Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제5권4호
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pp.153-157
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2004
ITO thin films were deposited on PET and soda-lime glass substrates by a dc reactive magnetron sputtering of In-Sn alloy metal target without substrate heater and post-deposition thermal treatment. The dependency of rf-bias voltage and substrate power during deposition processing was investigated to control the electrical and optical properties of ITO films. The range of rf bias voltage is from 0 to -80 V and the substrate power is applied from 10 to 50 W. The minimum resistivity of ITO film is 5.4${\times}$10$^{-4}$$\Omega$cm at 50 W power and rf-bias voltage of -20 V. The best transmittance of ITO films at 550 nm wavelength is 91 % in the substrate power of 30 W and rf-bias voltage of -80 V.
Indium tin oxide (ITO) films were prepared using radio frequency (RF) magnetron sputtering method, magnets were equipped near the target in the sputter to bring the plasma near the target. The effect of magnetic field that brings the plasma near the substrate was compared with that of substrate heating. The effect of substrate heating on the grain size of the ITO thin film was larger than that of the magnetic field. However, the grain size of the ITO thin film was larger when the magnetic field was applied near the substrate during the sputtering process than when the substrate was not heated and the magnetic field was not applied. If stronger magnetic field is applied near the substrate during sputtering, it can be expected that the ITO thin film with good electrical conductivity and high transparency is obtained at low substrate temperature. When magnetic field of 90 Gauss was applied near the substrate during sputtering, the mobility of the ITO thin film increased from 15.2 $cm^2/V.s$ to 23.3 $cm^2/V.s$, whereas the sheet resistivity decreased from 7.68 ${\Omega}{\cdot}cm$ to 5.11 ${\Omega}{\cdot}cm$.
전기적 특성을 가지는 4,4',4''-tris(N-(1-naphthyl)-N-phenylamino)-triphenylamine (1-TNATA)가 유기발광소자(OLED)에서 전극으로 사용되는 ITO (Indium Tin Oxide)와 홀 수송층(Hole Transport Layer, HTL) 사이에 박막으로 진공증착되었다. 분자배열이 잘 되어진 1-TNATA의 경우 ITO와 홀 수송층 사이의 계면에서 생기는 전하주입장벽을 줄임으로 소자의 안정성과 효율을 높여준다. 본 연구에서의 라만 스펙트라(Raman spectra) 분석 결과, 증착된 1-TNATA 박막의 열처리와 증착하는 동안 전자기장 처리에 의해서 박막이 집적되고 분자배열이 이루어짐을 확인하였다. 열처리를 한 경우 1-TNATA 박막으로의 전류 흐름이 25% 증가하였다. 또한, $110^{\circ}C$에서 열처리한 1-TNATA 박막으로 제조된 다층유기발광소자의 전원 효율과 발광효율이 향상되었다. 열처리한 박막이 전자기장으로 처리한 박막에 비해 높은 효율을 나타내었다.
Organic light emitting diode (OLED) 나 organic photovoltaic device (OPV)와 같은 유기소자에 전극으로 쓰이고 있는 indium tin oxide (ITO) 박막의 품질을 향상시키기 위해 수소 및 산소의 가스량을 조절하면서 rf power를 이용하여 ITO 박막을 증착한 후 전기적, 광학적 특성을 관찰하여 보았다. 또한 ITO 박막의 대면적화 및 양산화를 위하여 Roll to Roll 장비를 적용하였다. 산소 분율 0.3%에서 두께 180 nm 와 면저항 21 ohm/sq.를 나타냈으며 수소 분율 0.8%에서 두께 180 nm, 면저항 22 ohm/sq.이 관찰되었다. 또한 산소 분율 0.3%로 고정한 후 수소 분율을 변화시키며 관찰한 결과 수소분율 0.3%에서 두께 180 nm, 면저항 19 ohm/sq.를 나타내었다.
