Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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1991.11a
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pp.223-227
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1991
생산자동화가 필요한 분야 중에서도 대량생산을 유발하고 제품생산의 단납기화, 고품질화를 좌우하는 금형기술은 설계, 가공, 검사공정에 이르기까지 취급해야 할 생산정보의 양이 방대하고 많은 기술축적과 경험을 필요로 한다. 생산정보의 효율적인 처리를 위해 설계와 가공공정에 오래 전부터 컴퓨터가 도입되었으나 단일수량 제품이라는 금형의 특수성 때문에 각 공정에서의 생산정보가 상호 유기적으로 연계되지 않은 곳에서는 전체 생산공정의 총화된 효율향상을 성취하기가 어려웠다.(중략)
Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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2010.04a
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pp.417-420
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2010
반도체 패키지 제조공정 중에는 제품에 일련번호를 인쇄하는 마킹공정이 있다. 마킹 공정에서 새겨진 문자는 해당 관리기준에 따라 관리되고 있는데 최근 반도체 패키지의 소형화에 따라 인쇄된 마크문자의 틀어짐 정도가 관리기준에 미달되는 문제가 발생되고 있다. 본 논문에서는 마크문자의 검사 항목 중 tilted mark(angle mark) 검사를 위한 회전량 측정방법으로 golden section searching 방법을 적용한 고속 라돈 변환(radon transform)방법을 제안한다. 실험에서는 제안한 방법이 일반적인 라돈 변환에 비해 최대 약 21 배의 회전량 측정속도가 향상되는 것을 확인하였다.
Quality control in the smart factory manufacturing process is an important factor. Currently, quality inspection of home appliance manufacturing parts produced by the mold process is mostly performed with the naked eye of the operator, resulting in a high error rate of inspection. In order to improve the quality competition, an automatic defect detection system was designed and implemented. The proposed system acquires an image by photographing an object with a high-performance scan camera at a specific location, and reads defective products due to scratches, dents, and foreign substances according to the vision inspection algorithm. In this study, the depth-based branch decision algorithm (DBD) was developed to increase the recognition rate of defects due to scratches, and the accuracy was improved.
Proceedings of the Safety Management and Science Conference
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2007.04a
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pp.143-149
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2007
현행 우리나라의 검사제도는 사업장의 자율관리 능력을 고려하지 않고, 설비의 노후화 및 위험도와 무관하게 획일화된 방식으로 적용하여 설비의 안전성을 확보하지 못할 뿐만 아니라 정기 및 자체 검사를 병행하여 많은 불편이 있다. 따라서 사업장의 불편을 해소하고, 설비의 안전성과 신뢰도를 높일 수 있는 위험기반검사(risk based inspection, RBI)를 국내 실정에 적합하게 도입하기 위하여 사업장, 정부 및 관련 기관에서 향후 추진해야할 방향에 대하여 분석하였다. 국내에서 위험기반검사 제도가 정착될 수 있기 위해서는 먼저 법적 근거가 마련되어야 하며, 법적 제도가 마련되면 사업장에서 RBI를 적용 시 이를 검증하고, 관리할 수 있는 인증기구의 설치가 필요하다. 또한 위험기반검사를 수행하는 사업장에 대해서는 공정안전이행수준과 같은 위험기반검사 이행수준평가를 도입하고, 차등 적용하여 사업장을 관리하는 것이 바람직하다.
Kim, Ki-Beom;Han, Bong-Seok;Yang, Ji-Kyung;Han, Yu-Jin;Kang, Dong-Seong;Lee, In-Cheol
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.18
no.5
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pp.674-680
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2017
Touch Screen Panel (TSP) is a widely used personal handheld device and as a large display apparatus. This study examines micro bump fabrication technology for TSP test process. In the testing process, as TSP is changed, should make a new micro bump for probing and modify the testing program. In this paper we use a maskless lithography system to confirm the potential to fabricatemicro bump to reducecost and manufacturing time. The requiredmaskless lithography system does not use a mask so it can reduce the cost of fabrication and it flexible to cope with changes of micro bump probing. We conducted electro field simulation by pitches of micro bump and designed the lithography pattern image for the maskless lithography process. Then we conducted Photo Resist (PR) patterning process and electro-plating process that are involved in MEMS technology to fabricate micro bump.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2015.05a
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pp.381-382
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2015
Small devices such as MLCC, sample inspection on the processing is not easy. If you can proceed with the sample inspection, the production process will be able to maximize the MLCC production efficiency. In this study, to minimize the interference of operator, and to maximize the operating efficiency of the equipment. Use image processing techniques for its extracts the position and angle of the MLCC. Implements an automatic inspection system with the high productivity.It is possible to inspect the final six MLCC devices. And once we Pick-Up to 200 Chip to check the accuracy of 98.4%. Based on the results of various studies are in progress to be expected to be applicable to the automatic inspection equipment side development of a variety of small devices.
