Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.4
no.4
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pp.18-21
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2003
Sol-gel processing of $BaTiO_3$ ceramics doped with La(0.01-1.00 at. $\%$) were prepared from metal barium, titanium n-butoxide and lanthanum iso-propoxide. Characterization of the sol-gel-derived powder using XRD, SEM is also reported. The obtained results showed that insulator to semiconductor transition for highly donor-doped barium titanate was closely related to the incorporation of donor into the grains and to the resultant grain size, which were significantly affected by the sinterability of $BaTiO_3$ powders and sintering conditions used.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1996.11a
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pp.139-142
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1996
X/40/60 PLZT thin films were prepared by sol-gel processing and annealed by rapid thermal annealing(RTA). X/40/60 PLZT thin films were crystallized at 75$0^{\circ}C$ for 5min by RTA. Hysteresis curves were narrowed and coercive field was decreased from 50kV/cm to 31.2 kV/cm and remnant polarization was also decreased from 14.3$\mu$C/$\textrm{cm}^2$ to 6.72$\mu$C/$\textrm{cm}^2$ as La mol% increased. Dielectric constanat and optical transmittance were increased with increasing La mol%.
Crack-free and homogeneous com ceramic and epitaxial lead zirconate titanat ferroelectric thin films with perovskite structure been prepared by sol-gel processing. Ti-isoprop and lead acetate trihydrate and zirconium-pro are used raw materials. EAcAc is used as a cat 2-Methoky ethanol is used as a solvent annealing temperatures of the thin films are 0$^{\circ}C$.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.11
no.1
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pp.57-61
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1998
In this study, PLZT stock solutions were prepared by Sol-Gel processing after the compositions were selected in the memory region of PLZT bulk phase diagram. PLZT solutions were deposited on the ITO glass substrate by spin-coating method. The thin films were annealed by rapid thermal processing. The electric characteristics, hysteresis loop, C-V characteristics of thin films in the memory region were measured in order to investigate the electrical characteristics of PLZT thin films. In selected compositions the decrease in Zr/Ti ratio led to an increase in dielectric constant and the decrease in remanent polarization and coercieve field which brought about slim hysteresis loop.
Journal of information and communication convergence engineering
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v.1
no.1
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pp.31-34
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2003
Sol-gel processing of $BaTiO_{3}$ ceramics doped with La (0.01∼1.00 at.%) were prepared from metal barium, titanium n-butoxide and lanthanum isopropoxide. Characterization of the sol-gel-derived powder using XRD, SEM is also reported. The obtained results suggested that insulator to semiconductor transition for highly donor-doped barium titanate was closely related to the incorporation of donor into the grains and to the resultant grain size, which were significantly affected by the sinterability of $BaTiO_{3}$ powders and sintering conditions used.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1997.11a
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pp.48-51
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1997
(Pb. La)TiO$_3$ thin films were fabricated by sol-gel Processing and spin-coated on the Pt substrate. The spin-coated PLT films were sintered at 75$0^{\circ}C$ for 5min by rapid thermal ann La content dependence of the electrical properties of the PLT thin films are discussed. Wit La mole% from 20 to 36mo1e%. the dielectric constant of the PLT thin films decreased f 570. P-E hysteresis loops changed from ferroelectric to paraelectric. and the charge storage charging time decreased. The Curie Point decreased with increasing La content. The leak density also decreased and La 36mo1% species shows mood characteristics less than 10- electric field 500 (KV/cm) Because of the broad range of composition-controlled ferroelectric PLT thin films are suitable for memory application.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.05c
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pp.287-290
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2003
Sol-gel processing of $BaTiO_3$ ceramics doped with La(0.01~1.00 at.%) were prepared from metal barium, titanium n-butoxide and lanthanum iso-propoxide. Characterization of the sol-gel-derived powder using XRD, SEM is also reported. The obtained results showed that insulator to semiconductor transition for highly donor-doped barium titanate was closely related to the incorporation of donor into the grains and to the resultant grain size, which were significantly affected by the sinterability of $BaTiO_3$ powders and sintering conditions used.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1997.11a
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pp.52-55
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1997
In this study, PLZT stock solutions were prepared by sol-gel processing to fabricate PLZT thin films. The stock solutions were spin-coated on ITO-glass and the film were annealed by rapid thermal annealing(RTA). The variation of tile crystallographic structure of the thin films and the phase transition with respect to it were observed using Raman spectra. Raman result showed that the band of spectra are broad as the amount of Zr substitution increased and specially, abrupt change occurs in the raman spectra upon crossing the tetragonal-rhombohedral phase boundry at 2/55/45 PLZT thin film. So, the fact that the crystallographic structure was transitted from tetragonal to rhombohedral structure was certified.
Thin films of Ag-SiO2-TiO2 composite oxides with SiO2/TiO2 of 20/80 molar compositions were prepared by the sol-gel method, using tetraethylorthosilicate (TEOS) and titanium isopropoxide (TIP) as precursors. Ag-SiO2-TiO2 films coated on commercial glass substrates have successfully been synthesized using sol-gel method. The Ag-SiO2-TiO2 film with 0.5% Ag-added concentration and 20 mol% SiO2-mixture gives optimal results on crystalline structure, optical property, surface area, and photochromic property. Absorption near the wavelength of the incident light decreased gradually. The reversibility of the two-photon writing process in Ag-SiO2-TiO2 film is clearly seen.
Stable PZT coating sol was prepared using chelating agent, ethylacetoacetate(EAcAc) by sol-gel processing under ambient atmosphere. Through FT-IR spectrum analysis on solution of each reaction step, formation of metal complex was confirmed and prepared PZT sol was stable over several months. Through TG-DTA, XRD, FT-IR spetrum analysis of PZT gel powder, it was understood that the addition of EAcAc could reduce the transition temperature to ferroelectric phase, due to the increased homogeneity by matching the hydrolysis and condensation rates by chelation. Single perovskite phase was obtained by the heat-treatment at 54$0^{\circ}C$ for 30 min. The film was coated on ITO-coated glass substrate by dip coating method. After heat-treatment, PZT thin film had thickness in the range of 20~130 nm. The maximum dielectric constant of its thin film at room temperature and 1 kHz was 128.
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