Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.15
no.6
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pp.486-491
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2002
We have fabricated $Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_3O_12$ (BLT) thin films on the Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrates using a metalorganic decomposition (MOD) method with annealing temperature from $550^{\circ}C$ to $750^{\circ}C$. The structural properties of BLT films examined by x-ray diffraction (XRD). From XRD analysis. BLT thin films show polycrystalline structure. The layered-perovskite phase was obtained by spin-on films at above $600^{\circ}C$ for 1h. Scanning electron microscopy (SEM) showed uniform surface composed of rodlike grains. The grain size of BLT films increased with increasing annealing temperature. The BLT film annealed at $650^{\circ}C$ was measured to have a dielectric constant of 279, dielectric loss of 1.85(%), remanent polarization of $25.66\mu C/\textrm{cm}^2$, and coercive field of 84.75 kV/cm. The BLT thin films showed little polarization fatigue test up to $3.5{\times}10^9$ bipolar cycling at 5 V and 100 kHz.
Bi-layered SrBi2Ta2O9(SBT) films were deposited on Pt/Ti/SiO2/Si sibstrates by rf magnetron sputt-ering at room temperature and then were annealed at 75$0^{\circ}C$, 80$0^{\circ}C$ and 85$0^{\circ}C$ for 1 hour in oxygen at-mosphere. The film composition of SrBi2Ta2O9 was obtained after depositing at room temperature and annealing at 80$0^{\circ}C$. Excess 20mole% Bi2O3 and 30 mole% SrCO3 were added to the target to compensate for the lack of Bi and Sr in SBT film. 200 nm thick SBT film exhibited and dense microstructure, adielectric constant of 210, and a dissipation factor of 0.05 at 1 MHz frequency. The films exhibited Curie temperature of 32$0^{\circ}C$ and a dielectric constant of 314 at that temperature under 100 kHz frequency. The remanent polarization(2Pr) and the coercive field(2Ec) of the SBT films were 9.1 $\mu$C/$\textrm{cm}^2$ and 85 kV/cm at an applied voltage of 3V, resspectively and the SBT film showed a fatigue-free characteristics up to 1010 cy-cles under 5V bipolar pulse. The leakage current density of the SBT film was about 7$\times$10-7A/$\textrm{cm}^2$ at 150 kV/cm. Fatigue-free SBT films prepared by rf magnetron sputtering can be suitable for application to non-volatile memory device.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2001.11a
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pp.565-568
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2001
We have fabricated $Bi_{3.25}$$La_{0.75}$ti$_3$O$_{12}$ (BLT) thin(200nm) films on the Pt/Ti/SiO$_2$/Si substrates using a MOD(Metalorganic decomposition) method with annealing temperature from 55$0^{\circ}C$ to 75$0^{\circ}C$. The structural properties of the films examined by x-ray diffraction. The layered-perovskite phase obtained above $600^{\circ}C$. Scanning electron micrographs showed uniform surface composed of rodlike grains. The grain size increased with increasing annealing temperature. The BLT thin films showed little polarization fatigue test up to 3.5x10$^{9}$ bipolar cycling at a 5V and 100kHz.kHz.
The crystal structure and ferroelectricity of the $(1-x)BiFeO_3\;(BF)-xPbTiO_3$ (PT) ceramic system with the addition of $DyFeO_3$ (DF) have been investigated for attaining a high temperature piezoelectric material. This study is focused on the relation between crystal structure and ferroelectric property with the addition of DF over the phase boundary in the (1-x)BF-xPT system. Hysteresis curves of polarization-electric field at room temperature have been measured. The X-ray and neutron diffraction data were analyzed by the rietveld refinement method. The addition of 0.1 mole DF into BF-PT system greatly increases the ferroelectric remanant polarization Pr values, e.g. 17 ${\mu}C/cm^2$ in 0.6BF-yDF-(0.4-y)PT and 31${\mu}C/cm^2$ in 0.5BF-yDF-(0.5.y)PT, respectively. The improved Pr value has been discussed in relation with crystal structure and electrical property.
Malik, Rizwan Ahmed;Hussain, Ali;Maqbool, Adnan;Zaman, Arif;Song, Tae Kwon;Kim, Won Jeong;Kim, Myong Ho
Korean Journal of Materials Research
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v.25
no.6
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pp.288-292
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2015
New lead-free piezoelectric ceramics $0.96[\{Bi_{0.5}(Na_{0.84}K_{0.16})_{0.5}\}_{1-x}La_x(Ti_{1-y}Nb_y)O_3]-0.04SrTiO_3$ (BNKT-ST-LN, where $x=y=0.00{\leq}(x=y){\leq}0.015)$ were synthesized using the conventional solid-state reaction method. Their crystal structure, microstructure, and electrical properties were investigated as a function of the La and Nb (LN) content. The X-ray diffraction patterns revealed the formation of a single-phase perovskite structure for all the LN-modified BNKT-ST ceramics in this study. The temperature dependence of the dielectric curves showed that the maximum dielectric constant temperature ($T_m$) shifted towards lower temperatures and the curves became more diffuse with an increasing LN content. At the optimum composition (LN 0.005), a maximum value of remnant polarization ($33C/cm^2$) with a relatively low coercive field (22 kV/cm) and high piezoelectric constant (215 pC/N) was observed. These results indicate that the LN co-modified BNKT-ST ceramic system is a promising candidate for lead-free piezoelectric materials.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.12
no.2
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pp.64-67
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2011
The effect of Ta substitution on the crystal structure, ferroelectric, and piezoelectric properties of $Bi_{0.5}(Na_{0.82}K_{0.18})_{0.5}Ti_{1-x}Ta_xO_3$ ceramics has been investigated. The Ta doping resulted in a transition from coexistence of ferroelectric tetragonal and rhombohedral phases to an electrostrictive pseudocubic phase, leading to degradations of the remnant polarization, coercive field, and piezoelectric coefficient $d_{33}$. However, the electricfield-induced strain was significantly enhanced by the Ta substitution-induced phase transition and reached a highest value of $S_{max}/E_{max}$ = 566 pm/V under an applied electric field 6 kV/mm when 2% Ta was substituted on Ti sites. The abnormal enhancement in strain was attributed to the pseudocubic phase with high electrostrictive constants.
