• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2005.07a
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• pp.823-825
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• 2005

이동 기기의 저장장치로 널리 사용되고 있는 플래시 메모리는 하드웨어적 특성으로 인하여 쓰기 전 소거(erase before write) 기법이 사용되고 있다. 이러한 특성으로 인하여 플래시 메모리에서는 성능을 증진시키기 위한 기법이 필요하게 되었으며, 이러한 소프트웨어 모듈을 FTL이라 한다. 플래시 메모리의 용량이 크게 늘어나면서 디스크를 대체할 제품이 등장하고 있으며, 이러한 디스크가 일반 컴퓨터에서의 저장장치로 채택되는 경우가 많아지고 있다. 본 연구에서는 플래시 메모리 기반의 디스크를 이용한 윈도우 파일 시스템에서의 여러 FTL 알고리즘의 성능을 분석, 비교하고, FTL 알고리즘의 올바른 개선 방향을 제시한다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2004.10a
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• pp.580-582
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• 2004

이동 기기의 저장 장치로 널리 사용되는 플래시 메모리는 데이터를 기록하기 전에 해당 블록이 미리 소거되어 있어야 하는 제약이 있다. 또한 각 블록은 소거 횟수의 한계를 가지고 있기 때문에 특정 블록이 집중적으로 사용되는 경우에는 일부 블록의 수명이 일찍 다하게 되어 저장 장치로서의 구명도 짧아지게 된다. 따라서 플래시 메모리 파일 시스템은 고속의 데이터 입출력 성능뿐만 아니라 기록과 소거 동작이 특정 블록에 집중되지 않도록 하여 저장 장치의 내구성을 개선하는 소거 횟수 평준화 기능을 제공해야 한다. 기존에 제안된 소거 횟수 평준화 기법은 복잡한 계산을 필요로 하며 각 블록의 소거 횟수를 유지해야 하는 비용 등으로 인해 자원이 부족한 소형 이동 기기에서 구현하기에는 비효율적이다. 본 논문에서는 플래시 메모리 파일 시스템에서 구현과 동작이 단순하고 어떠한 데이터 접근 형태에 대해서도 평준화 성능이 우수한 효율적인 소거 횟수 평준화 기법을 제안한다. 그리고 제안된 기법을 구현하여 기존 플래시 메모리 파일 시스템의 소거 횟수 평준화 성능과 비교 평가한다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2012.06c
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• pp.75-77
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• 2012

플래시 메모리가 각종 IT 기기의 저장장치로 많이 사용되면서 범죄 관련 증거나 단서가 기기 내에 저장되는 경우가 증가하고 있다. 이러한 경우에 기기 내에 저장된 데이터를 완전히 삭제하기 위하여 안티 포렌식 기술인 와이핑 기법을 사용하는데 이에 대응하기 위해서는 플래시 메모리에 저장된 디지털 증거를 분석하기 위한 디지털 포렌식 기술이 필요하다. 플래시 메모리에 저장되어 있는 데이터를 복구하는 기법이 연구되었으나 특정한 상황을 가정한 특정 파일의 복원에 초점을 두고 있다. 하지만 디지털 포렌식 수사에서 범죄 증거뿐만 아니라 범죄 행위에 관련한 증거도 확보할 필요성이 있지만 이와 같은 연구가 미흡하다. 본 논문은 플래시 메모리에서 안티 포렌식 기술인 파일 와이핑으로 삭제된 파일에 대한 와이핑 증거 확보 기법을 제안한다. 제안 내용은 장치 내의 원본파일과 와이핑 파일로 추정되는 블록들을 검색한 후 갱신시각, 파일에 대한 정보를 통해 서로 비교하여 검증한다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2013.05a
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• pp.887-889
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• 2013

플래시 메모리는 기존 저장 매체와는 달리 읽기 연산보다 쓰기 연산의 수행비용이 매우 크고, 덮어쓰기가 불가능한 특성이 존재한다. 본 논문에서는 플래시 메모리의 고유의 특성들이 기존의 디스크 기반 로그 기반 회복 방안과 그림자 페이지 기반 회복 방안의 성능에 미치는 영향을 분석한다. 더 나아가, 플래시 메모리 환경을 위해 제안된 회복 방안들의 장, 단점을 분석하고, 이를 바탕으로 추후 플래시 메모리 환경을 위한 회복 방안 설계 시 고려해야 할 사항들을 제안한다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2008.11a
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• pp.989-991
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• 2008

최근 플래시 메모리 기반의 저장장치가 하드디스크 영역에서 광범위하게 사용되고 있다. 하지만 단점을 가지고 있는데 느린 쓰기 및 지우기 속도가 그것이다. 본 논문에서는 플래시 메모리의 쓰기 및 지우기 동작을 줄일 수 있는 플래시 메모리 기반의 저장장치를 위한 새로운 버퍼 관리 기법을 제안한다. 제안된 ABM 기법은 플래시 메모리 기반의 저장장치에서 약 30%의 성능향상을 보이고 있다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2000.10b
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• pp.953-956
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• 2000

