Graphene has a monolayer crystal structure formed with C-atoms and has been used as a base layer of HETs (hot electron transistors). Graphene HETs have exhibited the operation at THz frequencies and higher current on/off ratio than that of Graphene FETs. In this article, we report on the preliminary results of current characteristics from the HETs which are fabricated utilizing highly doped Si collector, graphene base, and 5 nm thin $Al_2O_3$ tunnel layers between the base and Ti emitter. We have observed E-B forward currents are inherited to tunneling through $Al_2O_3$ layers, but have not noticed the Schottky barrier blocking effect on B-C forward current at the base/collector interface. At the common-emitter configuration, under a constant $V_{BE}$ between 0~1.2V, $I_C$ has increased linearly with $V_{CE}$ for $V_{CE}$ < $V_{BE}$ indicating the saturation region. As the $V_{CE}$ increases further, a plateau of $I_C$ vs. $V_{CE}$ has appeared slightly at $V_{CE}{\simeq}V_{BE}$, denoting forward-active region. With further increase of $V_{CE}$, $I_C$ has kept increasing probably due to tunneling through thin Schottky barrier between B/C. Thus the current on/off ration has exhibited to be 50. To improve hot electron effects, we propose the usage of low doped Si substrate, insertion of barrier layer between B/C, or substrates with low electron affinity.
Negative-differential conductance (NDC) characteristics as well as negative-differential trans-conductance (NDT) characteristics have been observed in the room temperature I-V characteristics of Field-induced Inter-band Tunneling Effect Transistors (FITETs). These characteristics have been explained with inter-band tunneling physics, from which, inter-band tunneling current flows when the energy bands of degenerately doped regions align, and it does not flow when they don't. FITET is an SOI device and the body region is not directly connected to the external terminal. Therefore, Fermi energy in the body region is determined by electrical coupling among four regions - gate, source, drain and substrate. So, a quasi Fermi energy of the majority carriers in the floating body region can be changed by external voltages, and this causes the energy band movements in the body region, which determine whether the energy bands between degenerately doped junctions aligns or not. This is a key point for an explanation of NDT and NDC characteristics. In this paper, a quasi Fermi energy movement in the floating body region of FITET was investigated by a device simulation. This result was applied for the description of relation between quasi Fermi energy in the body region and external gate bias voltage.
Graphene have showed promising performance as electrodes of organic devices such as organic transistors, light-emitting diodes, and photovoltaic solar cells. In particular, among various organic materials of graphene-based organic devices, pentacene has been regarded as one of the promising organic material because of its high mobility, chemical stability. In the bottom-contact device configuration generally used as graphene based pentacene devices, the morphology of the organic semiconductors at the interface between a channel and electrode is crucial to efficient charge transport from the electrode to the channel. For the high quality morphology, understanding of initial stages of pentacene growth is essential. In this study, we investigate self-assembly of pentacene molecules on graphene formed on a 6H-SiC (0001) substrate by scanning tunneling microscopy. At sub-monolayer coverage, adsorption of pentacene molecules on epitaxial graphene is affected by $6{\times}6$ pattern originates from the underlying buffer layer. And the orientation of pentacene in the ordered structure is aligned with the zigzag direction of the edge structure of single layer graphene. As coverage increased, intermolecular interactions become stronger than molecule-substrate interaction. As a result, herringbone structures the consequence of higher intermolecular interaction are observed.
In this study, a new programming method, to minimize the generation of Si-SiO$_2$ interface traps of scaled SONOS flash memory as a function of number of program/erase cycles has been proposed. In the proposed programming method, power supply voltage is applied to the gate, forward biased program voltage is applied to the source and the drain, while the substrate is left open, so that the program is achieved by Modified Fowler-Nordheim (MFN) tunneling of electron through the tunnel oxide over source and drain region. For the channel erase, erase voltage is applied to the gate, power supply voltage is applied to the substrate, and the source and drain are open. A single power supply operation of 3 V and a high endurance of 1${\times}$10$\^$6/ prograss/erase cycles can be realized by the proposed programming method. The asymmetric mode in which the program voltage is higher than the erase voltage, is more efficient than symmetric mode in order to minimize the degradation characteristics of scaled SONOS devices because electrical stress applied to the Si-SiO$_2$ interface is reduced by short programming time.
In this study, a new programming method to minimize the generation of Si-SiO$_2$interface traps of SONOS nonvolatile memory device as a function of number of porgram/erase cycles was proposed. In the proposed programming method, power supply voltage is applied to the gate. forward biased program voltage is applied to the source and the drain, while the substrate is left open, so that the program is achieved by Modified Fowler-Nordheim(MFN) tunneling of electron through the tunnel oxide over source and drain region. For the channel erase, erase voltage is applied to the gate, power supply voltage is applied to the substrate, and the source and dram are left open. Also, the asymmetric mode in which the program voltage is higher than the erase voltage, is more efficient than symmetric mode in order to minimize the degradation characteristics or SONOS devices because electrical stress applied to the Si-SiO$_2$interface is reduced due to short program time.
KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications
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제5C권3호
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pp.111-114
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2005
Organic monolayers were fabricated onto Au(l l l) substrate by self-assembly method using dipyridinium. Also, organic single molecule in the organic monolayers was selected to measure the current-voltage (I-V) curves by using the ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy (UHV-STM). The organic molecule used in the experiment was dipyridinium dithioacetate, which contains thiol functional group and can be self-assembled easily onto Au(l l l) substrate. The concentration of dipyridinium dithioacetate for self-assembly procedure was I [mM/L]. To confirm the formation of self-assembled mono layers (SAMs), the differences of thickness of the self-assembled organic monolayers were observed by using an ellipsometer, and the morphology and I-V curves of the SAMs were investigated by using UHV-STM. The applied voltages were from -2 [V] to +2 [V], temperature was 300 [K]. The vacuum for measuring current of the organic single molecule was 6 $\times$ 10$^{-8}$ [Torr]. As a result, properties of the negative differential resistance (NDR) in constant voltage were found.
KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications
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제5C권3호
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pp.115-118
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2005
Currently, molecular devices are reported utilizing active self-assembled monolayers (SAMs) containing the nitro group as the active component, which has active redox centers [1]. SAMs are ordered molecular structures formed by the adsorption of an active surfactant on a solid surface. The molecules will be spontaneously oriented toward the substrate surface and form an energetically favorable ordered layer. During this process, the surface-active head group of the molecule chemically reacts with and chemisorbs onto the substrate In this paper, the electrical properties of the 4'4- di(ethynylphenyl)-2'-nitro-1-benzenethiolate was confirmed. This material is well known as a conducting molecule having possible application to molecular level negative differential resistance (NDR) device. To deposit the self-assembly monolayers onto the gold electrode, the prefabricated Au(1 l l) substrates were immersed into 0.5[mM/l] self-assembly molecule in THF solution. Then, the electrical properties and surface morphologies of 4' 4-di(ethynylphenyl)-2' -nitro-1-benzenethiolate were measured by using the ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy (UHV-STM).
The metallic nanoparticles (Pt, Au, Ag. Cu, etc.) supported on ceria-titania mixed oxide exhibit a high catalytic activity for the water gas shift reaction ($H_2O\;+\;CO\;{\leftrightarrow}\;H_2\;+\;CO_2$) and the CO oxidation ($O_2\;+\;2CO\;{\leftrightarrow}\;2CO_2$). It has been speculated that the high catalytic activity is related to the easy exchange of the oxidation states of ceria ($Ce^{3+}$ and $Ce^{4+}$) on titania, but very little is known about the ceria titanium interaction, the growth mode of metal on ceria titania complex, and the reaction mechanism. In this work, the growth of $CeO_x$ and Au/$CeO_x$ on rutile $TiO_2$(110) have been investigated by Scanning Tunneling Microscopy (STM), Photoelectron Spectroscopy (PES), and DFT calculation. In the $CeO_x/TiO_2$(110) systems, the titania substrate imposes on the ceria nanoparticles non-typical coordination modes, favoring a $Ce^{3+}$ oxidation state and enhancing their chemical activity. The deposition of metal on a $CeO_x/TiO_2$(110) substrate generates much smaller nanoparticles with an extremely high activity. We proposed a mechanism that there is a strong coupling of the chemical properties of the admetal and the mixed-metal oxide: The adsorption and dissociation of water probably take place on the oxide, CO adsorbs on the admetal nanoparticles, and all subsequent reaction steps occur at the oxide-admetal interface.
We have fabricated Cr nanodot Schottky diodes utilizing AAO templates formed on n-Si substrates. Three different sizes of Cr nanodots (about 75.0, 57.6, and 35.8 nm) were obtained by controlling the height of the AAO template. Cr nanodot Schottky diodes showed a rectifying behavior with low SBHs of 0.17~0.20 eV and high ideality factors of 5.6~9.2 compared to those for the bulk diode. Also, Cr nanodot Schottky diodes with smaller diameters yield higher current densities than those with larger diameters. These electrical behaviors can be explained by both Schottky barrier height (SBH) lowering effects and enhanced tunneling current due to the nanoscale size of the Schottky contact. Also, we have fabricated Cr-Si nanorod Schottky diodes with three different lengths (130, 220, and 330 nm) by dry etching of n-Si substrate. Cr-Si nanorod Schottky diodes with longer nanorods yield higher reverse current than those with shorter nanorods due to the enhanced electric field, which is attributed to a high aspect ratio of Si nanorod.
Charge transfer between STM tip and Au(100) has been investigated by using a Scanning Tunneling Microscopy (STM) technique in dry, $H_2O$, and $D_2O$ atmospheres. Dry atmosphere was indicated by humidity as low as 5 % and high humidity as high as 98% was managed by injecting $H_2O$ and $D_2O$ to the chamber. The current decayed more slowly in high humidity than in dry atmosphere. The plateau currents were found to appear at separations larger than ca. $5{\AA}$ where the current decay stopped depending on applied bias voltages. The polarity dependence was observed at the STM junction between Pt-Ir tip and the gold. On the contrary, little dependence was seen at the one between Au tip and the substrate electrode.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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