Thickness Dependence of $SiO_2$ Buffer Layer with the Device Instability of the Amorphous InGaZnO pseudo-MOSFET
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- 한국진공학회:학술대회논문집
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- 한국진공학회 2012년도 제42회 동계 정기 학술대회 초록집
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- pp.170-170
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- 2012