KIPS Transactions on Software and Data Engineering
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v.6
no.5
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pp.245-256
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2017
This paper proposes a method to generate test scripts for testing embedded system in an easy manner by using hierarchical checklist. In the proposed method, a checklist is constructed with event, component and command dictionaries. And the test scripts are hierarchically generated based on the dictionaries. Since the physical layer of system input becomes abstract with component layer and event layer by virtue of the hierarchy, It is possible to generate test scripts without complicated system input information. It is easy to generate test scripts for embedded systems with similar inputs using the highly reusable dictionaries. The effectiveness of the proposed method is demonstrated with experiments.
KIPS Transactions on Software and Data Engineering
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v.9
no.8
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pp.229-234
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2020
This paper presents the design and the implementation of CRESTIVE-DX, a concolic testing tool that distribute the concolic testing process over the embedded target system and the host system for efficient test generation of a target embedded program. CRESTIVE-DX conducts the execution of a target program on the target embedded system to consider possible machine-dependent behaviors of a target program execution, and conducts machine-independent parts, such as search-strategy heuristics, constraint solving, on host systems with high-speed computation unit, and coordinates their concurrent executions. CRESTIVE-DX is implemented by extending an existing concolic testing tool for C programs CREST. We conducted experiments with a test bed that consists of an embedded target system in the Arm Cortex A54 architecture and host systems in the x86-64 architecture. The results of experiments with Unix utility programs Grep, Busybox Awk, and Busybox Ed show that test input generation of CRESTIVE-DX is 1.59 to 2.64 times faster than that of CREST.
Kim, Dongho;Son, Hyunseung;Kim, Wooyeol;Kim, R. Youngchul
Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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2012.04a
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pp.1239-1242
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2012
현재 소비자의 요구에 따라 다양한 타켓 상에서 임베디드 소프트웨어 개발이 폭주되고 있다. 같은 서비스를 제공하는 어플리케이션을 다양한 플랫폼에 맞게 개발하려면 많은 시간과 비용이 소모된다. 또한 이를 위한 테스트 비용도 증가하게 된다. 이는 테스트 비용의 지출이 전체 개발비용에 막대한 영향을 미친다. 그래서 다양한 플랫폼 상에서의 테스트 비용을 감소하기 위해 기존 소프트웨어공학 기법 중 하나인 Model Driven Architecture (MDA)를 적용한 기존 임베디드 개발기법에 테스트 프로세스를 개선 및 강화할 것을 제안한다[1 ][2]. 또한 다양한 타켓에 맞는 이종 테스트케이스 개발에 밑거름이 될 것이다.
Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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2012.06b
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pp.120-122
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2012
기존 소프트웨어 테스팅 기법은 개발자가 수동으로 테스트 케이스를 작성해야 하는 비효율성으로 인해 임베디드 소프트웨어의 안정성 확보에 어려움이 있다. Concolic 테스팅 기법은 자동으로 소프트웨어 테스트 케이스를 생성함으로써 기존 소프트웨어 테스팅 기법의 문제를 해결했지만, 임베디드 소프트웨어 테스트에 필수적인 bitwise 연산을 지원하지 않는 등의 문제가 있었다. 본 논문에서는 임베디드 소프트웨어를 위해 bitwise 연산을 지원하는 Concolic 테스팅 개선 방법에 대한 연구를 수행하고 오픈 소스 임베디드 소프트웨어 Busybox에 적용하여 기존 연구와 결과를 비교하였다. Busybox의 10개 유틸리티에 적용한 결과 기존 연구 결과 대비 평균 33%의 분기 커버리지 향상이 있었다.
In this paper we design the system test model for the weapon system embedded software based on the Time Factor Method(TFM) considering time factors and suggest the results through the case study. For doing this, we discuss the features, system tests and the object-oriented model based UML notations of the weapon system embedded software. And we give a test method considering time factors, a measuring method to time factors, and a test case selection algorithm as an approach to the TFM for designing the system test model. The TFM based system test model consists of three factors (X, Y, Z) in the weapon system embedded software. With this model, we can extract test cases through the selection algorithm for a maximum time path in 'X', identify the objects related to the Sequence Diagram in 'Y' and measure the execution time of each objects which is identified by the Timing Diagram in 'Z' Also, we present the method of extracting the system test cases by applying the proposed system test model to the 'Multi-function missile defense system'.
