본 논문에서는 비교적 큰 규모의 불규칙 조면에 의한 산란 특성을 예측하기 위해 ray tracing 기법을 적용하였다. 전자계를 평가하기 위하여, 회절 레이(ray)에 대해서 knife edge 회절에 의한 회절 계수를 사용하였고, 반사 레이에 관해서는 Fresnel의 반사 계수를 사용하였다. 또한 레이 추적 방법에는 수신기에 도달하는 모든 레이의 경로를 정확히 찾아주는 image method를 채용하였으며, 불규칙 조면에 회절계를 고려하였다. 파도 모양의 조면에 의한 산란 특성과 빌딩 모양의 표면에 의한 지연 확산(delay spread) 특성에 대해 수치 계산하였다. 불규칙 조면에 의한 산란 특성을 수치적으로 해석하는데 ray tracing 기법을 적용하여 그 유효성을 입증하였다.
With an attempt to enhance the visibility of laser beam, we have investigated a black matrix with scattering particles by ray tracing simulations. As the scattering particle density is increased, the detected power by the receiver is increased, thereby enhancing the visibility. In reality, the visibility is reduced with increasing incident angle (away from the normal incidence) of laser beam, a phenomenon also observed by ray tracing simulations. It is due to the fact that the mean path is increased within a highly absorptive BM layer or a smaller number of rays hit the BM area when the incident angle is high. Embedding a number of scattering particles into BM may bring in crosstalk among pixels. However, it is negligible because scattered rays inside highly absorptive BM are re-scattered due to the high scattering particle density, decreasing the power of scattered rays into the active areas.
When X-rays were projected into a patient, there occured the phenomena such as penetration, absorption and scattering etc. The penetrating rays were recorded on films as X-ray image used for diagnosis but scattered rays caused the radiation hazard both to the patient, specialist and technicians. The soft tissue includes many organs which are sensitive to the radiation and in may occupy $40{\sim}50%$ of body weight. Therefore X-rays should be carefully projected to the patient and it is strongly recommended to analyse the distribution of X-rays, when ever the patient is exposed to X-rays. In this study, the distribution of X-ray according to the thickness, the radiation field and the tube voltages (kVp) in soft tissue, the following results were obtained: 1. Total transmitted rays which kept the step with X-ray tube voltage (kVp) increased in proportion to the increasing of X-ray tube voltage. 2. The scattered ray rate in the total transmitted ray was not significantly found with X-ray tube voltage. 3. The affecting factors of the scattered ray rate in total transmitted ray were shown through the radiation field and the thickness. 4. The dose of scattered ray by the angle was observed more in direction of primary ray ($0^{\circ}$) and back scattering ($160^{\circ}$) than in direction of $90^{\circ}$. 5. The more the distance from phantom to the patient should be less distribution of scattered ray.
본 연구는 손, 머리, 복부 등의 X선 촬영 시에 발생되는 공간선량이 어느 정도인지를 알아보고, 산란선에 의한 공간선량의 강도가 "거리 역자승 법칙"에 의해 감쇠하는지를 파악했다. 첫째, 손처럼 X선 산란선 발생량이 적은 촬영의 공간선량은 대부분 "거리 역자승 법칙"에 근접한 감쇠가 이루어지면서, 2m 거리에서는 전혀 측정되지 않았다. 둘째, 머리나 복부처럼 X선 산란선 발생량이 많은 촬영의 공간선량은 조사야 중심을 기준으로 30cm에서 1m 거리까지는 "거리 역자승 법칙"보다 더 높은 비율의 감쇠가 이루어지고, 1m에서 2m 거리까지는 "거리 역자승 법칙"에 의한 감쇠가 이루어졌다. 따라서 X선 촬영실 내에서는 손 촬영의 경우 조사야 중심으로부터 적어도 2m 이상 떨어져 있어야 하고, 머리나 복부 촬영의 경우 촬영실 내 모든 공간에서 보호용구를 이용한 X선 피폭 방어조치가 요구된다.
PET/CT is a medical equipment that detects 0.511 MeV of gamma rays. The radiation workers are inevitably exposed to ionizing radiation in the process of handling the isotope. Accordingly, PET/CT workers use syringe shields made of lead and tungsten to protect their hands. However, lead and tungsten are known to generate very high scattering particles by interacting with gamma rays. Therefore, in this study, we tried to find out the effect on the scattering particles emitted from the syringe shield. In the experiment, first, the exposure dose to the hand (Rod phantom) was evaluated according to the metal material (lead, tungsten, iron, stainless steel) using Monte Carlo simulation. The exposure dose was compared according to whether or not plastic is attached. Second, the exposure dose of scattering particles was measured using a dosimeter and lead. As a result of the experiment, the shielding rate of plastics using the Monte Carlo simulation showed the largest difference in dose of about 40 % in lead, and the lowest in iron, about 15 %. As a result of the dosimeter test, when the plastic tape was wound on lead, it was found that the reduction rate was about 15 %, 28 %, and 39 % depending on the thickness. Based on the above results, it was found that 0.511 MeV of gamma ray interacts with the shielding tool to emit scattered rays and has a very large effect on radiation exposure. However, it was considered that the scattering particles could be sufficiently removed with plastics with a low atomic number. From now on, when using high-energy radiation, the shielding tool and the skin should not be in direct contact, and should be covered with a material with a low atomic number.
