Si 기판위에 성장된 에피텍셜 $(Ba_{0.5}, Sr_{0.5}}TiO_3$ 박막의 잔류응력에 따른 유전특성변화
(Dielectric anomaly of strained $(Ba_{0.5}, Sr_{0.5}}TiO_3$ thin films epitaxially grown on Si substrate)
-
- 한국재료학회:학술대회논문집
- /
- 한국재료학회 2000년도 추계학술발표강연 및 논문개요집
- /
- pp.41-41
- /
- 2000