• Journal of the Korean Society of Radiology
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• v.15 no.1
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• pp.71-78
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• 2021

When continuous X-ray are used when acquiring and X-ray image, even the same material may not be accurately represented in the image according to the thickness due to various X-ray energies. To solve this problem, the X-ray energy spectrum was changed to improve the image quality. Using SPEKTR v3.0, an X-ray energy spectrum with an additional filter added and a general X-ray energy spectrum using only a unique filter were obtained. Simulation was performed using the obtained X-ray energy spectrum as a radiation source for Geant4 Application for Tomographic Emission (GATE). Using GATE data, an X-ray image with an additional filter and an image reconstructed from and X-ray image without an additional filter were compared and analyzed through a mono energy image of 74 keV. In the case of using the X-ray energy spectrum without using an additional filter, the amount of X-rays transmitted according to the thickness of the same material is different from the amount that decreases according to the thickness of the material. Similar results were obtained as the amount decreased with the material thickness. In other words, a similar result was obtained when the reduced dose was used with a mono energy. When an X-ray image is obtained by changing an X-ray energy spectrum using an additional filter, a more accurate result of transmission of X-rays may be obtained. In radiological examination, it was confirmed that the appropriate use of the additional filter has a great effect on improving the image quality.

• Journal of radiological science and technology
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• v.33 no.3
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• pp.289-294
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• 2010

The purpose of this study is an evaluation of the performance of a detector under radiographic irradiation condition by fabricating the polycrystalline $HgI_2$ film detector. The polycrystalline $HgI_2$ film detectors with thickness of 210 and $320\;{\mu}m$ were fabricated by screen print technology. Measurements of X-ray sensitivity and dark current were performed for two detectors. And measurements of the linearity of X-ray response and reproducibility were performed for the detector of thickness $320\;{\mu}m$. For applied electric field strengths from 0.05 to $2\;V/{\mu}m$ to the detector of thickness $320\;{\mu}m$, the X-ray sensitivities were measured from 233 to $1,408{\times}106\;electrons/mR{\cdot}mm^2$. And the dark currents were measured from 3.2 to $118\;pA/mm^2$. Compared with values reported by Zhong Su et al., the X-ray sensitivities exhibit about two times larger than the X-ray sensitivities measured by Zhong Su et al. And the dark currents exhibit about nine times larger than the dark currents measured by Zhong Su et al. The linearity of X-ray response acquired 0.988 as a coefficient of correlation (r). Reproducibility acquired 0.002 as a coefficient of variation. This study provides the performance data of fabricated polycrystalline $HgI_2$ film detector available for an active matrix flat panel imager under radiographic irradiation condition.

• Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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• v.24 no.12
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• pp.1704-1710
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• 2020

The high-energy X-ray imaging detector used for container inspection uses a thick scintillator to effectively acquire X-rays. X-ray incident on the scintillator is generally up to 9MeV. Therefore, to effectively collect X-ray, it is necessary to use a thick scintillator. To collect the light generated by the reaction between X-ray and scintillator, an optical-sensor must be combined with the scintillator. In this study, a study on the design conditions of the detector using a CdWO4 and a small sensor is described. To calculate the collected light according to the change of the scintillator thickness and the reflectance of surface, MCNP6 and DETECT2000 were used. As a result of calculating, it was confirmed that when the reflectance of the surface was low, it was appropriate to select a scintillator with a thickness of 15 to 20-mm, but as the reflectance increased, it was confirmed that it was appropriate to select a CdWO4 with a thickness of 25 to 30-mm.

• Journal of KSNVE
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• v.10 no.2
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• pp.338-344
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• 2000

비선형 구조물에 대하여 미끄러짐 또는 기울어짐 해석을 수행할 때에는 수평 두 방향 입력을 동시에 고려하는 해석을 수행할 것을 추천한다. 그 이유는 단일 방향 입력만을 고려한 비선형 해석의 결과가 입력지진의 기준선 조정 여부에 아주 민감하고 자칫 과도하게 보수적이거나 또는 오히려 비보수적인 결과를 초래할 수 있기 때문이다. 특히, 오래 전에 작성되어 일차적 해석만 가능한 전산 프로그램을 사용하여 해석하는 경우 주의가 요구된다. 본 논문에서는 입력지진의 기준선조정에 의한 영향을 수평 단일방향 입력만을 고려하는 해석과 수평 두 방향 입력을 동시에 고려하는 해석에 대하여 살펴본다. 이를 위하여 자립형 계에 대한 예저 헤석을 수행한 결과, 단일방향 비선형 해석시 나타날 수 있는 이러한 불확실성을 피하기 위하여 두 방향 입력을 동시에 고려하는 해석이 필요하고 입력 지진의 기준선 조정과 연계된 표준화된 지침이 필요하다는 것을 알 수 있었다.

