• Title/Summary/Keyword: $P_2O_5$-SnO

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High Performance p-type SnO thin-film Transistor with SiOx Gate Insulator Deposited by Low-Temperature PECVD Method

  • U, Myeonghun;Han, Young-Joon;Song, Sang-Hun;Cho, In-Tak;Lee, Jong-Ho;Kwon, Hyuck-In
    • JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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    • v.14 no.5
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    • pp.666-672
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    • 2014
  • We have investigated the gate insulator effects on the electrical performance of p-type tin monoxide (SnO) thin-film transistors (TFTs). Various SnO TFTs are fabricated with different gate insulators of a thermal $SiO_2$, a plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) $SiO_x$, a $150^{\circ}C$-deposited PEVCD $SiO_x$, and a $300^{\circ}C$-deposited PECVD $SiO_x$. Among the devices, the one with the $150^{\circ}C$-deposited PEVCD $SiO_x$ exhibits the best electrical performance including a high field-effect mobility ($=4.86cm^2/Vs$), a small subthreshold swing (=0.7 V/decade), and a turn-on voltage around 0 (V). Based on the X-ray diffraction data and the localized-trap-states model, the reduced carrier concentration and the increased carrier mobility due to the small grain size of the SnO thin-film are considered as possible mechanisms, resulting in its high electrical performance.

Growth of ZnSnO3 Thin Films on c-Al2O3 (0001) Substrate by Pulsed Laser Deposition

  • Manh, Trung Tran;Lim, Jae-Ryong;Yoon, Soon-Gil
    • Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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    • v.27 no.5
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    • pp.297-302
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    • 2014
  • $La_{0.5}Sr_{0.5}CoO_3$ (LSCO) electrode thin films with a resistivity of ~ 1,600 ${\mu}{\Omega}cm$ were grown on c-$Al_2O_3$ (0001) substrate. $ZnSnO_3$ (ZTO) thin films with different thicknesses were directly grown on LSCO/c-$Al_2O_3$ (0001) substrates at a substrate temperature that ranged from 550 to $750^{\circ}C$ using Pulsed Laser Deposition (PLD). The secondary phase $Zn_2SnO_4$ occurred during the growth of ZTO films and it became more significant with further increasing substrate temperature. Polarization-electric-field (P-E) hysteresis characteristics, with a remnant polarization and coercive field of 0.05 ${\mu}C/cm^2$ and 48 kV/cm, respectively, were obtained in the ZTO film grown at $700^{\circ}C$ in 200 mTorr.

The structure and properties of $50SnO_2-(50-x)P_2O_5-xB_2O_3$ for component materials of PDP

  • An, Yong-Tae;Choi, Byung-Hyun;Ji, Mi-Jung;Ko, Young-Soo;Kim, Hyung-Sun
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 2008.10a
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    • pp.359-361
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    • 2008
  • Glasses in the $SnO_2-(50-x)P_2O_5-xB_2O_3$ system were examined as potential replacement for the PbO glass frits with low firing temperature for component materials of a plasma display panel. The glasses were evaluated for their structural and the thermal expansion coefficient, glass transition and glass softening temperatures and Vickers hardness as a function of the $B_2O_3$ content.

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Influence of particle size on sensing characteristics of hydrothermally treated nano-sized $SnO_2$ (수열합성법으로 제조한 나노 크기의 $SnO_2$ 입자 크기에 따른 반응 특성)

