본 연구에서는 3차원 다층 미세유체 디바이스를 제작하기 위한 접착제로서 불소화 에틸렌 프로필렌(fluorinated ethylene propylene, FEP) 나노입자를 연구하였다. FEP 분산 용액을 1500 rpm에서 30초 동안 단순 스핀 코팅하여 기판에 3 ㎛ 두께의 균일하게 분포된 FEP 나노 입자 층을 형성하였다. FEP 나노입자는 300 ℃에서 1시간 동안 열처리 후 소수성 박막으로 변형되었으며, FEP 나노입자를 이용하여 제작된 폴리이미드 필름 기반 미세유체 디바이스는 최대 2250 psi의 압력을 견디는 것을 확인하였다. 마지막으로 기존의 포토리소그래피로 제작하기 어려운 16개의 마이크로 반응기로 구성된 3차원 다층 미세유체 디바이스를 FEP가 코팅된 9개의 폴리이미드 필름을 간단한 1단계 정렬로 성공적으로 구현하였다. 개발된 3차원 다층 미세유체 디바이스는 화학 및 생물학의 다양한 응용을 위한 고속대량 스크리닝, 대량 생산, 병렬화 및 대규모 미세유체 통합과 같은 강력한 도구가 될 가능성이 있습니다.
In cofiring of multilayered alumina with tungsten, the change of camber with lamination condition was experimented and the effect of sintering shrinkage of alumina and tungsten was investigated. From the exact measurement of sintering shrinkage of tungsten thick film, as lamination pressure increased, the sintering shrinkage of alumina decreased but that of tungsten thick film was not changed. So it was though that the main factor which induced the sintering shrinkage difference between ceramics and metal with lamination condition was the change of sintering shrinkage of ceramics. In case of high lamination pressure, high green sheet density, the cofired specimen showed low camber due to low shrinkage difference between alumina and tungsten and there was a linear relation between camber and shrinkage difference. It was found that this shrinkage difference could change the thickness of tungsten film and the microstructure within via hole during cofiring.
Nano-multilayered, crystalline AlTiSiN thin films were deposited on WC-TiC-Co substrates by the cathodic arc plasma deposition. The deposited film consisted of wurtzite-type AlN, NaCl-type TiN, and tetragonal $Ti_2N$ phases. Their oxidation characteristics were studied at 800 and $900^{\circ}C$ for up to 20 h in air. The WC-TiC-Co oxidized fast with large weight gains. By contrast, the AlTiSiN film displayed superior oxidation resistance, due mainly to formation of the ${\alpha}-Al_2O_3$-rich surface oxide layer, below which an ($Al_2O_3$, $TiO_2$, $SiO_2$)-intermixed scale existed. Their oxidation progressed primarily by the outward diffusion of nitrogen, combined with the inward transport of oxygen that gradually reacted with Al, Ti, and Si in the film.
한국마이크로전자및패키징학회 2001년도 The IMAPS-Korea Workshop 2001 Emerging Technology on packaging
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pp.100-103
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2001
본 연구에서는 무전해도금으로 증착된 구리박막의 열적 및 접착특성에 관하여 고찰하였다. Si 기판에 MOCVD 방법으로 TaN 확산방지막을 증착한 후, 무전해 도금으로 구리박막을 증착하여 Cu/TaN/Si 다층구조를 제조공정하였다. 그리고, Ar 분위기에서 열처리시켰으며, 열처리온도에 따른 비저항 변화를 고찰함으로서 Cu/TaN/Si 계의 열적 특성을 분석하였다. 무전해도금 구리박막의 접착특성은 스크래치 테스트에 의해 평가하였으며, 열적 증착방법과 스퍼터 방법으로 증착된 구리 박막과 비교하였다. 스크래치 테스트 결과, 무전해도금 구리 박막의 접착력이 열적 증착과 스퍼터 방법으로 증착된 구리 박막보다 더 우수하였다.
일상적인 화학제품들의 사용량이 증가함에 따라 사용되었던 염료 폐기물 처리 또한 중요한 환경적인 문제로 대두되었다. 이러한 염료폐기물은 광촉매를 이용하여 분해시킬 수 있는데, 졸-겔 기술을 활용하면 매우 비용 효율적으로 광촉매를 합성할 수 있다. 졸-겔 기술은 나노스케일의 막 형성에도 상당히 유용하며 간단하게 다층구조를 형성할 수도 있다. 본 연구에서는 다양한 염료 분해에 효과가 있는 산화아연(ZnO) 이용하여 다중 회전도포 방법으로 다층구조(3층, 5층)를 가진 ZnO 막을 형성하였다. 성능비교를 위해 단일 회전도포 방법에 의한 단층구조를 가진 ZnO 막을 대조군으로 준비하였다. X선 회절분석기 및 에너지 분산 X선 분광계를 이용하여 ZnO의 구조 및 원소분석을 수행하였고, 주사전자현미경을 통해 나노선같은 표면형상을 관찰할 수 있었다. 추가적으로 UV-Vis 분광광도계를 활용하여 자외선의 흡수도를 측정하였다. 5층구조를 가진 ZnO 막이 단층 구조를 가진 ZnO 막에 비해 모의 메틸렌 블루를 49% 더 많이 분해하였다. 결론적으로, 다층구조를 가진 ZnO 는 메틸렌블루 염료를 더욱 효과적으로 분해하는 광촉매로써 유용하다는 알 수 있었다.
