In this article, a historical and scientific review on the development of an ultrafast electron microscope is supplied, and the challenges in further improvement of time resolution under sub-picosecond or even sub-femtosecond scale is reviewed. By combining conventional scanning electron microscope and femtosecond laser technique, an ultrafast electron microscope was invented. To overcome its temporal resolution limit which originates from chromatic aberration and Coulomb repulsion between individual electrons, a generation of electron pulse via strong-field photoemission has been investigated thoroughly. Recent studies reveal that the field enhancement and field accumulation associated with the near-field formation at sharply etched metal nanoprobe enabled such field emission by ordinary femtosecond laser irradiation. Moreover, a considerable acceleration reaching 20 eV with near-infrared laser and up to 300 eV acceleration with mid-infrared laser was observed, and the possibility to control the amount of acceleration by varying the incident laser pulse intensity and wavelength. Such findings are noteworthy because of the possibility of realizing a sub-femtosecond, few nanometer imaging of nanostructured sample.in silicon as thermoelectric materials.
Lee, Sang-Won;Kim, Wi-Han;Jung, Young-Dae;Park, Min-Kyu;Kim, Jee-Hyun;Lee, Sang-In;Lee, Ho
Korean Journal of Optics and Photonics
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v.22
no.1
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pp.46-52
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2011
A confocal microscope was developed utilizing a scanning sample stage based on a home-built double-compound flexure guide. A scanning sample stage with nano-scale resolution consisted of a double leaf spring based flexure, a displacement amplifying lever, a Piezo-electric Transducer(PZT) actuator and capacitance sensors. The performance of the two-axis stage was analyzed using a commercial finite element method program prior to the implementation. A single line laser was employed as the light source along with the Photo Multiplier Tube(PMT) that served as the detector. The performance of the developed confocal microscope was evaluated with a mouse ear skin imaging test. The designed scanning stage enabled us to build the confocal microscope without the two optical scanning mirror modules that are essential in the conventional laser scanning confocal microscope. The elimination of the scanning mirror modules makes the optical design of the confocal microscope simpler and more compact than the conventional system.
The purpose of this study was to evaluate the effect of multiple application of all-in-one dentin adhesive system on microtensile bond strength using confocal laser scanning microscope and microtensile bond strength test. Flat occlusal dentin surfaces were prepared using low-speed diamond saw. In group I, Scotchbond Multipurpose (SM) was applied by manufacturer's recommendation. In group II, after Adper Prompt L-Pop was applied for 15s and light cured for 10s. the second coat was re-applied and light-cured. In group III, after light-curing the second layer. the third coat was re-applied and light-cured. Specimens bonded with a resin-composite were sectioned into resin-dentin stick for measuring the adhesive layer thickness by confocal laser scanning microscope and evaluating micro-tensile bond strength. The adhesive layers of three-step dentin adhesive system. 3 coats of Adper Prompt L-Pop had significantly thicker than SM. 2 coats of Adper Prompt L-Pop (p < 0.05). However. there was no significant differences in bond strengths between SM and 3 coats of Adper Prompt L-Pop (p > 0.05). And SM. 3 coats of Adper Prompt L-Pop had significantly higher than 2 coats of Adper Prompt L-Pop in bond strengths (p < 0.05).
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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v.30
no.12
s.255
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pp.1611-1617
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2006
A compact and two-dimensional atomic force microscope (AFM) using an orthogonal sample scanner, a calibrated homodyne laser interferometer and a commercial AFM head was developed for use in the nano-metrology field. The x and y position of the sample with respect to the tip are acquired by using the laser interferometer in the open-loop state, when each z data point of the AFM head is taken. The sample scanner which has a motion amplifying mechanism was designed to move a sample up to $100{\times}100{\mu}m^2$ in orthogonal way, which means less crosstalk between axes. Moreover, the rotational errors between axes are measured to ensure the accuracy of the calibrated AFM within the full scanning range. The conventional homodyne laser interferometer was used to measure the x and y displacements of the sample and compensated via an X-ray interferometer to reduce the nonlinearity of the optical interferometer. The repeatability of the calibrated AFM was measured to sub-nm within a few hundred nm scanning range.
Ng'ang'a, Douglas Kagoiya;Ali, Luqman;Lee, Yong Joong;Byeon, Clare Chisu
Current Optics and Photonics
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v.5
no.3
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pp.229-237
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2021
The capabilities of the near-field scanning optical microscope (NSOM) for obtaining high resolution lateral topographical images as well as for mapping the spectroscopic and optical properties of a sample below the diffraction limit of light have made it an attractive research field for most researchers dealing with optical characteristics of materials in nano scales. The apertured NSOM technique involves confining light into an aperture of sub-wavelength size and using it to illuminate a sample maintained at a distance equal to a fraction of the sub-wavelength aperture (near-field region). In this article, we present a setup for developing NSOM using a cantilever with a sub-wavelength aperture at the tip. A single laser is used for both cantilever deflection measurement and near-field sample excitation. The laser beam is focused at the apex of the cantilever where a portion of the beam is reflected and the other portion goes through the aperture and causes local near-field optical excitation of the sample, which is then raster scanned in the near-field region. The reflected beam is used for an optical beam deflection technique that yields topographical images by controlling the probe-sample in nano-distance. The fluorescence emissions signal is detected in far-field by the help of a silicon avalanche photodiode. The images obtained using this method show a good correlation between the topographical image and the mapping of the fluorescence emissions.