With the increasing adoption of embedded processors, the need of developing compilers for the embedded processors with timely manner is also growing. Retargeting has been adopted as a viable approach to constructing new compilers by modifying the back-end of an existing compiler. This paper proposes a test suite generation system for testing retargetable C compilers. The proposed system generates the test suite using the grammar coverage concept. Generally, the size of the test suite satisfying the grammar coverage of the source language is very large. Hence, the proposed system also provides the facility to reduce the size of the test suite. According to the experimental result, the reduced test suite can detect 75% of the compiler faults detected by the original test suite though the size of the reduced test suite is only 10% of that of the original test suite in average. This result indicates that the reduction technique proposed in this paper can be effectively used in the prior phase of the development procedure of the embedded compilers.
Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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2005.11b
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pp.346-348
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2005
소프트웨어를 동적으로 테스트 하려면 대상 소프트웨어에 적절한 데이터를 주어 실행해 보아야 한다. 효과적인 테스트가 되기 위해서 테스트 케이스의 선택뿐만 아니라 테스트 케이스가 어떻게 표현되었는가가 중요하다. 또한 정적인 테스트 작업에도 테스트를 위한 체크리스트가 어떻게 작성되었는지에 따라 테스트 작업의 효율성이 좌우된다. 이 논문에서는 비효율적이며 문제가 있는 테스트 케이스와 체크 리스트들을 리엔지니어링하는 방법을 제시하고 이를 실험 하였다. 임베디드 시스템의 일종인 디지털 방송수신 장치에 탑재된 소프트웨어를 대상으로 하여 이미 사용 중인 테스트 케이스의 효율성과 적합성을 따져보고 이를 리엔지니어링 하였다. 리엔지니어링 한 후의 테스트 케이스의 산출물이 얼마나 효과적인지를 살펴보았다. 또한 제품 계열 개념의 소프트웨어를 테스트하기에 적합하도록 테스트 케이스를 재사용 또는 restructuring하는 방법도 연구하였다.
Park, In-Su;Shin, Young-Sul;Ahn, Sung-Ho;Kim, Jin-Sam;Kim, Jae-Young;Lee, Woo-Jin
The KIPS Transactions:PartD
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v.17D
no.2
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pp.147-156
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2010
Conformance testing for embedded software is to check whether software was correctly implemented according to software specification or not. In conformance testing, test scenarios must be extracted to cover every test cases of software. In a general way, test scenarios simply focus on testing all functions at least one time. But, test scenarios are necessary to consider efficiency of test execution. In this paper, we propose a test scenario extraction method by considering function's execution time and waiting time for user interaction. A test model is a graph model which is generated from state machine diagram and test cases in software specification. The test model is augmented by describing test execution time and user interaction information. Based on the test model, test scenarios are extracted by a modified Dijkstra's algorithm. Our test scenario approach can reduce testing time and improve test automation.
Journal of the military operations research society of Korea
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v.33
no.2
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pp.49-60
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2007
Recently, the application area of an embedded software become larger and larger rapidly due to the development of the wire and wireless communication, the expansion of the digital information device and the convergence of the digital devices and emphasize the effort of the development of more complete software. As a consequence, the importance of the software test process was raised to discover the defects of the software early and improve the quality of an embedded software. However there was no test process model for applying the embedded software which is required the highly precision and the real-time process. In this paper, therefore, we propose the design procedure and case study for the test maturity model of an embedded software(Emb-TMM) which reflects the characteristics of the embedded software and test process. for this, we suggest the three category of the proposed procedure which consists of the selection of the reference model and the derivation of the area, the categorization of the area level, and design model. Then we suggest the case study how the proposed procedure can be applied to the development of an embedded software actually.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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