• Journal of KIISE:Computing Practices and Letters
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• v.16 no.3
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• pp.366-370
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• 2010

This paper presents an automatic Oriental ink-rendering technique that recreates the artistic style of Oriental paintings from a single image. In Oriental paintings are characterized by strokes with various thickness and disordered dispersion. In this study, a stroke drawing method was developed based on the canny edge detector and radial curvature that are suitable for lines with varied thickness even along a single stroke. A dispersion-shading method was likewise developed by applying a set of iterated dual-filtering, and intensity exaggeration methods. The dispersion-shading method is designed to increase the local shade details, to decrease the global shade. Unlike the existing watercolor-rendering and abstraction system the proposed dispersion-shading method achieves disordered shade details rather than simplification.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2012.08a
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• pp.409-409
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• 2012

최근 나노크기의 미세구조 가공기술이 발달함에 따라 다양한 응용을 위한 나노소재/구조가 활발히 연구 되고 있다[1]. 그 중에서 실리콘 나노선은 태양전지, 메모리, 트랜지스터 그리고 광 공진기에 쓰일 수 있는 소재로서 기존의 실리콘 가공기술을 바로 사용할 수 있을 뿐 아니라[2], 비용 면에서 탁월한 잇점이 있기 때문에 주목 받고 있는 소재이다. 실리콘 나노선의 물리적 특성을 연구하기 위한 많은 연구가 진행되었지만, 매우 작은 크기와 높은 표면적-부피비율로 인해 생긴 독특한 특징을 완전히 이해하기에는 아직 부족한 점이 많다. 실리콘 나노선의 전류-전압특성에 영향을 미치는 요소는 도핑농도, 표면상태, 채널의 크기 등으로 다양한데, 이번 연구에서는 실리콘 나노선의 표면환경이 공기와 물 두 종류로 매질에 접하고 있을 경우에 대하여 각각 전류-전압을 측정하였다. 물이 공기와 다른 점은 크게 두 가지로 볼 수 있다. 첫째로 물의 경우에는 물에 용해된 수소이온과의 화학반응을 통하여 실리콘 표면전하가 유도되며 pH 값에 민감하게 변화한다. 둘째로 물의 유전율은 공기의 80배로서 표면부근에서의 전기장분포가 많이 왜곡된다. 이를 위하여 SOI를 기반으로 채널길이 $5{\mu}s$, 두께 40 nm, 너비 100 nm인 실리콘 나노선을 일반적인 반도체공정을 사용하여 제작하였다. 나노선의 전기적 특성 실험은 Semiconductor Parameter Analyzer (Agilent, 4155C)를 사용하여 전류-전압특성을 표면 상태를 변화시키면서 측정하였다. 실험을 통해 실리콘 나노선은 물과 공기 두 가지 표면환경에 따라 전류-전압특성이 확연히 변화하는 것을 볼 수 있었다. 동일한 전압 바이어스에서 표면에 물이 있을 때가 공기 있을 때 보다 훨씬 증가한 전류를 얻을 수 있었고(3V에서 약 2배), 비선형적인 전류-전압특성이 나타남을 관찰하였다. 본 발표에서는 이러한 실험결과를 표면에서의 전하와 정전기적인 효과로서 정성적으로 설명하고, 전산모사결과와 비교분석 하고자 한다.

