Statement of problem: Major objective in making on implant-supported prosthesis is the production of superstructure that exhibits a passive fit when connected to multiple abutments. One requirement to ensure passive fit is to make an accurate impression. Purpose : The purpose of this study was to compare the accuracy of master cast fabricated by using different impression methods at the different impression levels. Material and method: The master model used in this study was resin block having low implant analogs. Impression method studied were 1) direct method on fxiture level (Group FIX-D), 2) indirect method on fixture level(Group FIX-I), 3) modified indirect method on fixture level(Group FIX-M), 4) direct method on abutment level(Group AB-D) and 5) indirect method on abutment level(Group AB-I). Each of the five groups took 10 impressions. Fifty impressions were made for master cast by using Impregum $F^{(R)}$ impression material loaded on individual tray. Three dimensional measuring microscope was used to measure the inter-implant distance. Error rate of each inter-implant distance were calculated and evaluated. Results : The results were as follows. 1. Group FIX exhibited higher accuracy than group AB. 2. In group FIX, modified indirect method showed the highest accuracy, while indirect method showed the lowest accuracy. In group Ab, indirect method showed the higher accuracy than direct method. 3. Group FIX showed larger horizontal error than group AB. But, group AB showed the larger vertical error than group FIX. 4. Group Fix-M showed smallest vertical and horizontal error. Conclusion: An impression method have more effect on accuracy of master model than an impression level. A modified indirect method showed smallest vertical and horizontal error.
Purpose: The purpose of this study was to compare the accuracy of master cast fabricated by using different impression methods at the different impression levels. Material and Method: The master model used in this study was resin block having low implant analogs. Impression method studied were 1) direct method on future level (Group FIX-D), 2) Indirect method on fixture level(Group FIX-I), 3) Modified indirect method on fixture level(Group FD(-M), 4) Direct method on abutment level(Group AB-D) and 5) Indirect method on abutment level(Group AB-I). Each of the five groups took 10 impressions. Fifty impressions were made for master cast by using Impregum $F^(R)$ impression material loaded on individual tray. Three dimensional measuring microscope was used to measure the inter-implant distance. Error rate of each inter-implant distance were calculated and evaluated. Results: The results were as follows. 1. Group FIX exhibited higher accuracy than group AB. 2 In group FIX, modified indirect method showed the highest accuracy, while indirect method showed the lowest accuracy. In group Ab, indirect method showed the higher accuracy than direct method. 3. Group FIX showed larger horizontal error than group AB. But, group AB showed the larger vertical error than group FIX. 4. Group Fix-M showed smallest vertical and horizontal error.
In this paper, we consider derivation of an ordered ${\Gamma}$-semiring and introduce the notion of reverse derivation on ordered ${\Gamma}$-semiring. Also, we obtain some interesting related properties. Let I be a nonzero ideal of prime ordered ${\Gamma}$-semiring M and let d be a nonzero derivation of M. If ${\Gamma}$-semiring M is negatively ordered, then d is nonzero on I.
In this paper, we introduce the notion of multiplier of AC-algebra and consider the properties of multipliers in AC-algebras. Also, we characterized the fixed set $Fix_d(X)$ by multipliers. Moreover, we prove that M(X), the collection of all multipliers of AC-algebras, form a semigroup under certain binary operation.
The method of delays is widely used for reconstruction chaotic attractors from experimental observations. Many studies have used a fixed delay time ${\tau}_d$ as the embedding dimension m is increased, but this is not necessarily the best choice for obtaining good convergence of the correlation dimension. Recently, some researchers have suggested that it is better to fix the delay time window ${\tau}_w$ instead. Unfortunately, ${\tau}_w$ cannot be estimated using either the autocorrelation function or the mutual information, and no standard procedure for estimating ${\tau}_w$ has yet emerged. However, a new technique, called the C-C method, can be used to estimate either ${\tau}_d\;or\;{\tau}_w$. Using this method, we show that, for small data sets, fixing ${\tau}_w$, rather than ${\tau}_d$, does indeed lead to a more rapid convergence of the correlation dimension as the embedding dimension m in increased.