  • ;Anh-Hoa Bui
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2003.03a
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    • pp.134-134
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    • 2003
  • SnO$_2$를 모물질로 하는 가스센서는 n형 산화물 반도체로서 공기중의 산소의 흡탈착 및 전자의 수수에 의해 전기전도도의 변화로 특정 가스를 감지한다. 지금까지 반도체식 가스센서의 모물질로 가장 많이 연구되어 왔지만 아직도 선택성, 안정성 등 여러 가지 문제를 안고 있다. 그리고 개선방안으로 귀금속 촉매의 첨가 및 입자의 크기의 조절 등이 흔히 연구되어 왔다. 따라서 본 연구에서는 순수한 SnO$_2$ 를 이용하여 소결 온도 및 입자 크기에 의한 영향을 CO가스 및 수분에 대한 감도, 반응 시간을 통해 알아보았다. 수열 합성 및 침전 법으로 나노 크기의 SnO$_2$ 분말을 합성하여 스크린 인쇄법으로 후막 가스센서를 제조하였다 침전법에서 SnCl$_4$에 암모니아수로 pH=10.5로 적정하여 SnO$_2$ 분말을 얻었다. 그리고 입자 크기를 조절하기 위해 수열 합성 시 autoclave 내의 수열처리 온도를 100, 150, 20$0^{\circ}C$로 조절하여 SnO$_2$ 분말을 제조하고 입자 크기와 성분분석을 위해 XRD, SEM, TEM, BET 측정을 하였다. 그 결과 침전법으로 제조한 입자의 크기는 20nm 정도였으며 수열 처리한 SnO$_2$ 입자는 10nm이하의 미세한 입자를 얻을 수 있었다. 수열 합성 시 온도가 높아질수록 더 작은 입자 크기를 얻을 수 있었고 600, 7()0, 80$0^{\circ}C$ 열처리 후 입자성장이 침전법에 의한 SnO$_2$ 분말보다 더 작게 일어났다. 이렇게 제조한 나노크기의 SnO$_2$ 분말을 이용하여 습도 및 CO 가스에 대한 그 특실을 평가하였다. CO 20ppm에 대하여 40%정도의 감도를 보였으며 입자가 작아질수록 높은 감도를 보이는 것을 확인 할 수 있었다. 반면 CO 가스와 반응 후 회복 시 입자 의기가 작아질수록 회복이 늦어짐을 알 수 있었다. 그리고 15$0^{\circ}C$에서 습도에 대한 반응 후 회복시간을 조사해보니 같은 결과를 얻을 수 있었다. 이것은 입자 필기가 작아질수록 많은 흡착 사이트를 제공함으로써 높은 감도를 가지지만 반면 다량의 흡착된 가스들이 탈착 하는데 더 많은 시간이 소요되었기 때문이다.

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Studies on Crystallographic and Magnetic Properties of the Sn0.9957Fe0.01O2 (Sn0.9957Fe0.01O2의 결정학적 및 자기적 성질에 관한 연구)

  • Li, Yong-Hui;Kim, Sam-Jin;Kim, Chul-Sung
    • Journal of the Korean Magnetics Society
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    • v.20 no.5
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    • pp.187-190
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    • 2010
  • $Sn_{0.99}{^{57}Fe}_{0.01}O_2$ prepared by a sol-gel method, and studied by x-ray diffractometer, vibrating magnetometer, Superconducting quantum interference devices and M$\ddot{o}$ssbauer spectroscopy. the crystal structure were found to be a rutile tetragonal structure with space group $P4_2$/mnm, and oxygen deficiency are 5.6 % by Rietveld refinement. magnetization value were $M_s=1.95{\times}10^{-2}{\mu}_B/Fe$ at room temperature, and Curri-weiss temperature were and ${\theta}_{cw}$ = 18 k, measurement of VSM and SQUID, respectively. Mssbauer spectra of $Sn_{0.99}{^{57}Fe}_{0.01}O_2$ have been Sextet taken at various temperatures ranging from 4.2 K to RT, and isomer shift value $\delta$ = 0.18~0.36 mm/s of $^{57}Fe$ ion site all of the temperature range the state shows ferric.

Electrical properties of 0.05pb($Sn_{0.5}Sb_{0.5}O_3-xPbTiO_3-yPbZrO_3$ PZT System With variation Of PT/PZ (0.05pb($Sn_{0.5}Sb_{0.5}O_3-xPbTiO_3-yPbZrO_3$계에서 PT/PZ비 변화에 따른 전기적 특성)

  • 황학인;박준식;오근호
    • Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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    • v.7 no.4
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    • pp.589-598
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    • 1997
  • The effects of PT/PZ ratio variations in a modified PZT system on crystal structure and electrical properties were studied. $0.05Pb(Sn_{0.5}Sb_{0.5})O_3+xPbTiO_3+yPbZrO_3$+0.4Wt% $MnO_2$(=0.55PSS+0.11PT+0.84PZ+0.4wt%$MnO_2$ ; x+y=0.95) systems with variations of PT/PZ from 0.50/0.45 to 0.l1/0.84 were sintered at $1250^{\circ}C$ for 2 hr, and then sintering density, crystal structure, dielctric, piezoelectric, pyroelectic and voltage responsity to infrared were investigated. Sintering density was increased from 7.52g/$\textrm {cm}^3$ to 7.82g/$\textrm {cm}^3$ with increasing PZ content. Dielectric constants at 1 KHz were decreased from 1147 to 193 with variation of PT/PZ from 0.50/0.45 to 0.l1/0.84 after poling of $4 KV_{DC}$/mm at $140^{\circ}C$ for 20 minutes. All Dielectric losses at 1 KHz were less than 1 % in all specimens. $K_{p}$ was increased near to 1 of PT/PZ, and maximun value of 48.2 % was .at 0.45/0.50. Pyroelectric coefficient of PT/PZ with 0.l1/0.84 was maximun value, 0.0541 C/$\m^2$K, and voltage responsity to infrared was 1.5 V.

