Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference (한국정보통신학회:학술대회논문집)
- 2015.05a
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- Pages.381-382
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- 2015
Development of image processing based MLCC automatic inspection system
영상 처리 기반 MLCC 자동 검사 시스템 개발
- Seo, Ji Yoon (Dongseo University) ;
- Park, Jun-mo (Dongseo University) ;
- Jeong, Do-Un (Dongseo University)
- Published : 2015.05.26
Abstract
Small devices such as MLCC, sample inspection on the processing is not easy. If you can proceed with the sample inspection, the production process will be able to maximize the MLCC production efficiency. In this study, to minimize the interference of operator, and to maximize the operating efficiency of the equipment. Use image processing techniques for its extracts the position and angle of the MLCC. Implements an automatic inspection system with the high productivity.It is possible to inspect the final six MLCC devices. And once we Pick-Up to 200 Chip to check the accuracy of 98.4%. Based on the results of various studies are in progress to be expected to be applicable to the automatic inspection equipment side development of a variety of small devices.
MLCC와 같은 소형소자는 중간단계의 샘플검사가 용이 하지 않아 출하검사 위주로 생산 공정이 구성되어 있다. 양산공정 중간 단계의 샘플 검사가 가능해질 경우 고부가가치의 MLCC 생산효율을 극대화 할 수 있을 것으로 예상된다. 이에 본 연구에서는 사용자의 간섭을 최소화 하여 설비 운영 효율을 극대화 시켜주기 위해 MLCC의 위치 및 각도 추출에 영상처리기법을 적용하여 운영 효율이 극대화된 자동 검사 시스템을 구현 하고자 한다. 총 6가지의 MLCC 소자에 대해 검사 할 수 있었으며 1회 200개의 Chip에 대해 98.4%의 정확도로 Chip을 Pick-Up 하였다. 향후 연구과정에서 얻어진 원천기술에 대한 다양한 응용 방안을 연구를 통해 2차 전지, 반도체 소자 등의 사업 분야에 적용이 가능 할 것으로 예상되어 진다.