Kim, Young-Choon;Kim, Young-Jin;Kook, Jeong-Han;Cho, Jae-Ung
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.15
no.10
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pp.5906-5911
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2014
Currently, there are many processes of package assembly and inspections of real fields that examine whether a manufactured semiconductor can be operated regularly and can endure low humidity or high temperatures. As the inspection equipment of a semiconductor test handler picker has been used at the inspection process, these inspection equipment frames were modelled in 3D and these models were analyzed using 3 kinds of fatigue loadings. As the analysis result, maximum deformation occurred at the midparts of the frames at cases 1 and 2. Among the cases of nonuniform fatigue loads, the 'SAE bracket history' with the severest change in load became the most unstable but the 'Sample history' became the most stable. Fatigue analysis result can be used effectively with the design of an inspecting equipment frame of a semiconductor test handler picker to examine the prevention and durability against damage.
Proceedings of the Korean Operations and Management Science Society Conference
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2000.04a
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pp.94-98
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2000
본 논문은 TFT-LCD 모듈 조립 공정에서의 스케줄링 시스템을 제안한다. TFT-LCD 모듈 조립 공정은 선행 공정인 액정 공정에서 넘어오는 LCD 판넬과 기타 부품들을 조립하여 최종 완제품을 만드는 공정이다. 본 연구에서 다루고 있는 문제는 주문량으로부터 구해지는 일일 생산 계획량이 주어졌을 때 각 라인에서 생산되어질 제품을 배정하는 문제이다. 본 논문의 목적은 주어진 실제 공정 환경에서 일일 생산 계획량을 최대로 만족하기 위한 스케줄링 휴리스틱을 개발하는 것이다. 이를 위해 relaxed LP 모형을 제시하였고 제시된 LP 모형을 이용한 알고리즘을 개발하였다. 제안된 알고리즘은 제품 우선 배정 조건, 현 보유 자재량과 대략적인 라인의 생산 능력을 고려한 LP 프로시져 부분과 제품 간 셋업 시간을 고려한 설비 배정 휴리스틱의 두 부분으로 구분된다. 알고리즘의 성능 검사를 위해 실제 TFT-LCD 모듈 공정에서의 데이터를 이용하여 과거에 실제 이루어진 생산 결과와 비교를 하였으며 제안된 알고리즘의 효율성을 실험 결과를 통해 보였다.
Korea Mechanical Construction Contractors Association
월간 기계설비
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no.9
s.218
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pp.68-69
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2008
도시가스시설 검사 처리 세부지침이 개선되었다. 개정된 주요 내용은 $\Delta$내압 기밀시험 실시방법 개선 $\Delta$전기방식 생략 $\Delta$사용자공급관 입상관 밸브 설치위치 개선 $\Delta$용접 및 비파괴시험 공정 입회범위 개선 $\Delta$방호구조물 설치기준 제정 $\Delta$사용자공급관 계통도 제출 $\Delta$완성검사 필증현장 발급대상 추가 등이다. 기타 자세한 내용은 대한설비건설협회 홈페이지(http://www.kmcca.or.kr) 공개자료실에 게재되어 있다.
Journal of Korea Society of Industrial Information Systems
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v.12
no.3
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pp.116-123
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2007
Despite the number of backlight manufacturer is increased as the market of flat panel display equipments and related development devices is enlarged, the inspection based on the human eye is still used in many backlight production lines. The defects such as particle, spot and scratch on the light emitting surface of the backlight prevent the LCD device from displaying the colors correctly. From that manual inspection it is difficult to maintain the quality of backlight consistently because the accuracy and the speed of the inspection may change with the physical condition of the operater. In this paper we studied on the development of automatic backlight surface defect inspection system. For this, we made up of the computer vision system and we developed the main program with various user interfaces to operate the inspection system effectively. And we developed the image processing module to extract the defect information. Furthermore, we presented the labeling process to reconstruct defect regions using the labeling table and the defect index. From the experimental results, we found that our system can detect all defect regions identified from human eye and it is sufficient to substitute for the conventional surface inspection.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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