Abstract
A method to determine the thickness of silicone resin film on zinc eletroplated steel using X-ray compton scattering was investigated. On the basis of the fact that compton scattering process predominates over photoelectric absorption for the light elements such as C, H, O and Si, the compton scattered line of RhK$_{\alpha}$ was used to determine the thickness of silicone resin. In this method, the standard calibration curve for thickness determination of silicone resin film was found to be linear in the range of 0.2~5.0 ${mu}$m film thickness. The analytical results agreed well with those obtained by the gravimetric method and the accuracy was found to be 0.22 ${mu}$m.
X-ray Compton 산란선의 강도를 측정하여 내지문처리재(Anti-fingerprint Steel)의 표면에 Coating 되어 있는 Silicone resin film의 두께를 신속하게 측정할 수 있는 새로운 분석방법을 연구하였다. Silicone resin과 같은 유기수지들은 C, H, O, Si 등과 같은 경원소들로 구성되어 있어 compton 산란선의 강도가 높게 나타나는데 이러한 성질을 이용, X-ray tube로부터 발생된 RhK$_{\alpha}$ 선을 시료표면에 조사한 후 발생된 RhK$_{\alpha}$ compton 산란선의 강도를 측정하여 silicone resin film의 두께를 구하였다. 검량곡선 작성결과 0.2 ~ 5.0 ${mu}$m 범위에서 직선성을 나타냈으며 두께측정에 대한 정확도는 0.22 ${mu}$m 이었다.