최근들어 정보가전. 휴대 통신 기기. 셋탑박스 등의 Embedded 시스템이 개발됨에 따라 이를 운영할 실시간 운영체제의 필요성이 절실히 요구되고 있으며, 여기에 사용될 파일 시스템이 필요하게 되었다. 그러나, 이런 Embedded 시스템의 특성상 전원이 꺼진 상태에서도 데이터를 보관하기 위하여 플래시 메모리를 이용한 파일 시스템이 필요하며, 본 논문에서는 이런 실시간 운영체제를 위한 플래시 파일시스템을 설계하고 구현한다. 또한 효율적인 플래시 메모리 접근을 위해 플래시 메모리 관리자를 구현하고, 오류 복구를 위한 효율적인 복구 알고리즘을 제안한다. 마지막으로 순차적 파일 쓰기와 무작위 파일 쓰기 실험을 통해 본 논문의 플래시 파일 시스템의 성능을 평가한다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2011.04a
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• pp.1302-1305
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• 2011

스마트폰에서 낸드 플래시 메모리가 저장 장치로 사용됨에 따라 다양한 플래시 파일 시스템과 플래시 변환 계층들이 제시되었다. 플래시 메모리는 덮어 쓰기가 불가능하기 때문에 이들 기법들은 기본적으로 로그 기반 구조를 취하고 있지만 가비지 수집, 데이터 배치 정책의 설계에 따라 성능과 수명 관리 측면에서 많은 차이를 보인다. 본 논문은 플래시 메모리 관리 기법들의 다양한 설계가 성능에 미치는 영향을 알아보고 종합적으로 비교 해보기 위해 대표적인 스마트폰 플랫폼인 안드로이드상에서 시뮬레이션 기반의 성능 평가를 수행 한다. 또한 각 기법들의 설계가 성능에 미치는 영향을 분석 한다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2008.11a
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• pp.828-831
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• 2008

플래시 메모리(Flash Memory) 기술이 빠르게 발전하면서, 플래시 메모리 기반의 저장 장치가 개인용 컴퓨터나 엔터프라이즈 서버 시스템과 같은 시스템에 2차적인 저장 장치로써 사용가능해지고 있다. FTL(Flash Translation Layer)의 기본적인 기능은 플래시 메모리의 논리 주소를 물리 주소로 바꾸는 것임에도 불구하고, FTL의 효율적인 알고리즘은 성능과 수명에 상당한 효과를 가지고 있다. 이 논문에서는 MP3 플레이어와 디지털 카메라, SSDs(Solid-State Disk)와 같은 낸드 플래시 메모리(NAND Flash Memory) 기반의 어플리케이션을 위한 N : N+K 매핑을 사용하는 새로운 FTL 설계를 제안한다. 성능에 영향을 미치는 매개변수들을 분류하여, 다양한 워크로드 분석을 기반으로 FTL을 조사했다. 우리가 제안하는 FTL을 가지고, 낸드 플래시 어플리케이션 가동에 따라 어떤 매개변수가 최대 성능을 낼 수 있는지 알아낼 수 있고, 그 변수들을 유연하게 조정하여 성능을 더 향상시킬 수 있다.

• KIPS Transactions on Computer and Communication Systems
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• v.3 no.5
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• pp.129-140
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• 2014

BIST(Built-in self test) is to detect various faults of the existing memory and BIRA(Built-in redundancy analysis) is to repair detected faults by allotting spare. Also, BISR(Built-in self repair) which integrates BIST with BIRA, can enhance the whole memory's yield. However, the previous methods were suggested for RAM and are difficult to diagnose disturbance that is NAND-type flash memory's intrinsic fault when used for the NAND-type flash memory with different characteristics from RAM's memory structure. Therefore, this paper suggests a BISD(Built-in self diagnosis) to detect disturbance occurring in the NAND-type flash memory and to diagnose the location of fault, and BISR to repair faulty blocks.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.44 no.6 s.360
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• pp.34-41
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• 2007

We popose a programmed on-line to FSM-based Programmable BIST(Buit-In Self-Test) with selected command, to select a test algorithm from a predetermined set of algorithms that are built in the Flash memory BIST. Thus, the proposed scheme greatly simplifies the testing process. Besides, the proposed FSM-based Programmable BIST is more efficient in terms of circuit size and test data to be applied, and it requires less time to configure the Flash memory BIST. We also will develop a programmable Flash memory BIST generator that automatically produces Verilog code of the proposed BIST architecture for a given set of test algorithms. If experiment the proposed method, the proposed method will achieves a good flexibility with smaller circuit size compared with previous methods.