventional silicides. Copper is a promising material for the electrical contacts in solar cells in terms of conductivity and cost. In experiments Ni/Cu metal contact applied same grid formation of screen-printed solar cell. And it has variation of different grid spacing. It was verified that the wide spacing of grid finger could increase the series resistance also the narrow spacing of grid finger also implies a grid with a higher density of grid fingers. Through different grid spacing found alteration of efficiency.
Ag pastes added to Bi-oxide frits have been applied to the electrode material of Si solar cells. It has been reported that frits induce contacts between the Ag electrodes and the Si wafer after firing. During firing, the control of interfaces among Ag, the glass layer, and Si is one of the key factors for improving cell performance. Specifically, the thermo-physical properties of frits considerably influence Ag-Si contact. Therefore, the thermal properties of frits should be carefully controlled to enhance the efficiency of cells. In this study, the interface structures among Ag electrodes, glass layers, and recrystallites on an $n^+$ emitter were carefully analyzed with the thermal properties of lead-free frits. First, a cross-section of the area between the Ag electrodes and the Si wafer was studied in order to understand the interface structures in light of the thermal properties of the frits. The depth and area of the pits formed in the Si wafer were quantitatively calculated with the thermal properties of frits. The area of the glass layers between the Ag electrodes and Si, and the distribution of recrystallites on the $n^+$ emitter, were measured from a macroscopic point of view with the characteristics of the frits. Our studies suggest that the thermophysical properties should be controlled for the optimal performance of Si solar cells; our studies also show why cell performance deteriorated due to the high viscosity of frits in Ag pastes.
We studied about the manufacture of the drain-source contacts for OTFTs(organic thin-film transistors) by using screen printing method. The conductive fillers used Ag and carbon black. The conductive contacts with $100{\mu}m$ of channel length were screen printed on a silicon dioxide gate dielectric layer and, the pentacene semiconductor was deposited via vacuum deposition. As a result of studying various conductive pastes, we could obtain the OTFTs which exhibited field-effect behavior over arrange of drain-source and gate voltages, similar to devices employing deposited Au contacts. By using screen-printing with conductive paste, the contacts are processed at low temperature, thereby facilitating their integration with heat sensitive substrates.
The purpose of this paper is to investigate the effect of arc current and contact velocity on the erosion of silver contact to be used in low voltage circuit breakers. The arc current range from $2kA_{rms}$ to $20kA_{rms}$. A test system allows the control of the opening velocity profiles with contact velocities up to 10m/s and also enables the synchronization of the contact opening with a point on the arc current waveform. Contact erosion is evaluated by measuring the mass change of the cathode and anode. The results show that increase the opening velocity from 2m/s to 6m/s leads to an decrease in the contact erosion. The material transfer from one electrode to another is shown to depend on the transfer charge and the opening velocity of the contacts.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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