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Catalytic Wet Air Oxidation by TiO2 Supported Mn-Ce Based Catalysts (Mn-Ce계/TiO2 촉매에 의한 아세트산의 습식산화 반응특성)

  • Park, K.S.;Park, J.W.;Kim, Y.J.;Yoon, W.L.;Park, J.S.;Rhee, Y.W.;Kang, Y.
    • Journal of Korean Society of Environmental Engineers
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    • v.22 no.12
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    • pp.2263-2273
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    • 2000
  • Catalytic wet air oxidation of acetic acid over Mn-Ce based catalysts deposited on various supports ($SiO_2$, $TiO_2$, $ZrO_2$), $ZrSiO_4$, $ZrO_2(10wt%)/TiO_2$) have been carried out in high pressure microreactors. Also, promotional effects by small addition(O.5~1.0 wt%) of p-type semiconductors (CoO, $Ag_2O$, SnO) have been investigated. From the screening tests for initial activity ranking, both Mn(2.8)-Ce(7.2 wt%) and Ru(O.4)Mn(2.7)-Ce(6.9 wt%) supported on $TiO_2$ were selected as the promising reference candidates. In $Mn-Ce/TiO_2$ reference catalyst, addition of small amount of each p-type semiconductor (Co, Sn and Ag) resulted in activity promotional effect and the degree of the increase was in the following order: Co> Ag > Sn. Especially, $Mn-Ce/TiO_2$ promoted with 0.5 wt% Co gave the 2.6 folds activity increase compared to the reference case attributing to the surface area increase as well as synergy effect. In $Ru-Mn-Ce/TiO_2$ reference catalyst, only Co(1.0 wt%) promoted case showed a little reaction rate increase.

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Characterization of thin film Si solar cell with FTO transparent electrode (FTO 투명전극에 따른 박막 실리콘 태양전지 특성평가)

  • Kim, S.H.;Kim, Y.J.;No, I.J.;Cho, J.W.;Lee, N.H.;Kim, J.S.;Shin, P.K.
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2009.07a
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    • pp.1351_1352
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    • 2009
  • We deposited $SnO_2$:F thin films by atomospheric pressure chemical vapor deposition(APCVD) on corning glass. $SnO_2$:F films were used as transparent conductive oxide (TCO) electrode for Si thin film solar cells. We have investigated structural, electrical and optical properties of $SnO_2$:F thin films and fabricated thin film Si solar cells by plasma enhanced CVD(PECVD) on $SnO_2$:F thin films The cells were characterized by I-V measurement using AM1.5 spectra. Conversion efficiency of our cells were between 5.61% and 6.45%.

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Microwave Dielectric Properties of (Pb,Ca)[(Fe,Nb)Sn]$O_3$ with CuO-$Bi_{2}O_{3}$Additives (CuO-$Bi_{2}O_{3}$첨가에 의한 (Pb,Ca)[(Fe,Nb)Sn]$O_3$세라믹스의 마이크로파 유전 특성)