• Proceedings of the Korea Society for Industrial Systems Conference
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• 1998.10a
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• pp.815-825
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• 1998

이 논문은 객체지향 데이터베이스 관리시스템에서 캐쉬의 효율성을 개선하기 위한 일련의 기술이다. 제안된 방법은 두단계로 나누어진다. 첫 번째 단계에서는 다양한 질의에 대한 디스크 접근 빈도수가 방식에 대해 분석하였으며 , 두 번째 단계에서는 첫 번째 단계의 분석된 결과를 바탕으로 접근 빈도가 높은 페이지를 선채취하였다. 이 연구에서는 기존의 선채취 기법에 쓰기 정보를 감안한 방법을 추가하여 다양한 선채취 캐슁기법을 제안한다. 기본적으로 이 방법은 정보변경이 일어난 페이지에 대해 쓰기비용이 발생되므로 교체를 지연한다. 실험결과는 일관되게 현존하는 알고리즘 보다 나은 결과를 보여준다.

• The Journal of the Korea Contents Association
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• v.14 no.2
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• pp.457-466
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• 2014

During irradiation of lesions in cancer treatment with high energy electrons, normal tissue and critical organs are protected by the shielding material. Scattered radiation that generated the shielding materials affect the depth dose and atomic number. Therefore, we want to examine secondary particles and the scattered photons through calculation and its associated analysis, and compare the measurement for the aluminum, copper, and lead shielding substance of which thickness has 95% charge reduction. Dose change rate which effected scattering radiation was found to be +0.88% for material thickness, +0.43% for atomic number, and +19.70%, +15.20%, +12.40% for measurement, +25.00%, +15.10%, +13.70% for calculation on the aluminum, copper, and lead materials of which thickness has 95% charge reduction, respectively, As a result, we found that scattering rate was dependent on thickness than atomic number. In the dose increasing rate, scattered electrons are more important than scattered photon. For the above mentioned reasons, I think that high atomic number materials should be applied to reduce scattered radiation that generated with thickness effect.

• Journal of the Korean Chemical Society
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• v.35 no.5
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• pp.539-544
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• 1991

A method to determine the thickness of silicone resin film on zinc eletroplated steel using X-ray compton scattering was investigated. On the basis of the fact that compton scattering process predominates over photoelectric absorption for the light elements such as C, H, O and Si, the compton scattered line of RhK$_{\alpha}$ was used to determine the thickness of silicone resin. In this method, the standard calibration curve for thickness determination of silicone resin film was found to be linear in the range of 0.2~5.0 ${mu}$m film thickness. The analytical results agreed well with those obtained by the gravimetric method and the accuracy was found to be 0.22 ${mu}$m.

• Journal of Biomedical Engineering Research
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• v.21 no.2
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• pp.119-127
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• 2000

금속판/형과스크린 계측기와 CCD 카메라를 이용한 방사선영상장치가 현재 전자포탈영상에 널리 쓰이고 있다. 이 장치의 효율적인 영상획득을 위해 계측효율이 좋고, 공간분해능력이 뛰어난 금속판/ 형과스크린 계측기의 두께를 최적화할 필요가 있었다. 이 논문에서는 금속판과 형광스크린의 두께가 계측효율과 공간분해능에 미치는 영향이 연구되었다. 이 결과는 치료 엑스선 영상장치에 쓰일 수 있는 금속판/형과스크린 계측기의 최적화된 두께를 결정하는데 쓰일 수 있다. 몬테칼로 방법을 이용하여 계산한6 MV 선형가속기에서 발생되는 엑시선의 에너지 스펙트럼을 바탕으로, 여러 가지 두께의 금속판/형광스크린에 대하여 계측효율과 공간분해능을 계산하였고, 이를 실험을 통해 검증하였다. 계측효율은 입사된 엑스선의 에너지가 형광스크린에 흡수된 비율로 계산되며, 공간분해능은 흡수된 에너지의 공간 분포를 통해 계산되었다. 계측효율은 금속판의 두께에 의해, 공간분해능은 형광스크린의 두께에 의해 결정될 수 있음을 본 연구를 통해 확인할 수 있었고, 이로써 특정이용에 관련된 금속판/형광스크린의 두께에 대한 서로 보상 (trade-off) 관계에 있음을 계산과 측정결과를 통해 확인할 수 있었고, 이로써 특정이용에 관련된 금속판/형광스크린 계측기의 최적화된 두께를 산출할 수 있게 되었다. 계산을 바탕으로 CCD를 이용한 전자포탈영상장치의 시작품을 설계 및 제작하였고 팬텀을 이용하여 영상을 얻었다. 단일 프레임 영상은 노이즈가 많으나, 프레임 평균 방법을 이용하여 영상의 질을 향상시킬 수 있었다.