Purpose of this study is to quantitatively characterize the fracture roughness which was measured with a confocal laser scanning microscope. The roughness discrete data measured by confocal laser microscope were analyzed by spectral analysis and fast Fourier transform (FFT).The roughness data by used noise reduction filter were applied for fractal analysis to describe roughness features quantitatively. Artificial fractures created by Brazilian test on granites were used to measure fracture roughness under the confocal laser scanning microscope. Measurements were performed along three scan lines on each fracture surface. 36 scan lines were determined on 12 specimens in total. Features of roughness showed that coarse and medium grained granites tend to more rough features than those of fine grained granites. Continuous analog data of roughness is possible to described as discrete data of measure roughness with a fixed interval under the confocal laser microscope. Results of FFT with the measured data showed the highest values on the second harmonics. Distribution of average amplitude of second harmonics was observed 0.9853 in coarse grained granite, 1.0792 in medium grained granite and 0.6794 in fine grained granite. This indicates that the larger roughness has the higher energy of harmonics as the result of fractal analysis in low frequency zone.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.13
no.11
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pp.969-975
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2000
Laser direct writing of micro-patterned copper lines has been achieved by pyrolytic decomposition of copper formate films (Cu(HCOO)$_2$.4$H_2O$), as a metallo-organic precursor, using a focused CW Ar$^{+}$ laser beam (λ=514nm) on PCB boards and glass substrates. The linewidth and thickness of the lines wee investigated as a functin of laser power and scan speed. The profiles of the lines were measured by scanning electron microscope (SEM), surface profiler ($\alpha$-step) and atomic force measured by scanning electron microscope (SEM), surface profiler ($\alpha$-step) and atomic force microscopy (AFM). The electrical resistivities of the patterned lines were also investigated as a function of laser parameters using probe station and semiconductor analyzer. We compared resistivities of the patterned copper lines with these of the Cu bulk. Resistivities decreased due to changes in morphology and porosity of the deposit, which were about 3.8 $\mu$$\Omega$cm and 12$\mu$$\Omega$cm on PCB and glass substrates after annealing at 30$0^{\circ}C$ for 5 minutes.s.
An experimental investigation of the physical properties of light curing composite resin P-50 was performed, in which an argon ion laser beam was irradiated. The physical and mechanical properties of laser polymerized composite resin were determined by measuring the compressive strength, diametral tensile strength, curing depth and microhardness depending upon the experimental conditions such as the laser irradiation time(10sec, 20sec, 30sec) and laser power(300mW, 500mW, 1000mW). These observations were compared with a conventional visible light curing technique. In addition, to evaluate the marginal adaptation, Class V cavity was prepared on the buccal or lingual surface of the extracted premolar and filled with P-50 light curing resin. The test samples were irradiated with both light sources so that the interface between the restoration and the tooth structure were observed under scanning electron microscope. The most of physical and mechanical properties of the laser cured resin showed a remarkable improvement than those treated with the conventional light source, while the observations with the scanning electron microscope provided no significant difference for two polymerized sources. From the results in the experiment it appears that the potential of an argon ion laser is of important value of the use in the polymerization of composite resin.
A microscope is the fundamental research and diagnostic apparatus for clinical investigation of signaling transduction, morphological changes and physiological tracking of cells and intact tissues from patients in the biomedical laboratory science. Proper use, care and maintenance of microscope with comprehensive understanding in mechanism are fully requested for reliable image data and accurate interpretation for diagnosis in the clinical laboratory. The standard operating procedure (SOP) for light microscopes includes performance procedure, brief information of all mechanical parts of microscopes with systematic troubleshooting mechanism depending on the laboratory capacity. Maintenance program encompasses cleaning objective, ocular lenses and inner optics; replacement and calibration of light source; XY sample stage management; point spread function (PSF) measurement for confocal laser scanning microscope (CLSM); quality control (QC) program in fluorescent microscopy; and systematic troubleshooting. Laser safety is one of the concern for medical technologists engaged in CLSM laboratory. Laser safety guideline based on the laser classification and risk level, and advisory lab wear for CLSM users are also expatiated in this overview. Since acquired image data presents a wide range of information at the moment of acquisition, well-maintained microscopes with proper microscopic maintenance program are impulsive for its interpretation and diagnosis in the clinical laboratory.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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