Park, Gye-Choon;Chung, Hae-Duck;Lee, Jin;Yang, Hyun-Hun;Jeong, Woon-Jo;Park, Jung-Yun;Lee, Kyung-Sup
한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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한국전기전자재료학회 2004년도 추계학술대회 논문집
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pp.13-14
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2004
Using Se as a photoconductive element and ZnS as a luminescent element, a Se/ZnS thin film device for light amplifier applications was fabricated and its characteristics were investigated At various conditions of substrate temperatures, heat treatment times, and heat treatment temperatures, Se thin films and ZnS thin films were separately deposited by an EBE(Electron Beam Evaporation) method of an high accuracy in deposition rates and the optimum fabrication conditions for the Se thin film and the ZnS thin film with a hexagonal structure were obtained The Se/ZnS thin film light amplifier was fabricated by evaporating the ZnS thin film on an ITO(Indium Tin Oxide) glass and the Se thin film on the ZnS thin film in sequence.
Laser direct patterning of indium tin oxide(ITO) is one of new methods of direct etching process to replace the conventional photolithography. A diode pumped Q-switched Nd:$YVO_4$ (${\lambda}$= 1,064 nm) laser was used to produce ITO electrode on various transparent oxide semiconductor films such as zinc oxide(ZnO). The laser direct etched ITO patterns on ZnO were compared with those on glass substrate and were considered in terms of the overlapping rate of laser beam. In case of the laser etching on double-layer, it was possible to obtain the higher overlapping rate of laser beam.
Thin films of PLZT were prepared on indium tin oxide(ITO) coated glass substrates by sol-gel process and annealed by rapid thermal annealing(RTA) at $750^{\circ}C$ for 5 minutes. The crystal structure of PLZT thin films were investigated for a different Zr mol% content. XRD results showed that the crystallographic structure was transitted from tetragonal to rhombohedral structure as Zr mol% increased. Raman spectroscopy results showed that the bands of spectra became broader as the amount of Zr mol% increased and two crystal phase coexisted at 2/55/45 PLZT film. Raman spectroscopy was useful for crystal structure analysis of PLZT thin films.
한국정보디스플레이학회 2002년도 International Meeting on Information Display
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pp.777-779
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2002
We report the performance of pentacene-based organic thin film transistors (OTFT) with PMMA (polymethyl methacrylate) as the gate insulator which was spin-coated on the ITO (indium tin oxide) glass substrate which was used as the gate contact. The pentacene thin film was deposited on the PMMA film and then Au source/drain contacts were deposited through shadow mask. The pentacene film shows better molecular ordering on PMMA compared with $SiO_2$ of Si wafer. The devices exhibited the field effect mobility of ${\sim}0.004cm^2$/Vs and on/off current ratio of ${\sim}10^3$.
한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
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pp.1430-1432
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2009
The effect of different annealing methods on the sheet resistance of indium tin oxide (ITO) on polyimide (PI) substrate has been investigated. As electro-annealing induced the predominant growth of crystallites of ITO thin films along (400) plane, the sheet resistance of ITO films that were electro-annealed for 2 mA at $180^{\circ}C$ considerably decreased from 50 to 28 ${\Omega}/cm^2$.
The optical and electrical properties of indium tin oxide (ITO) thin films deposited at room temperature can be substantially enhanced by adopting a two-step process. In the first step, the films (50 nm thick) were grown by pulsed laser deposition (PLD) on glass substrate at room temperature and quickly annealed at $400^{\circ}C$ in nitrogen ambient for 1 minute by using rapid thermal annealing method. The process was completed by additional deposition (150 nm thick) on annealed film at room temperature. High quality ITO films grown by two-step process at room temperature could be obtained with the resistivity of $3.02{\times}10^{-4}{\Omega}cm$, the carrier mobility of 32.07 $cm^2/Vs$, and the transparency above 90 % in visible region mainly due to the enhancement of the film crystallinity and the increase of grain size.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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