흡수계수가 매우 낮은 비정질 재료의 구조 해석을 하기 위하여 표준 X선 회절 기법을 이용했을 때, 시료의 측정된 X선 회절 강도에는 다중 산란에 의해 발생하는 X선 강도가 상당히 포함된다. 비정질 SiO2와 B2O3에서 사용되는 빔의 종류에 따라 발생하는 다중 산란 빔의 강도를 산출해 주는 컴퓨터 프로그램을 작성하였다. 여러 종류의 X선 빔과 시료 SiO2와 B2O3의 조합을 작성된 컴퓨터 프로그램을 도입하였을 때, 2$\theta$=0~180$^{\circ}$의 범위에서 시료 SiO2의 단일 산란 빔에 대한 다중 산란 빔의 강도 비는 CuK$\alpha$빔; 0.10~0.16%, MoK$\alpha$빔; 0.98~5.87%, AgK$\alpha$빔; 1.88~17.86%로 계산되어졌고, 시료 B2O3에 대한 단일 산란 빔에 대한 다중 산란 빔의 강도 비는 CuK$\alpha$빔; 0.27~0.54%, MoK$\alpha$빔; 2.30~19.69%, AgK$\alpha$빔; 3.96~53.83%로 계산되어졌다. 따라서, X선 회절 기법을 이용하여 비정질 SiO2와 B2O3의 구조 해석에 있어서는, MoK$\alpha$빔 및 AgK$\alpha$빔에서 측정된 X선 회절 강도는 다중 산란 효과에 대해서 반드시 교정하여야 한다.
The SBR technique is one of the asymptotic high frequency method, where a dense grid of rays are launched and traced to analyze the scattering properties of the target. In this paper, we propose an accelerated SBR technique using grouping a central ray and 8 surrounding rays around the center ray. First, launched rays are grouped into groups consisting of a central ray and 8 surrounding rays. After the central ray of each group is preferentially traced, 8 surrounding rays are rapidly traced using the information of ray tracing for the central ray. Simulation result of scattering analysis for CAD models verifies that the proposed method reduces the computational time without decreasing the accuracy.
Recently, nanostructure and the molecular orientation of organic thin films have been largely paid attention due to its importance in organic electronics such as organic thin film transistors (OTFTs), organic light emitting diodes (OLEDs), and organic photovoltaics (OPVs). Among various methods, the diffraction and scattering techniques based on synchrotron x-rays have shown powerful results in organic thin film systems. In this work, we introduce the in-situ annealing system installed at PLS-II (Pohang Light Source II) for organic thin films by simultaneously conducting various x-ray scattering measurements of x-ray reflectivity, conventional x-ray scattering, grazing incidence wide angle x-ray scattering (GI-WAXS) and so on. Using the in-situ measurement, we could obtain real time variation of nanostructure as well as molecular orientation during thermal annealing in metal-phthalocyanine thin films. The variation of surface and interface also could be simultaneously investigated by the x-ray reflectivity measurement.
A ray-based approach is developed to calculate the scattering from inhomogeneous dielectric objects. This approach is a natural extension of the "shooting and bouncing ray(SBR)" technique developed earlier for calculating the radar cross section of cavity structures and complex targets. In this formulation, a dense grid of rays representing the incident field is shot toward the scatterer. The curved trajectory, amplitude, phase and polarization of the ray fields inside the inhomogeneous object are computed numerically based on the laws of geometrical optics. The contributions of the exting rays to the exterior scattered field are then calculated by using the equivalence principle in conjunction with " a ray-tube integration" scheme. The ray-based approach is applied for the effect of an arcjet plasma plume on satellite reflector performance and backscattering from inhomogeneous objects.
물질의 구조 특성파악에 많이 사용되는 X-선과 전자선에 대한 소스 원을 살펴보고 물질과의 반응을 atomic scattering factor의 항으로 설명하였다. 물질과의 회절을 역 격자 공간에서의 Ewald sphere로 설명하고 유한 크기의 소스 파장과 검출기의 효과도 함께 고려하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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