The method of delays is widely used fur reconstructing chaotic attractors from experimental observations. Many studies have used a fixed delay time ${\tau}_d$ as the embedding dimension m is increased, but this is not necessarily the best choice for obtaining good convergence of the correlation dimension. Recently, some researchers have suggested that it is better to fix the delay time window ${\tau}_w$ instead. Unfortunately, ${\tau}_w$ cannot be estimated using either the autocorrelation function or the mutual information, and no standard procedure for estimating ${\tau}_w$has yet emerged. However, a new technique, called the C-C method, can be used to estimate either ${\tau}_d{\;}or{\;}{\tau}_w$. Using this method, we show that, for small data sets, fixing ${\tau}_w$, rather than ${\tau}_d$, does indeed lead to a more rapid convergence of the correlation dimension as the embedding dimension m is increased.
This paper presents standards of asset division for transmission and distribution company. In this study, we fix 3 scenarios to divide asset into transmission and distribution company. We don't show accurate results for asset division but propose direction in asset division.
Wafer thickness of crystalline silicon is an important factor which decides a price of solar cell. PC1D was used to fix a condition that is required to get a high efficiency in a crystalline silicon solar cell using thin wafer($150{\mu}m$). In this simulation, base resistivity and emitter doping concentration were used as variables. As a result of the simulation, $V_{oc}$=0.6338(V), $I_{sc}$=5.565(A), $P_{max}$=2.674(W), FF=0.76 and efficiency 17.516(%) were obtained when emitter doping concentration is $5{\times}10^{20}cm^{-3}$, depth factor is 0.04 and sheet resistance is $79.76{\Omega}/square$.
An 1.8V 6bit IGSPS ADC for high speed data acquisition is discussed in this paper. This ADC is based on a flash ADC architecture because the flash ADC is the only practical architecture at conversion rates of IGSPS and beyond. A straightforward 6bit full flash A/D converter consists of two resistive ladders with 63 laps, 63 comparators and digital blocks. One important source of errors in flash A/D converter is caused by the capacitive feedthrough of the high frequency input signal to the resistive reference-lauder. Consequently. the voltage at each tap of the ladder network can change its nominal DC value. This means large transistors have a large parasitic capacitance. Therefore, a dual resistive ladder with capacitor is employed to fix the DC value. Each resistive ladder generates 32 clean reference voltages which alternates with each other. And a two-stage amplifier is also used to reduce the effect of the capacitive feedthrough by minimizing the size of MOS connected to reference voltage. The proposed ADC is based on 0.18${\mu}{\textrm}{m}$ 1-poly 6-metal n-well CMOS technology, and it consumes 307㎽ at 1.8V power supply.
논문은 밀리미터파 통신 및 레이더 응용을 위한 저손실 광대역 도파관 변환기를 제안한다. 기존 E-plane 프로브 변환기는 밀리미터파 대역에서 도파관 크기를 고려하여 매우 얇고 유연한 기판을 사용한다. 하지만, 이러한 기판은 휘어지기 쉬우며 이는 성능을 크게 저하시킨다. 이러한 문제점을 해결하기 위하여 변환기 프로브가 도파관 벽면 틈에 삽입되어 고정되는 연장된 E-plane 프로브 구조를 제안하고, 두께가 $127{\mu}m$이고 유전율 2.2인 기판을 사용하여 제작하였다. W-대역 (75-110 GHz)에서 측정된 백투백(back-to-back) 변환기의 삽입 손실은 3cm 길이 도파관을 포함하여 1.35 dB (${\pm}0.35dB$)이며, 반사 손실은 13.8 dB 이상으로 아주 우수한 특성을 보였다. 따라서, 제안된 변환기는 밀리미터파 초고속 흉신 또는 고감도 레이다에 효과적으로 활용될 수 있다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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