  • 하종윤;최지원;윤석진;윤기현;김현재
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 2000.11a
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    • pp.563-566
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    • 2000
  • The effect of CuO and CuO-B $i_2$ $O_3$ additives on microwave dielectric properties of (P $b_{0.45}$C $a_{0.55}$)[F $e_{0.5}$N $b_{0.5}$)$_{0.9}$S $n_{0.1}$] $O_3$were investigated to decrease the sintering temperature for usage of Low Temperature Co-firing Ceramics (LTCC). The (P $b_{0.45}$C $a_{0.55}$)[F $e_{0.5}$N $b_{0.5}$)$_{0.9}$S $n_{0.1}$] $O_3$ceramics was sintered at 11$65^{\circ}C$. In order to decrease the sintering temperature, CuO and Cuo-B $i_2$ $O_3$ were added in the (Pb,Ca)[(Fe,Nb)Sn] $O_3$ with CuO-B $i_2$ $O_3$. For the addition of 0.4 wt.% CuO, the sintered density and the dielectric constant of the ceramics were revealed the maximum values of the 6.06g/c $m^2$ and 83 respectively and temperature coefficient of resonance frequency ($\tau$$_{f}$) shifted to the positive value. As increasing B $i_2$ $O_3$to the (Pb,Ca)[(Fe,Nb)Sn] $O_3$ with CuO-B $i_2$ $O_3$with 0.2 wt.% CuO, the sintered density, the $\varepsilon$$_{r}$ and the Q was decreased, and $\tau$$_{f}$ was minimized at 0.2 wt.% CuO, and 0.2 wt.% B $i_2$ $O_3$. For this composition, dielectric properties were $\varepsilon$$_{r}$ of 81, Q. $f_{0}$ of 4400 GHz, and $\tau$$_{f}$ of 5 ppm/$^{\circ}C$ at sintering temperature of 100$0^{\circ}C$. the relationship between the microstructure and properties of ceramics was studied by X-ray diffraction(XRD), scanning electron microscopy(SEM).copy(SEM).oscopy(SEM).copy(SEM).EM).

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High Mobility Thin-Film Transistors using amorphous IGZO-SnO2 Stacked Channel Layers

  • Lee, Gi-Yong;Jo, Won-Ju
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2016.02a
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    • pp.258-258
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    • 2016
  • 최근 디스플레이 산업의 발전에 따라 고성능 디스플레이가 요구되며, 디스플레이의 백플레인 (backplane) TFT (thin film transistor) 구동속도를 증가시키기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다. 트랜지스터의 구동속도를 증가시키기 위해 높은 이동도는 중요한 요소 중 하나이다. 그러나, 기존 백플레인 TFT에 주로 사용된 amorphous silicon (a-Si)은 대면적화가 용이하며 가격이 저렴하지만, 이동도가 낮다는 (< $1cm2/V{\cdot}s$) 단점이 있다. 따라서 전기적 특성이 우수한 산화물 반도체가 기존의 a-Si의 대체 물질로써 각광받고 있다. 산화물 반도체는 비정질 상태임에도 불구하고 a-Si에 비해 이동도 (> $10cm2/V{\cdot}s$)가 높고, 가시광 영역에서 투명하며 저온에서 공정이 가능하다는 장점이 있다. 하지만, 차세대 디스플레이 백플레인에서는 더 높은 이동도 (> $30cm2/V{\cdot}s$)를 가지는 TFT가 요구된다. 따라서, 본 연구에서는 차세대 디스플레이에서 요구되는 높은 이동도를 갖는 TFT를 제작하기 위하여, amorphous In-Ga-Zn-O (a-IGZO) 채널하부에 화학적으로 안정하고 전도성이 뛰어난 SnO2 채널을 얇게 형성하여 TFT를 제작하였다. 표준 RCA 세정을 통하여 p-type Si 기판을 세정한 후, 열산화 공정을 거쳐서 두께 100 nm의 SiO2 게이트 절연막을 형성하였다. 본 연구에서 제안된 적층된 채널을 형성하기 위하여 5 nm 두계의 SnO2 층을 RF 스퍼터를 이용하여 증착하였으며, 순차적으로 a-IGZO 층을 65 nm의 두께로 증착하였다. 그 후, 소스/드레인 영역은 e-beam evaporator를 이용하여 Ti와 Al을 각각 5 nm와 120 nm의 두께로 증착하였다. 후속 열처리는 퍼니스로 N2 분위기에서 $600^{\circ}C$의 온도로 30 분 동안 실시하였다. 제작된 소자에 대하여 TFT의 전달 및 출력 특성을 비교한 결과, SnO2 층을 형성한 TFT에서 더 뛰어난 전달 및 출력 특성을 나타내었으며 이동도는 $8.7cm2/V{\cdot}s$에서 $70cm2/V{\cdot}s$로 크게 향상되는 것을 확인하였다. 결과적으로, 채널층 하부에 SnO2 층을 형성하는 방법은 추후 높은 이동도를 요구하는 디스플레이 백플레인 TFT 제작에 적용이 가능할 것으로 기대된다.

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