$BiFeO_3/Pb(Zr_{0.52}Ti_{0.48})O_3$(BFO/PZT) multilayer thin films have been prepared on a Pt/Ti/$SiO_2$/Si(100) substrate by chemical solution deposition. BFO single layer, BFO/PZT bilayer and multilayer thin films were studied for comparison. X-ray diffraction analysis showed that the crystal structure of all films was multi-orientated perovskite phase without amorphous and impurity phase. The leakage current density at 500 kV/cm was reduced by approximately four and five orders of magnitude by bilayer and multilayer structure films, compared with BFO single layer film. The low leakage current density leads to saturated P-E hysteresis loops of bilayer and multilayer films. In BFO/PZT multlayer film, saturated remanent polarization of $44.3{\mu}C/cm^2$ was obtained at room temperature at 1 kHz with the coercive field($2E_c$) of 681.4 kV/cm.
Seo, Byeong-Ho;Kim, Do-Hyung;Lee, Yu-Hyong;Yoo, Ju-Hyun
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2008.11a
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pp.205-205
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2008
PZT 세라믹은 우수한 유전 및 압전특성을 갖고 있어 변압기, 센서 및 엑츄에이터 등에 널리 응용되고 있다. 그러나, 우수한 특성에도 불구하고 PZT세라믹스의 소결시 PbO의 높은 유독성 및 휘발로 인하여 환경오염을 야기 시킨다. 그러므로 PbO로 구성된 세라믹을 대체하기 위한 우수한 압전특성을 가진 비납계 세라믹스 개발이 연구의 주류를 이루고 있다. 그 중 비납계 NKN와 BZT는 대체물질로 많이 관심을 받고 있다. 이는 일반적인 NKN조성은 우수한 압전성과 높은 큐리온도를 가지고 있을 뿐만 아니라, BZT조성의 Zr성분이 큐리온도를 낮추거나 유전특성을 졸게 하여 유전율 곡선을 완화하게 하는 특징이 있다. 하지만 NKN은 $1140^{\circ}C$이상의 소결온도에서 K의 휘발특성으로 인해 소성 후에도 주변의 수분을 흡수하는 조해성이 발생하는 문제가 발생한다. 그래서 본 연구에서는 낮은 온도에서 NKN계 세라믹스의 밀도를 증가시킬 뿐만 아니라, 우수한 유전 및 압전특성을 갖는 세라믹스를 제조하고자 비납계 $0.94(K_{0.5}Na_{0.5})NbO_3-0.06Ba(Zr_{0.05}Ti_{0.95})O_3$ (NKN-BZT)의 조성을 사용하였고 소결조제로는 $MnO_2$, NiO, $Bi_2O_3$, ZnO, $Li_2CO_3$, CuO등을 변화주어 유전 및 압전 특성을 알아보았다.
The preparation of potassium hexatitanate whisker by flux method was investigated. In this study, 8 types synthesis of flux such as $V_2O_5$, $Bi_2O_3$, $B_2O_3$, $Pb_3O_4$, KCl, $K_4P_2O_7$, $K_2WO_4$ and $K_2MoO_4$ were tested to find a suitable flux for the synthesis of potassium hexatitanate whisker. Effects of various reaction variables such as reaction temperature, time, $TiO_2$ mole ratio to $K_2CO_3$, flux mole ratio to the mixture of $K_2CO_3$ and $TiO_2$, and slow-cooling treatment on the crystallization of potassium hexatitanate whisker were investigated. $K_2MoO_4$ and $K_2WO_4$ were better flux than others tested for the synthesis of potassium hexatitanate. In the presence of $K_2MoO_4$ or $K_2WO_4$ flux, the optimum condition for the synthesis of potassium hexatitanate whisker was that reaction temperature of $1000{\sim}1100^{\circ}C$, reaction time of 5 hours, $TiO_2$ mole ratio to $K_2CO_3$ of 6.0, and flux mole ratio to mixture ($K_2O+nTiO_2$) of 4.0. Slow-cooling treatment showed good effect on the growth of long fibrous potassium hexatitanate.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2004.11a
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pp.264-267
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2004
[ $Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_3O_{12}$ ] (BLT) thin films were prepared by using metal organic decomposition method onto the $LaNiO_3$ (LNO) bottom electrode. Both the structure and morphology of the films were analyzed by x-ray diffraction (XRD) and atomic force microscope (AFM). Even at low temperatures ranging from 450 to $650^{\circ}C$, the BLT thinfilms were successfully deposited on LNO bottom electrode and exhibited (117) orientation. The BLT thin films annealed as low as $600^{\circ}C$ showed excellent ferroelectricity, higher remanent polarization and no significant degradation of switching charge at least up to $5{\times}10^9$ switching cycles at a frequency of 100 kHz and 5 V. For the annealing temperature of $600^{\circ}C$, the remanent polarization Pr and coercive field were $23.5\;C/cm^2$ and 120 kV/cm, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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