$CoFe_2O_4(CFO)/BaTiO_3(BTO)/CoFe_2O_4(CFO)$ multilayered thin films were deposited on $Pt/TiO_2/SiO_2/Si$ substrates by the pulsed laser deposition (PLD) system with KrF excimer laser (${\lambda}=248nm$). BTO, CFO, BTO/CFO and CFO/BTO/CFO structured thin films were prepared and their crystal structures and microstructures, as well as their magnetic and magneto-electrical properties, were studied. The C-V characteristics of these multilayered thin films with different capacitor structures were obtained to confirm the change in their capacitances under a magnetic field. Finally, the capacitance of the CFO/BTO/CFO thin film as a function of bias voltage under an in-plane magnetic field of 1,000 Oe increased to 951.04 pF at 1 MHz, from 831.90 pF measured under no magnetic field, indicating 14.3% increase in magnetocapacitance.
The magnetic properties of single- and poly-crystalline $La_{0.7}Sr_{0.3}MnO_3/Pr_{0.65}Ca_{0.35}MnO_3$ multilayered (ML) films, and composite (CP) $(La_{0.7}Sr_{0.3})_{0.5}(Pr_{0.65}Ca_{0.35}_{0.5}MnO_3$ films, prepared by laser ablation, have been investigated in a wide temperature range. It was shown that the transformation from an incoherent to a coherent interface in the ML films leads to an enhancement of the ferromagnetic coupling between layers and to a single-phase magnetic transition. The amorphous CP films demonstrate a paramagnetic behavior of the magnetization with a sharp peak at $T_{G}\approx$45 K, which was interpreted as the formation of Griffiths phase. A short-term annealing at $750^{\circ}C$ induced the complete crystallization of film, and a recovery of the ferromagnetic and the metal-insulator transitions.
Kim, Jung-Gi;Kim, Hyun-Joong;Jang, Ji-Young;Han, Kyung-Hunn
Journal of Magnetics
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제9권3호
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pp.79-82
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2004
The structure and magnetic properties of Fe-Ni-N/Cu multilayered films, prepared by the DC magnetron sputter, as a function of different thicknesses of Fe-Ni-N ($t_{FeNiN}$) and Cu ($t_Cu$) layers have been studied by the methods of x-ray diffraction and measurement of magnetic moment. It has been found that the enhancement of (200) orientation in Fe-Ni-N layers is observed at the ratio of layer thickness with about $t_{FeNiN}/t_{Cu}$$\underline{\simeq}$ 3.75. The reduction of magnetization due to the formation of interdiffusion near the interface is explained by means of the dead layer model. The temperature dependence of magnetization exhibits the feature of Blochs $T^{\frac{2}{3}}$ law. The layer thickness dependence of Curie temperature has been discussed by critical temperature theory of Heisenberg model.
3-gun 마그네트론 스퍼터 장치로 Co-Zr 다층 박막을 제작하여 저온 비정질화를 시도하였다. 박막 x-ray와 단면 투과 전자현미경 분석에 의해 지르코늄 층이 코발트의 확산에 의해 비정질화 됨과 그의 위쪽 계면의 지르코늄 비정질화 속도가 아래쪽 계면의 그것보다 두 내지 세배 빠른 것을 발견하였다. 이 현상은 스퍼터링 중의 분자 섞임으로 설명되었다.
The ZnS:Tb thin-film electroluminescent devices were grown by atomic layer deposition with utilizing single-layer aluminum oxide and/or multilayered tantalum aluminum oxide, $Ta_xAl_yO$, as upper and lower insulating layers. These devices were investigated in terms of the luminescent and electrical characteristics. From this analysis, the devices using the $Ta_xAl_yO$ instead of $Al_2O_3$ were observed to have a lower threshold voltage for emission due to the higher relative dielectric constant of $Ta_xAl_yO$ insulators than that of the $Al_2O_3$ device. And there was a large amount of dynamic space charge generation in the phosphor of the device with the $Ta_xAl_yO$ insulators seemingly due to electron multiplication such as trap ionization.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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