High Electrical Current Stressing Effects on the Failure Mechanisms of Austudbumps/ACFFlip Chip Joints (고전류 스트레싱이 금스터드 범프를 이용한 ACF 플립칩 파괴 기구에 미치는 영향)
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- Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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- 2003.11a
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- pp.195-202
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- 2003